説明

キリンテクノシステム株式会社により出願された特許

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【課題】スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。
【解決手段】メインロータ10に設置されペットボトルの口部に係合して口部をシールするシール部材を有するとともに気体をペットボトル1内に供給する加圧ヘッド35とを備え、加圧ヘッド35を第1電磁弁EV1を介して圧縮空気源43に接続し、加圧ヘッド35と第1電磁弁EV1との間に加圧ヘッド側から第1電磁弁側への圧縮空気の流れを阻止する第1逆止弁CV1を設け、加圧ヘッド35を第2逆止弁CV2に接続し、第2逆止弁CV2を閉止するための背圧を第2逆止弁CV2に加えるための第2電磁弁EV2を設けた。 (もっと読む)


【課題】被検査物の表面に存在する加工部が欠陥の有無の判別に与える影響を排除して正確な検査を実施でき、かつ処理の高速化を図ることが可能な表面検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物の円筒状の表面に対応する2次元画像内の濃度値に基づいて欠陥の有無を判別する表面検査装置において、2次元画像上に出現すべき加工部の像203a〜203a、204を、加工部毎に別々の基準画像211、212として保持するとともに、表面の軸線方向に相当する軸線相当方向における加工部の像の位置y1、y2、及び表面の周方向に相当する周相当方向に関して同一の加工部の像が存在すべき個数を基準画像211、212と対応付けて保持する。基準画像、該基準画像に対応付けられた位置及び個数に基づいて、2次元画像上で欠陥判別の対象から除外されるべき領域を特定し、その特定された領域外における画素の濃度値に基づいて欠陥の有無を判別する。 (もっと読む)


【課題】被検査物の表面の状態が検査精度に与える影響を抑えて被検査物表面の欠陥の検査精度を向上させることが可能な表面検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物の表面の2次元画像200内に含まれる画素201の濃度値に基づいて欠陥を識別する表面検査装置1において、2次元画像200内から注目画素201Aを選び出し、注目画素201Aの濃度値を注目濃度値として取得するとともに、2次元画像200内で注目画素201Aに対して所定の位置関係にある比較対象画素群GPcの平均的な濃度値を比較対象濃度値として取得する。注目濃度値と比較対象濃度値との比較に基づいて注目画素201Aが欠陥に相当するか否かを判別する。 (もっと読む)


【課題】固定側部材と回転側部材の摺接面(シール面)に異物が入り込んだ場合でも固定側部材と回転側部材のいずれもが摩耗してしまうことを防止し、両部材が消耗部品になってしまうことを避けることができるロータリ弁を提供する。
【解決手段】固定側部材33と、回転側部材36とを備え、固定側部材33と回転側部材36とが互いに摺接しながら相対回転することにより、固定側部材33に形成された円弧状溝40と回転側部材36に形成された連通孔52とが断続的に連通するように構成されたロータリ弁において、回転側部材36をベアリングによって支持し、固定側部材33をアルミナセラミックスにより形成し、回転側部材36をカーボンセラミックスにより形成したロータリ弁である。 (もっと読む)


【課題】被検査物の表面の微小な凹凸等を単独で欠陥として検出されるおそれを排除しつつ、その微小な凹凸等が密集している領域を欠陥又は欠陥に準じて検出する。
【解決手段】被検査物の表面を検査光で走査し、表面からの反射光の光量に応じた信号を出力する検出手段を備えた表面検査装置において、検出手段の出力信号に基づいて被検査物の表面の2次元画像を生成し(S1)、2次元画像に含まれる画素を被検査物の表面の欠陥に対応した階調の第1の画素群と欠陥に対応しない階調の第2の画素群とに区別し、第1の画素群を第2の画素群にて囲まれた範囲毎に欠陥候補部として抽出し(S3〜S5)、所定の大きさ以上の欠陥候補部を欠陥として識別し(S6)、2次元画像を所定の検査領域毎に検査し、該検査領域内における所定の大きさに満たない欠陥候補部の密集度が所定レベル以上の検査領域を欠陥領域として識別する(S7、S8)。 (もっと読む)


