説明

株式会社リガクにより出願された特許

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【課題】簡易な構成でプレート状の画像記録体を均一に搬送し、画像記録体に記録された放射線画像を正確に読み取る。
【解決手段】プレート状の画像記録体Pに記録された放射線照射画像を読み取る放射線画像読取装置100であって、円筒面111A〜111Dで画像記録体Pの記録面を支持する記録体支持部110と、画像記録体Pの記録面を記録体支持部110の円筒面111A〜111Dに押し付けつつ、円筒面の軸方向Rへ画像記録体を搬送する搬送部120と、円筒面111A〜111D上に設けられ、搬送の際に画像記録体Pの辺縁を当てて用いられる基準ガイド113Aと、を備え、搬送された画像記録体Pに記録された放射線照射画像の読み出しと消去を連続して行う。これにより、画像記録体Pの搬送ミスを防止し、画像読み取り中の記録の脱落や破損を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】プリズムやミラーを不要にすることで装置の構成を簡略化し、かつレーザ光照射のための電力をリード線なしに供給する放射線画像読取ユニットおよび放射線画像読取装置を提供する。
【解決手段】プレート状の画像記録体に記録された放射線照射画像を読み取る放射線画像読取ユニット200であって、電力により回転駆動力を発生させる駆動部210と、回転駆動力が伝達され、画像記録体の一方の面を支持する円筒面の軸を中心軸として回転する回転部215と、回転部215の回転運動により回転する、励起光を照射する励起光照射部230と、励起光が画像記録体に照射されることで放射された輝尽光を検出する検出部240と、を備える。 (もっと読む)


【課題】FP法で基板上に点在する島状構造物について組成、高さおよび占有率をすべて定量できる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】基板1b上に島状構造物1cを有する試料1に1次X線6を照射するX線源3と、基板表面1aへの1次X線6の照射角度αを調整する照射角度調整手段5と、試料1からの蛍光X線7強度を測定する検出手段8と、島状構造物1cの組成、高さおよび占有率を仮定し、照射角度調整手段5により調整された照射角度αごとに、仮定した島状構造物1cの組成、高さおよび占有率に基づいて島状構造物1c中の各元素からの蛍光X線7の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段8で測定した測定強度とが合致するように、仮定した島状構造物1cの組成、高さおよび占有率を逐次近似的に修正計算して、島状構造物1cの組成、高さおよび占有率を算出する算出手段11とを備える。 (もっと読む)


【課題】エネルギー分解能が良好な1次元の位置感応型X線検出器を用いることで、受光側にモノクロメータを配置することなく、蛍光X線に起因するバックグラウンドを低減する。
【解決手段】入射X線28と回折X線30とのなす角度を変更しながら試料20からの回折X線30の強度をX線検出器10で検出する。X線検出器10はシリコン・ストリップ検出器であり、細長く延びる単位検出領域を複数個備えている1次元の位置感応型検出器である。この検出器は、受光したX線のうち、そのX線エネルギーが上限値と下限値の間にあるものだけを弁別する機能を備えている。CuKαにおけるエネルギー分解能は20%以下である。上述の上限値と下限値を適切に設定することで、蛍光X線の大半をカウントしないようにすることができて、本来の回折X線の強度をあまり下げずに、バックグラウンドを大幅に下げることができる。 (もっと読む)


【課題】長期間に渡って検出器用ガスの漏洩を防止することができ、取り扱いも容易なガスフロー型比例計数管を提供する。
【解決手段】内部に柱状の空間Sを有する筒状で、側面において柱状の空間Sが開口して窓Wとなっている本体1、本体1に導電性ゴム製で枠状のパッキン4を介して窓Wを覆うように取り付けられる窓箔5、窓枠6、フレーム8およびスリット9を備えている。窓枠6を介してフレーム8に取り付けられた窓箔5の内面5aが、フレーム8の内面の外周部8a1よりも凹入している。スリット9のスリット枠11に設けられた溝11aの底面11aaにフレーム8の外面8bが当接するように、フレーム8がスリット枠11に嵌め込まれ、パッキン4の弾力に抗して、フレーム8の内面の外周部8a1が、対向する本体1の窓Wの周辺部に当接するまで、スリット枠11がねじにより本体1に締め付けられる。 (もっと読む)


