株式会社リガクにより出願された特許

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【課題】結晶ウェハにより製造した3次元湾曲型X線反射レンズによる分光光学系により測角器を必要としない小型化に適した蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】X線源とX線結晶分光器とX線検出器によってなる蛍光X線分析装置であって、1方向の長さが25mm以上300mm以下で板状単結晶からなる3次元形状に湾曲した1枚のX線結晶分光器と、位置敏感かつエネルギー分解能力のあるX線検出器の少なくとも何れか一方を用いることにより、結晶分光器の角度走査をすることなくX線の分光波長帯域の蛍光X線分析を行う。 (もっと読む)


【課題】複数種類の測定データ及び解析データを取得できるX線分析装置において、データの内容とその内容をもたらした解析ソフトウエアとを簡単且つ正確に把握できるようにする。
【解決手段】複数の測定手法を実現できる機能を持ったX線分析装置1であり、この装置は、個々の測定手法を実現して測定データを取得する測定ソフトウエア36と、その測定データに対して所定の解析を行って解析データを取得する解析ソフトウエア37と、測定データ及び解析データの個々に基づいて縮小画像42を作成する縮小画像作成手段2、38と、解析ソフトウエアを指し示すアイコン43を作成する解析アイコン作成手段2、39と、縮小画像42とアイコン43とを互いが対応関係にあることを示しつつ同じ画面9a内に表示する画像表示手段2,9とを有する。 (もっと読む)


【課題】結晶構造を有する試料から発生する散乱線および不純線を抑制し、回折X線を回避することができるX線分析装置等を提供する。
【解決手段】本発明のX線分析装置は、試料Sを試料Sの所定点周りに回転させながら1次X線2を照射し、試料Sから発生する2次X線4の強度を試料Sの回転角度と対応させた回折パターンを取得して記憶し、回折パターンを、2次X線4の強度を示す直線で強度の高低方向に走査しながら、直線が示す強度以下の強度をもつ回折パターン上の点を候補点とし、隣接する候補点間の回転角度差の最大値が所定の角度になったときに走査を止めて候補点の回転角度を記憶し、試料Sの測定点の座標に応じて、記憶した候補点の回転角度の中から測定点の座標に最も近い回転角度を読み出し、読み出した回転角度に試料Sを設定するとともに、試料Sの測定点を検出器7の視野V内に配置する。 (もっと読む)


【課題】ラスタ素子のハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる回折X線検出方法およびX線回折装置を提供する。
【解決手段】ポリキャピラリで形成されたラスタ素子10を介して行なう回折X線検出方法であって、試料により回折させたX線をラスタ素子10に入射させ、試料中心Sからの距離を維持しX線の回折角度に対するラスタ素子10の位置を変えつつ、ラスタ素子10を通過したX線を検出器20により検出する。これにより、回折角度ごとに生じるハニカム格子による影響が分散され、ハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる。その結果、ラスタ素子を応用し、試料の周りからの散乱線を排除したり、いわゆる微小角入射X線回折測定で分解能を向上させたりする測定を有効に行なうことができる。 (もっと読む)


【課題】 簡易な構造で放射線のエネルギを高精度に求めることができる放射線測定装置を提供する。
【解決手段】
放射線のもつエネルギを検出し、当該エネルギに相当する波高のアナログ電気信号を出力する化合物半導体検出器20と、当該検出器20から出力されたアナログ電気信号を増幅して出力する積分アンプ21と、この積分アンプ21からの出力信号を、あらかじめ設定されたサンプリング間隔でデジタル変換するA/Dコンバータ25と、デジタル変換された電気信号をデータ処理して、検出器に入力した放射線のエネルギを求める中央処理部(データ処理部)61と、を含む。積分アンプ21は、A/Dコンバータ25のサンプリング間隔よりも長い時間をかけて出力信号を放電するように時定数を設定してある。 (もっと読む)


