説明

富士通セミコンダクター株式会社により出願された特許

2,461 - 2,470 / 2,507


【課題】サンプリング周波数が変わっても、同じ音声データを用いることにより、音声データを格納する記憶媒体の容量の節約を図ることができる。
【解決手段】集積回路1は、制御部2と転送部3とを有している。制御部2は、転送する音声データを取得し、この音声データと、周波数に応じた音声データの転送回数とを出力する。転送部3は、音声データを記憶する音声データ記憶部4と、転送回数を記憶する転送回数記憶部5とを備え、転送回数記憶部5の転送回数に応じて音声データ記憶部4に記憶されている音声データを連続して外部に転送する。 (もっと読む)


【課題】簡便に高精度でフォーカス変動量を測定する。
【解決手段】ピボタル特性パターンの形状値を計測し(ステップS1)、その測定値から露光量の変動を検出する。形状値の測定結果を用いて第1のデータベースにアクセスし(ステップS2)、露光量を算出する(ステップS3)。続いて、孤立パターンの形状値を測定し(ステップS4)、測定結果から第2のデータベースにアクセスし(ステップS5)、算出された適正露光量を用いてフォーカス変動量を決定する(ステップS6)。 (もっと読む)


【課題】 多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。
【解決手段】 複数のチップからなる被試験基板に対して前試験工程を実施する工程、前試験工程において不良品と判定したチップの試験項目を他の試験項目に変換して、次工程のデータを作成する工程、前記データの基づき、前試験工程において良品と判定したチップのみに対して次試験工程を実施する工程を設ける。 (もっと読む)


【課題】OPC後のマスクパターンに対する、高精度で短TAT化が可能な検証方法を提供する。
【解決手段】OPC後のマスクパターン20から検出される欠陥部21を含む検証領域22に対して、リソグラフィシミュレーション部11によりシミュレーションを行い、ウエハ上におけるContour図形23を生成し、ニューラルネットワーク処理部12により、予め、OPCで生じる欠陥の属性を学習させた第1のニューラルネットワークに、欠陥部21を合成した検証領域22の設計データ24を入力して欠陥の属性を判定し、ニューラルネットワーク処理部13により、予め、Contour図形23と欠陥の属性の組み合わせの合否を学習させた第2のニューラルネットワークに、今回生成されたContour図形23及び、判定された欠陥の属性を入力して合否判定を行う。 (もっと読む)


【課題】軽負荷時における電力変換効率の改善を図ることが可能なDC−DCコンバータの制御回路、DC−DCコンバータおよび電源電圧供給方法を提供すること。
【解決手段】 発振器OSCは基準クロック信号RCKを出力する。電流検出回路13から出力される出力電圧Vrは、重負荷状態でありコイル電流IL1の平均電流値が大きいときは小さくされ、軽負荷状態でありコイル電流IL1の平均電流値が小さいときは大きくされる。AD変換回路16は、アナログ量である出力電圧Vrを、デジタル値であるカウント設定値CTLに変換して出力する。動作周波数制御回路12は、基準クロック信号RCKをカウント設定値CTLで分周して制御クロック信号PCKを生成する。導通制御回路17は、制御クロック信号PCKに基づいてトランジスタFET1およびFET2を導通制御する。 (もっと読む)


【課題】画像処理回路の論理検証時に、極めて少ないデータ量の比較によって画像処理回路に障害があるか否かを検証すること。
【解決手段】入力パターンデータ21に応じて、期待値画像データ生成部2により期待値画像データを生成し、期待値画像データ圧縮部3により不可逆な演算処理を行って、動画像の1ページ分ずつ、期待値画像データよりもサイズの小さい期待値画像圧縮データを生成する。入力パターンデータ21に応じて、検証対象の画像処理回路11により結果画像データを生成し、結果画像データ圧縮部5により、期待値画像データに対するのと同じ演算処理を行って、動画像の1ページ分ずつ、結果画像データよりもサイズの小さい結果画像圧縮データを生成する。そして、比較部6により、期待値画像圧縮データと結果画像圧縮データを比較することによって、画像処理回路11の論理検証を行う。 (もっと読む)


【課題】製造時に特別なプロセスを使用せず、低コストでデータ信号の読み出しを高速化する。
【解決手段】遅延インバータ回路10は、エンハンスメントタイプ・トランジスタTr2,Tr3から構成され、外部から入力されるクロック信号CK2を遅延した読み出し信号RS1をセンスアンプ回路に出力する。エンハンスメントタイプ・トランジスタ回路Tr1は、遅延インバータ回路10に供給される電源電圧を低く設定するために、遅延インバータ回路10と電源VDDの間に接続される。すなわち、特別なプロセスを必要としないエンハンスメントタイプ・トランジスタTr1を用いて、遅延インバータ回路10の電源電圧を低く設定し、電源電圧の許容範囲内における標準電圧、高電圧側において、データ信号の読み出しを高速化する。 (もっと読む)


【課題】人手による作業を行うことなく、比較元回路と、この比較元回路に、論理的に等価なフリップフロップが挿入された比較対象回路との論理等価検証を自動的に行うこと。
【解決手段】フリップフロップ間にバッファやインバータが存在する場合、全てのバッファと偶数個のインバータを削除する。比較元回路および比較対象回路について、論理的に等価なフリップフロップを削除し、他のフリップフロップにマージして一つのフリップフロップとする。マージ処理によって削除されるフリップフロップの名前を、マージ処理後に残るフリップフロップの名前に追加する。比較元回路および比較対象回路について、各フリップフロップが持つ複数の名前を全て調べ、名前が一致するフリップフロップを検証対象のペアとする。ペアを作成したフリップフロップの入力を始点とするロジックコーンについて、比較元回路と比較対象回路の比較検証を行う。 (もっと読む)


【課題】1枚の半導体ウエハで、半導体ウエハの表裏両面に付着している金属不純物を収集することを目的とする。
【解決手段】基板面に処理液を滴下し、処理液を回収することにより、基板面に付着している不純物を収集する基板処理装置であって、基板の第1の面を上方に向けて基板が載置される固定部と、基板に処理液を滴下する滴下部と、基板の第1の面を吸着し、基板を上方から保持する保持部と、保持部を垂直面で回転し、基板の第1の面に対する裏面を上方に向ける回転部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】メモリセルを集積度向上のみならず冗長機能を重視して、集積度を確保しつつも、データ保持の信頼性を大幅に向上させる。
【解決手段】複数ビットに対応した複数桁値からなる情報を記憶するメモリセル10が、複数配設されてなるメモリセルアレイ11と、メモリセル10の情報の書き込み及び読み出しを制御する制御部15とを含み、制御部15は、メモリセル10から読み出した複数桁値の各情報を、それぞれ1ビットに対応した1桁値の情報に変換する変換部34を有する。 (もっと読む)


2,461 - 2,470 / 2,507