【課題】液体試料を前処理して含有成分を蛍光X線分析するために用いられる蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置において、蛍光X線分析用試料保持具からの不純線をなくし、バックグラウンドを抑制して検出限界を向上させるとともに分析精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】本発明の蛍光X線分析用試料保持具1は、液体試料Sを前処理して含有成分S1を蛍光X線分析するために用いられる蛍光X線分析用試料保持具1であって、輪状の台座2と、台座2に所定の張力で保持される周辺部3aおよびX線を透過させるための透過部3bを有する厚さ12μm以下の熱収縮性フィルム3とを備え、透過部3bに窪み3cが形成されており、透過部の窪み3cに液体試料Sが滴下されて乾燥されることにより、透過部3bが平坦になるとともに、含有成分S1を保持する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で試料への1次X線の入射角度の設定を自動的に行うことができる全反射蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】試料1の回転および傾き調整が可能なステージ18と制御手段24とを備えた全反射蛍光X線分析装置であって、試料1を180度回転させても、回転前と同じ強度I1 の基準X線5aが測定されれば、試料表面1aへの1次X線3の入射角度θも回転前と同じになっているという原理に基づいて、制御手段24により、ステージ18による回転の軸心Qとステージ表面2aの法線Pとのなす角度αおよびステージ表面2aと試料表面1aとのなす角度βからなる、理想状態からのずれ角度α+βを入射角度補正値Δφとして求め、入射角度θの設定にあたり入射角度補正値Δφを減じて補正する。 (もっと読む)


【課題】数μm程度の電子ビームの位置の変動の影響を受けることなく、10〜20μmφ程度の微小スポットの特性X線を低角度で安定して出射すること可能にしたX線発生装置を提供することにある。
【解決手段】内部を真空可能に構成した管本体と、該管本体内において電子ビームを発生する電子源と、前記管本体内に設けられ、前記電子源から出射される電子ビームが照射されることによりX線を発生するためのターゲット部材とを備えたX線発生装置において、
前記ターゲット部材3a、3bを、繰り返される複数の微小幅のストライプ状金属薄膜32を基材31、31aに埋め込んで形成し、前記電子ビームを前記特定のストライプ状金属薄膜に照射することにより前記特定のストライプ状金属薄膜から特性X線を低角度でX線窓12を通して外部に出射するように構成したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】試料内に含まれる複数の成分分子の存在量の判定を、解裂を伴わないイオン化処理を活用して、当該試料から得られるガスに基づいてリアルタイムで正確に判定できるようにする。
【解決手段】目的分子の存在量が未知である試料から得られたガスの重量を求める熱重量測定工程(S32)と、ガスをソフトイオン化処理によってイオン化して質量分析データI(m/z,t)を求め、この質量分析データに基づいてマスクロマトグラムを求め、このマスクロマトグラムのピーク波形の面積強度を求める面積強度測定工程(S33〜S40)と、熱重量測定工程で求めたガスの重量と面積強度測定工程で求めた面積強度とに基づいて目的分子の存在量を求める定量演算工程(S40)とを有するガス定量分析方法。 (もっと読む)


本発明は、少なくとも1つの周期内において個々の層がその表面に形成された基材を含む多層構造を提供する。周期は、珪化マグネシウム(MgSi)を含む第1の層と、タングステン、タンタル、コバルト、ニッケル、銅、鉄、クロム、及びこれらの元素の合金、酸化物、ホウ化物、珪化物及び窒化物、珪素、炭素,炭化珪素、ホウ素、及び炭化ホウ素の少なくとも1つを含む第2の層とを含む少なくとも2つの層と、を有する。周期が3つの層を含むものであれば、第2の層が珪素、炭素,炭化珪素、ホウ素、及び炭化ホウ素の1つを含み、第3の層がタングステン、タンタル、コバルト、ニッケル、銅、鉄、クロム、及びこれらの元素の合金、酸化物、ホウ化物、珪化物及び窒化物の1つを含み、第2の層は第1の層と第3の層の間に配置される。周期が4つの層を含むものであれば、第4の層は珪素、炭素,炭化珪素、ホウ素、及び炭化ホウ素の1つを含み、第3の層は第2の層と第4の層の間に配置され、第4の層が多層周期nの第3の層と多層周期n−1の第1の層との間に配置される。
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