【課題】回路を構成する要素図形の側面情報に、その回路の構造、製造及び／又は検証に関する構成付加情報を関連付けて仮想的に記憶して参照することで、効率的に回路の設計や製造等を行うことができる表示制御装置等を提供する。
【解決手段】３次元回路を構成する要素の構成情報を記憶する回路情報記憶部２１と、記憶される構成情報のうち、要素の側面を形成する側面情報に、３次元回路における要素の構造、製造及び／又は検証に関する構成付加情報を関連付けて仮想的に記憶する構成付加情報記憶部２２と、回路情報記憶部２１及び構成付加情報記憶部２２に記憶されている情報に基づいて、３次元回路を表示する表示部２４と、表示部２４に要素の側面を表示し、その側面の表示に連係して構成付加情報記憶部２２に記憶されている構成付加情報を表示する表示制御部２３とを備える。 （もっと読む）

【課題】配線路の経路長に応じて熱量を陰影で表示し、放熱効果が最適となるビアの配置を設計する回路情報管理装置等を提供する。
【解決手段】底面積及び高さが仮想的に設定されたビア及びチップ含む回路記憶する回路情報記憶部２１、回路要素を配置する配置部２２、ビアがチップと配線により接続されている場合、ビアの上方にチップと接続している配線路の経路長に応じた高さで、仮想の点光源を配置する放熱体光源配置部２４、チップの上方に消費電力に応じた高さで仮想の点光源を配置する発熱体光源配置部２７、ビアが放熱する熱量及びチップが発熱する熱量を、点光源から照射された光による陰影として形成する陰影生成部２５、ビアの陰影領域及びチップの陰影領域において、それぞれが重なっている重畳領域と、チップの陰影領域との差分が最小となるようにビア及び／又はチップの配置を変更する配置変更部２９、形成陰影を表示する表示制御部２６とを備える。 （もっと読む）

【課題】状態爆発の問題を回避しつつ、モデル検査の検査対象を拡大すること。
【解決手段】イベントに応じて変化する状態の遷移条件を表形式であらわした状態遷移表に対応する状態遷移情報を取得する取得部と、とりうる状態を各ノードとする木構造の階層ごとに遷移条件を一階論理式化した論理式を状態遷移情報から生成する論理式生成部とを備えるようにモデル検査装置を構成する。また、論理式生成部によって生成された論理式に基づいて充足性モジュロ理論による検査を実行する検査実行部を備えるようにモデル検査装置を構成する。 （もっと読む）

【課題】 推論結果が○とされない場合にもユーザによるルール追加等の処理を行うだけでなくその推論結果を用いて更なる推論を行って推論結果をより○に導く可能性をあげることが可能な原因推定装置等を提供する。
【解決手段】 半導体のテスト不良解析における診断に用いられる不良の原因を推定する原因推定装置１は、データベース７と、ルールベース１１と、推定部１３とを備える。推定部１３は、適用可能ルール抽出部２１と、ルール選択部２３と、推論エンジン１９とを有し、推論エンジン１９が不良の原因を推定できなかった場合で且つ不明な原因であると判断しなかった場合に、適用可能ルール抽出部２１が、推論エンジン１９が推論した推論結果を新たな事実として追加して適用可能ルール抽出部２１とルール選択部２３と推論エンジン１９とに動作を繰り返させて新たな推論結果を得る。 （もっと読む）

【課題】振動させたＭＥＭＳの多数の箇所に同時にレーザ光を照射して、ＭＥＭＳの多数の測定点における所定時点の振動状態を同様に測定できると共に、ＭＥＭＳに対する起振部側の影響を排除して、ＭＥＭＳ各部の振動状態を正確に把握できるＭＥＭＳ測定方法を提供する。
【解決手段】それぞれ周波数の異なる多数のレーザ光を、振動しているＭＥＭＳ８０の可動部８１と固定部８２に対し同時に照射し、ＭＥＭＳ８０の各照射位置からの反射光を干渉光として光検出部で検出し、検出信号より取出せる情報から、ＭＥＭＳ８０の各照射位置での振動状態を求め、さらに可動部８１における振動状態の固定部振動状態に対する差分を求めることから、起振部の不要な振動成分が合成された結果から可動部８１の振動成分のみを取出して、正しい可動部８１の振動特性を取得でき、ＭＥＭＳ８０の構造に基づいてあらわれる振動の特徴を確実に把握できる。 （もっと読む）