【課題】被検査物を検査するための構成を利用して動作状態を自ら判別することが可能な表面検査装置を提供する。
【解決手段】軸状に延びる検査ヘッド16の外周から被検査物100に向かって検査光を照射するとともに、被検査物100からの反射光を検査ヘッド16を介して受光し、該反射光の光量に対応した信号を出力する検出ユニット5と、検査ヘッド16を軸線方向に移動させる直線駆動機構30と、検査ヘッド16を軸線の回りに回転させる回転駆動機構30とを備えた表面検査装置1において、検査ヘッド16が通過可能な貫通孔37aを有するサンプルピース37を検査ヘッド16の軸線方向の移動経路上に配置する。検査ヘッド16を軸線の回りに回転させつつ軸線方向に移動させてサンプルピース37の内周面を検査光で走査したときの検出ユニット5の出力信号に基づいて動作状態を判別する。 (もっと読む)


【課題】ミラーの清掃及び交換を安価で且つ容易に行うことのできる表面検査装置を提供する。
【解決手段】先端にミラー18が設けられた軸状の検査ヘッド16を駆動機構により軸線AXの回りに回転させつつ軸線AXに沿って移動させるとともに、検査ヘッド16内に前記軸線AXに沿って入射した検査光の光路をミラー18により変更し、光路が変更された検査光を被検査物に照射し、被検査物で反射して検査ヘッド内16に再度入射した検査光の光量に基づいて検査物の表面状態を検出する表面検査装置1において、検査ヘッド16が、駆動機構に取り付けられるヘッド本体70と、そのヘッド本体70に対して着脱可能に設けられ且つミラー18を保持する保持部71と、を備える。 (もっと読む)


【課題】検査ヘッドの回転軸線と被検査物である円筒体の中心線とを厳密に一致させなくても、周期的な濃淡のない二次元画像を得ることができる表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置1は、被検査物たる円筒体100の内部に挿入されて、軸線AX回りに回転しかつ軸線AX方向に移動しながら、LD11から射出された検査光を内周面100aに投光しつつその反射光を受光する検査ヘッド16と、検査ヘッド16が受光した反射光の強度に応じた信号を出力するPD12と、を有し、PD12が出力した信号に基づいて内周面100aに対応した二次元画像を生成する。PD12が出力した信号から、軸線AXと円筒体100の中心線とのずれに起因した反射光の強度の揺らぎに対応する周波数成分を抽出し、その周波数成分と所定の基準値との差分に応じて検査光の強度が変化するようにLD11を制御する。 (もっと読む)


【課題】検査ヘッドの回転速度が変動した場合でも検査を実行することができ、検査精度を悪化せずに検査時間を短縮できる表面検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の表面検査装置1は、被検査物100の穴100aに挿入可能で、かつ長手方向に延びる軸線AX回りに回転可能な検査ヘッド16と、検査ヘッド16が被検査物100に対して軸線AX方向に相対移動するように検査ヘッド16を直線移動させる直線駆動機構30と、検査ヘッド16の回転位置を検出するロータリーエンコーダ43と、を備え、検査ヘッド16の一回転あたりの軸線AX方向に関する移動量が回転速度に拘わらず一定となるように、ロータリーエンコーダ43の出力信号に基づいて直線駆動機構30の動作を制御する。 (もっと読む)


【課題】欠陥の種類等に応じて様々な感度特性を作り出すことができる表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置1は、レーザダイオード11から投光ファイバ13を介して被検査物100の内周面100aに検査光を照射し、その検査光の反射光の強度を検出する検出ユニット5を有する。検出ユニットは、投光ファイバ13の周囲に配置された第1受光ファイバ群14Aと、それよりも外側に配置された第2受光ファイバ群14Bと、これらのファイバ群のそれぞれに接続されたフォトディテクタ12A、12Bとを備える。 (もっと読む)


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