【課題】複数の温度センサを配設した測定台に載置した被測定物の温度を測定する際に、被測定物の温度を測定している温度センサとそうでない温度センサを選別して被測定物の温度を測定している温度センサだけを用いて温度を測定する温度測定方法を提供する。
【解決手段】複数の温度センサＳ１が示す各温度データを、ｋ平均法を用いて複数のクラスタに分類すると共に、複数の温度センサＳ１の中から被測定物２の温度を測定していることが確定的である温度センサＳ１を索出し、分類した複数のクラスタのうち、被測定物２の温度を測定していることが確定的である温度センサＳ１が測定した温度データを含んでいるクラスタを選抜し、この被測定物２の温度を測定していることが確定的である温度センサＳ１を含んでいるクラスタに含まれる温度センサＳ１を用いる温度測定方法。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、しかも、被測定物の材質を問わず温度センサを確実に接触させ、尚且つ、作業者の手を煩わせることなく被測定物の温度を精度よく測定することができる実用性に優れた画期的な温度測定ユニットを提供することを目的とする。
【解決手段】測定台１に載置した被測定物２の温度を測定する温度センサＳ１に接続する配線Ｗを設けた基板３に、この基板３を測定台１に沿設状態に配設する取付部４を設け、基板３に、厚み方向に撓み、基板３に設けた配線Ｗと接続する配線Ｗを設けた可撓基板部５を設け、この可撓基板部５に被測定物２と接触しこの被測定物２の温度を測定する温度センサＳ１を設けて、測定台１に載置した被測定物２に押圧されて可撓基板部５が撓みこの被測定物２に温度センサＳ１が押圧接触するように構成した温度測定ユニット。 （もっと読む）

【課題】高精度に真直度を測定することが可能な真直度測定装置並びにこの真直度測定装置を用いた真直度測定方法を提案することを目的とする。
【解決手段】被測定物１の被測定面Ｍｓと補助基準部２の補助基準面Ｒｅとを対向状態且つ相対移動自在に設け、これらによって形成した走査区間Ｓに空気マイクロメータの測定ヘッド部３を走査方向に走査移動させて、各測定箇所における第一センサ部４から被測定面Ｍｓまでの距離と第二センサ部５から補助基準面Ｒｅまでの距離との合算値からなる走査測定値を測定算出するように構成し、被測定物１に対して補助基準部２が相対移動する前後の走査測定値の差分から被測定面Ｍｓの真直度を測定算出するように構成した真直度測定装置。 （もっと読む）

【課題】砥石を砥石でドレッシングでき、しかも砥石の先端両側面を単にこのドレッサ砥石を１８０度反転させるだけで片面づつ逐次移動制御設定を変更しなくても同一の移動制御、即ち反転させた後予め設定した砥石に対するドレッサの位置と切り込み量とストローク量とを設定変更することなくその反転位置でこの設定条件のまま実行するだけでスピーディーに両側面を精度良くドレッシングでき、極めて画期的なねじ研削盤を提供すること。
【解決手段】ねじのリード角に対応して前記研削物Ｗに対して前記砥石１を傾動調整設定する際、この砥石１と共に傾動する傾動基体７に前記ドレッサ機構６を設け、このドレッサ機構６を設けたドレッサ機構取付基体８を前記傾動基体７に対して１８０度回動して前記ドレッサ砥石３の位置を前記砥石１に対して１８０度反転切り換えする反転機構９を前記傾動基体７に設けたねじ研削盤。 （もっと読む）

【課題】効率良く、しかも精度良く良好に測定作業を行える画期的で実用性に秀れた粒度ゲージを提供する。
【解決手段】測定基体１の平坦上面１ａに凹溝２を形成し、この凹溝２は、底面２ａがこの凹溝２の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝２の溝深さがこの凹溝２の長さ方向一端から他端に向かって徐々に変化する底面２ａが傾斜した凹溝２とした構成として、この凹溝２に試料ａを配設し、この試料ａを展延するべく凹溝２にまたがるように測定基体１の平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３をこの凹溝２の長さ方向に動かした際、この凹溝２内で展延した試料ａの粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することでこの試料ａの粒度を測定する粒度ゲージにおいて、前記測定基体１の凹溝２の底面２ａを黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定した粒度ゲージ。 （もっと読む）

【課題】環境の変化などによる光学倍率の変化の影響を受けない高精度な位置決めが実現でき、高い分解能で高精度な位置測定が高速で行なえる、被位置決め面の位置決め方法並びにその装置を提供すること。
【解決手段】光学式測定装置を用いた被位置決め面の位置決め方法であって、反射像が観察視野内の任意の位置に検出される状態から別の位置で検出される様にし、移動の前後で反射像が観察画像上において移動した距離情報と、前記移動量検出手段により検出される被位置決め面の相対的な移動距離の比率を求め、この比率によって、位置決め移動させる反射像移動目標位置までの前記移動量検出手段で検出される前記被位置決め面の移動すべき移動量を求め、この求めた移動量だけ前記位置決め面を移動する被位置決め面の位置決め方法。 （もっと読む）

【課題】安価にして十分な明るさを得ることができ、レンズやピンホールからなる照明光学部品が不要となり、照明光学系の長さを従来より短くでき、そのため安価にして消費電力も小さく、熱の放出を低減できる照明装置を提供すること。
【解決手段】光源の光を小径のスポットパターンとした状態でレンズにより結像して測定面に投影する投影側光学系と、投影されたスポットパターンの反射像を拡大して観察する観察側光学系とを測定面に対して対称に同一の光軸上に配置し、測定面を前記光軸に垂直な面で相対的に移動可能とし、その移動量を検出する移動量検出手段を備えて、前記測定面間の距離を測定若しくは光学式測定装置における照明装置において、前記小径のスポットパターンを、単芯の光ファイバーで照射される光を直接小径のスポットパターンの光源とした光学式測定装置における照明装置。 （もっと読む）

【課題】 従来よりも高精度，広範囲，かつ短時間に被対象物の断面形状を測定できる断面形状測定方法および断面形状測定装置を提供する。
【解決手段】 正弦波振動させた干渉縞パターンをもつSVIP光を被対象物60に照射し、この被対象物60の頂点位置Ｑから来るSVIP光を電気的な検出信号Ｓ_D（t）に変換する。検出信号Ｓ_D（t）に含まれる位相αから、被対象物の測定すべき頂点位置の座標値を求めることができる。また、頂点位置Ｑから来るSVIP光だけを、空間周波数フィルタリングにより選択的に通過させ、これを電気的な検出信号Ｓ_D（t）に変換しているので、検出点間の位相αの差が非常に小さく、極めて小さな誤差で断面形状を測定できる。 （もっと読む）