【課題】長期間にわたって使用できるとともに、正確なドリフト較正をすることができる、液体試料の蛍光X線分析用の較正試料等を提供する。
【解決手段】本発明の較正試料20は、液体試料Sの蛍光X線分析において、分析対象金属元素の測定X線強度の経時変化を較正するための固体の較正試料20であって、分析対象金属元素を含む金属層21と、水素、ホウ素、炭素、窒素、酸素およびフッ素のうち少なくとも1つの軽元素を最大のモル分率とする厚さ1mm以上の軽元素層22と、が重ねられて形成され、金属層21において、軽元素層22との対向面の反対側の面を分析面23とする。 (もっと読む)


【課題】 簡易的なスクリーニングを迅速に実施することができるX線回折測定データの解析方法を提供する。
【解決手段】 X線回折装置5から出力されたX線回折測定データに基づき回折X線のピーク位置と積分強度を求め、当該求めた回折X線のピーク本数を計数し、あらかじめ設定したピーク本数に達したときに解析処理を開始する。解析処理は、測定開始からそれまでに得られたX線回折測定データに対して繰り返し実行する。具体的には、測定開始から当該解析処理までに得られたX線回折測定データから回折X線のピーク位置と積分強度とを求め、それらをあらかじめデータベース化してある標準ピークカードデータと照合して、測定試料Sに含まれる物質を検索する定性分析と、測定試料Sに含まれる物質の量を求める定量分析とを行う。 (もっと読む)


【課題】加圧成形試料からの破片や粉体による汚染を簡単な作業で十分に抑制できる試料ホルダを提供する。
【解決手段】加圧成形試料1を保持する試料ホルダ2であって、底部3a付きの円筒形であって通気部3cを有する本体3と、本体3の上部を覆うように着脱自在に取り付けられ、加圧成形試料1の分析面1aを露出させる開口4aを有し、下方から加圧成形試料1が当接される蓋体4と、加圧成形試料1が載置される受け皿5と、本体3の底部3aと受け皿5との間に配置され、受け皿5を介して加圧成形試料1を蓋体4に押圧する内側ばね6と、加圧成形試料1を非接触で囲うように配置されるリング部7aおよびそのリング部7aから垂下する多孔性膜である袋部7bからなるトラップ7と、底部3aとリング部7aとの間に配置され、リング部7aを蓋体4に押圧する外側ばね8とを備える。 (もっと読む)


【課題】十分な検出効率を維持しつつ、電極間の浮遊容量から生じるノイズを低減できる半導体ストリップ検出器を提供する。
【解決手段】放射線を検出する半導体ストリップ検出器100であって、半導体で一体に形成され、放射線が入射される基板110と、基板110の主面上に互いに平行に設けられた複数のストリップ状電極121−1〜121−nからなる第1の電極群121と、基板110の主面に対する第1の電極群121の複数のストリップ状電極121−1〜121−nの正射影と同一の軸線上に設けられた複数のストリップ状電極122−1〜122−nからなる第2の電極群122と、を備え、第1および第2の電極群121、122は、いずれも長手方向長さと電極間長さの比が10以上となるように形成されている。これにより、検出範囲を維持しつつ、ノイズを十分に低減できる。 (もっと読む)


【課題】試料の各部ごとの材料特性情報を容易に、直感的に、しかも正確に知ることができるX線応力測定装置を提供する。
【解決手段】試料Sの光学画像を撮像するカメラ7と、その光学画像を表示するディスプレイ17と、ディスプレイ17の画面上の位置を入力できる入力装置18と、X線を発生するX線源11と、試料Sを移動させるテーブル4と、試料Sから出たX線R2を検出するX線検出器12と、入力装置18によって指示された位置に基づいて試料Sの測定位置を決定し、決定された試料Sの測定位置に対して測定を行う測定プログラムと、X線検出器12の出力信号に基づいて試料Sの測定位置における応力を演算する応力演算プログラムと、試料Sの光学画像及び測定位置、応力の絶対値、及び応力の方向をディスプレイ17の同じ画面上に表示させる画像形成プログラム22とを有するX線応力測定装置である。 (もっと読む)


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