【課題】半導体デバイスやデバイスシステムの欠陥箇所や不良箇所を、３次元の電流像を用いて特定することができる３次元像測定装置を提供する。
【解決手段】３次元像測定装置１００は、走査信号を走査ミラー２３に出力する走査回路２４と、第２の対物レンズ２５を光軸に沿って移動させ、光軸方向における試料２００及び第２の対物レンズ２５間の相対距離を変化させる光軸方向移動機構２６と、制御信号を光軸方向移動機構２６に出力する光軸方向移動制御回路２７と、試料２００に流れる誘起電流を出力する導電性プローブ３１と、走査回路２４からの走査信号及び導電性プローブ３１からの電流値に基づいて試料２００の２次元電流像を構築し、光軸方向移動機構２６による各相対距離における各２次元電流像を重ね合わせた３次元電流像を構築する演算部４３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】配線パターンを形成する際に、同時にデカップリングキャパシタを形成することで、配線基板の製造の手間とコストを大幅に削減することができる配線基板形成方法等を提供する。
【解決手段】シリコン基板２に筒状のビア絶縁部３ａ，３ｂ、及びビア導電部４ａ，４ｂを形成する工程と、ビア導電部４ａの周囲領域に積層され、ビア絶縁部３ａの筒状端部の全周に亘って接続する絶縁材を延在させて誘電部５ａを形成する工程と、ビア導電部４ｂの周囲領域に積層され、ビア絶縁部３ｂの筒状端部に一部が接触しないように絶縁材を延在させて絶縁部５ｂを形成する工程と、誘電部５ａ及び絶縁部５ｂの表面に積層されると共にビア導電部４ａ，４ｂに接続される配線部６ａ，６ｂを形成する工程とを含み、配線部６ａが電源と接続され、配線部６ｂがグランドと接続され、配線部６ａとシリコン基板２とで誘電部５ａを挟むキャパシタが形成される。 （もっと読む）

【課題】ナノ組織を有するバルク状熱電変換多孔体、ナノ粒子を用いたバルク状熱電変換多孔体の製造方法、及びその製造装置を提供する。
【解決手段】平均粒径が２００ｎｍ以下の熱電変換材料のナノ粒子１１同士が連結したマトリックス部１１ａを有し、マトリックス部１１ａ内にナノメートルサイズの空孔１２の一部又は全部が連通した連続気孔が形成され、ゼーベック係数が、非ナノ組織を有するバルク状熱電変換材料と同程度となる。 （もっと読む）

【課題】ピッキング対象物体の置かれる向きに関わらず、ピッキング対象物体の識別処理時間を大幅に短縮することが可能なピッキングシステムおよびピッキング方法の提供。
【解決手段】入力画像から閉領域を抽出する閉領域抽出手段１３と、入力画像から閉領域の特異点を取得する特異点取得手段１４と、特異点からいくつかの等しい距離上に存在する閉領域内の画素の含有度をそれぞれ算出することで、特異点周りの等距離画素強度パラメータを導出するパラメータ導出手段１５と、ピッキング対象物体について等距離画素強度パラメータを予め導出したテンプレートデータを記憶するテンプレート記憶手段１６と、導出された等距離画素強度パラメータをテンプレート記憶手段１６に記憶されたテンプレートデータと照合し、ピッキング対象物体を識別する識別手段１７とを含む。 （もっと読む）

【課題】医療器材等の識別対象物体に識別マークを付することなく、その可動軸を検出することが可能な識別装置および識別方法の提供。
【解決手段】識別対象物体の画像を入力する画像入力手段１０と、画像入力手段１０により入力された画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段１２と、エッジ抽出手段１２により抽出されたエッジから複数の直線を検出する直線検出手段１３と、直線検出手段１３により検出された複数の直線の交点を求めて可動軸中心点を取得する可動軸取得手段１４とを含む。 （もっと読む）