説明

日新イオン機器株式会社により出願された特許

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【課題】 アンテナを有するECR型のプラズマ発生装置において、プラズマによるアンテナカバーの消耗の課題を解決する。
【解決手段】 このプラズマ発生装置10は、プラズマ24を生成するプラズマ室20に隣接して設けられていて真空に排気されるアンテナ室40と、その内部に設けられていて高周波を放射するアンテナ42と、絶縁物から成り、プラズマ室20とアンテナ室40との間をガスを阻止するように仕切ると共にアンテナ42から放射された高周波を通す仕切り板54と、プラズマ室20の外部に設けられていてプラズマ室20内に電子サイクロトロン共鳴を起こす磁界Bを発生させる磁石装置60とを備えている。 (もっと読む)


【課題】イオンビームの加減速、特に減速を行った場合においても、偏向中心位置が大きく変化しないようにして、ターゲットに入射するイオンビームの入射角度を所望の角度に保ったまま、ターゲットに入射するイオンビームの中心位置を所望の位置にすることができるイオン注入装置を提供する。
【解決手段】イオンビームIBを加減速し偏向させてターゲットTに入射させる静電加速管3を具備したイオン注入装置において、前記静電加速管3の一部を構成する偏向電極5が、前記イオンビームIBを挟んで設けられ、互いに異なる電位が設定される第1偏向電極51と第2偏向電極52とを備えたものであって、前記第2偏向電極52は、イオンビームIBが偏向される側に設けられるものであり、上流側に設けられる上流側電極521と、これから離間して設けられる下流側電極522とを具備し、前記上流側電極及び下流側電極はそれぞれ独立に電位を設定可能に構成した。 (もっと読む)


【課題】 基板のステップ回転を用いることなく、基板の面内に、円形状注入領域と、それを囲んでいて当該円形状注入領域とはドーズ量の異なる外周部注入領域とを形成することができるイオン注入方法等を提供する。
【解決手段】 このイオン注入方法は、基板2の面内におけるイオンビーム4の走査速度を可変にして、基板2の面内におけるイオンビーム4の1片道走査または1往復走査ごとのX方向における走査速度分布を、基板2のY方向の位置に応じて変化させることによって、基板2の面内に、円形状注入領域と、それを囲んでいて当該円形状注入領域とはドーズ量の異なる外周部注入領域とを形成するものである。 (もっと読む)


【課題】 メカニカルスキャン方式のイオン注入装置において、基板のノッチ位置検出用の照明装置を構成する発光器に真空容器外から光を導くライトガイドを屈伸させずに済むようにする。
【解決手段】 照明装置40は、真空容器6外に設けられた光源42と、それからの光を真空容器6内へ導くライトガイド44と、真空容器6内に固定されていてライトガイド44で導かれた光48を放出する投光部46と、ホルダ駆動装置10の支持台18に取り付けられていて、ホルダ12がノッチ検出位置28に位置した状態で、投光部46からの光48を受ける受光部50と、それで受けた光を導くライトガイド52と、支持台18に取り付けられていてライトガイド52で導かれた光48を基板2の外周部に照射する発光器54とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 安価で、注入量分布のパターンに多様性を持たせることができ、各注入領域間の注入分布が連続的でスムーズになるような不均一注入を行うことができる新規なイオン注入方法を提供する。
【解決手段】 イオン注入において、基板WをイオンビームIBが照射される面に交差する回転軸RAを中心として回転させながら、電界又は磁界によるイオンビームIBの走査又は前記基板Wの並進移動の少なくとも一方を同時に行わせる。 (もっと読む)


【課題】 アルミニウムイオンを含むイオンビームを発生させるイオン源において、部品点数の削減および構造の簡素化を可能にする。
【解決手段】 このイオン源は、フッ素を含むイオン化ガス8が導入されるプラズマ生成容器2と、この容器2内の一方側に設けられた熱陰極12と、プラズマ生成容器2内の他方側に設けられていて、バイアス電源24から当該容器2に対して負電圧VB が印加されて電子を反射する対向反射電極20と、プラズマ生成容器2内に、熱陰極12と対向反射電極20とを結ぶ線に沿う磁界28を発生させる磁石30とを備えている。対向反射電極20はアルミニウム含有物質から成る。 (もっと読む)


【課題】 リボン状のイオンビームのX方向およびY方向における発散角を簡単な方法で測定する測定方法を提供する。
【解決手段】 このイオンビーム測定方法は、イオンビーム2の一部を通過させる小孔62を有するマスク板60と、その下流側に設けられていて、前記小孔を通過したイオンビームを受けてそのビーム電流をそれぞれ検出する複数のビーム検出器12をX方向に有していて、Y方向に可動のビームモニタ10とを用いる。そして当該ビームモニタ10をY方向に移動させることによって、小孔62を通過したイオンビームのX方向およびY方向における中心位置x3 、y3 をそれぞれ測定し、その中心位置x3 、y3 とそれに対応する小孔62間のX方向およびY方向における距離L4 、L5 ならびにマスク板60とビームモニタ10間のZ方向における距離L3 に基づいて、小孔62を通過したイオンビームのX方向およびY方向における発散角αX 、αY をそれぞれ測定する。 (もっと読む)


【課題】 同軸構造の熱陰極の内部導体の温度上昇を抑制して、内部導体の寿命ひいては熱陰極の寿命を長くする。
【解決手段】 この熱陰極10は、中空の外部導体2と、その内側に同軸状に配置されている中空の内部導体1と、両導体1、2の先端部を電気的に接続する接続導体3とを備えている。加熱電流IH は、接続導体3を通して折り返されて、外部導体2と内部導体1とで互いに逆向きに流される。 (もっと読む)


【課題】 ギャップ調整治具を用いなくてもフィラメントとカソードとの間のギャップ長を所定長さに調整することができる方法を提供する。
【解決手段】 カソードホルダー22の溝26の幅Wからカソード導体40の厚さTを引いた寸法が、フィラメント60とカソード20との間の所定長さのギャップ長Gと等しくなるように、幅W、厚さTを定めておき、カソードホルダー22を後方に押して溝26の前端面28をカソード導体40に当接させた状態で、カソード導体40とフィラメント導体70とを電気絶縁物を介在させて互いに結合固定し、フィラメント60を前方に動かしてそれをカソード20に当接させた状態で、フィラメント60をフィラメント導体70に固定し、カソードホルダー22を前方に引いて突起30をカソード導体40に当接させた状態で、カソードホルダー22をカソード導体40に固定する。 (もっと読む)


【課題】イオン源から出射するイオンビームの軌道がイオン源におけるY方向磁界の影響を受けて設計上のビーム軌道からずれたとしても、分析スリットに入射するイオンビームの軌道を設計上のビーム軌道に近づけることができるようにする。
【解決手段】イオン源10aの引出し用電極を第1、第2引出し用電極22a、22bに分けて構成しておき、かつ両電極間に電位差を形成する直流電源52a、52bと、イオンビーム2を撮影してその画像データを出力するカメラ80と、分析スリット40を通過したイオンビーム2のビーム電流I2を測定する後段ビーム測定器70とを設けておき、I2が最大になるように分析電磁石電流I3を調整し、次に、カメラからの画像データに基づいて分析スリットに入射するビーム軌道の設計値からの偏差角度を求め、それが小さくなるように両引出し用電極間の電位差を調整する。調整を繰り返して偏差角度を許容範囲内に入れる。 (もっと読む)


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