【課題】キャディの使用により、分析機器との容易な相互接続を可能にする構成を備えている微小流体デバイスを提供する。また流体デバイスを形成するための方法を提供する。
【解決手段】流体デバイス１０は、本体部１１及び隣接導電性層１００を含む。本体部１１は、内部表面及び外部表面を有する。内部表面は、ウェル及び流体搬送造作２５、たとえばウェルと流体が流れるように連通する微小造作を画定する。隣接導電性層１００は、ウェルの側壁４６Ｓ及び、外部表面、内部表面の選択された領域上に位置し、流体搬送造作２５内の任意の流体と電気的に接続した状態で、外部表面４４上に接触パッド領域が形成されている。 （もっと読む）

【課題】同一の計測モジュールをスタンドアロン構成とシャーシ搭載構成の両方について複数の構成で使用するための装置モジュールハウジングを提供する。
【解決手段】装置モジュールハウジングシステムは、計測ボードを収容する保護装置モジュールケーシングを含む装置モジュール１０３と、装置モジュールを収容するメインストレージコンパートメントを具備するハウジング１２００と、追加ハウジング１２００内に収容された追加装置モジュール１０５とを有する。ハウジング１２００は、垂直積層構成を実現するために、その上部及び底部に、固定手段としての空洞１２１７または脚部１３０３を有する。 （もっと読む）

【課題】 半導体デバイスの並列測定を容易にすることを可能にした半導体デバイス特性測定装置を提供すること
【解決手段】 複数の半導体デバイスの各々に対して複数の測定機器を用いて前記半導体デバイスの特性を測定する半導体デバイス特性測定装置であって、前記複数の半導体デバイスのうち前記半導体デバイスの接続情報に基づいて並列に測定の実行が可能な半導体デバイスと測定関数の組を特定する並列測定可能判断手段と、前記並列測定可能判断手段によって並列に測定の実行が可能な半導体デバイスの測定関数の前記複数の測定機器を抽象的に特定する第１の抽象名を用いた複数の測定関数部とを具備する半導体デバイス特性測定装置。 （もっと読む）

【課題】 顧客の観点から、異なる技術カバレージエリア内において享受するサービスレベルに関する能力を認知できるシステムを提供する。
【解決手段】上述した課題は、異なるネットワーク技術をサポートしている複数の技術カバレージエリア（４、６）を具備した通信ネットワーク（２）アーキテクチャにおいて、サービスプロバイダは、技術カバレージエリア間において自身の顧客がローミングする際の顧客の経験を監視している。顧客のモバイル装置（１２）上にインストールされたソフトウェアなどのエージェントが、ネットワーク技術に関係したパラメータ（３２）を計測（２２、２４、３４、４４）し、計測されたパラメータを通信ネットワーク（２）上においてサービスプロバイダに対して伝達（２８、４０、４２）することにより解決することができる。 （もっと読む）

【課題】 各ポート間の挿入損失及び温度変化による影響を同じにしつつ、スイッチマトリクス全体としての挿入損失及び温度変化による影響を小さくすること。
【解決手段】 端子面にスイッチ端子が設けられた複数のスイッチ素子を用いて入力側から出力側を同軸ケーブルにより接続して構成されるスイッチマトリクスであって、前記複数の素子のうちの２つのスイッチ素子は端子面が対向するように位置し、前記２つのスイッチ素子以外のスイッチ素子は前記２つのスイッチ素子の対向する端子面の間の空間の近傍に位置する。 （もっと読む）

【課題】液晶表示パネルの欠陥を、迅速かつ精度のよく検査する検査方法を提供する。
【解決手段】上述した課題は、複数の制御線と、前記複数の制御線と交差する複数の信号線と、前記制御線と前記信号線との交差位置に配置され、対向する電極の間に液晶材料を封入した液晶素子を備えた画素とを備えた液晶表示パネルの検査方法であって、複数の被検査画素の前記液晶素子に、並行して電圧を印加する予備書き込み工程と、前記被検査画素の検査を順次実行する本検査工程とを有し、前記本検査工程が、前記被検査画素の液晶素子に所定の電圧を印加する本書き込み工程と、前記被検査画素の液晶素子に蓄積された電荷を放電し、放電された電荷量を測定する読み出し工程とを含むことを特徴とする液晶表示パネルの検査方法等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】 イオンモニタリング期間を動的に制御する制御方法を提供する。
【解決手段】上述した課題は、走査型質量分析計のイオン検出の期間を動的に制御する方法であって、単一のｍ／ｚのイオンの検出中に前記質量分析計の検出器からの出力信号を統計的に監視するステップと、統計的に有効な累積統計値の計算、又は予め決められた統計閾値に照らして前記期間では満足のいく統計値を達成することが不可能であることを示す計算が得られると前記イオン検出の前記期間を終了するステップとを含む、走査型質量分析計のイオン検出の期間を動的に制御する方法等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】 顧客の観点からシステムの性能に対して直接的にアクセス可能なパラメータ計測システムを提供する。
【解決手段】上述した課題は、通信ネットワーク上において通信するモバイル装置からアクセス可能なパラメータを計測するパラメータ計測システムであって、前記通信ネットワークは、個々の第１及び第２サービスプロバイダによって提供される第１及び第２技術カバレージエリアを含んでいる、パラメータ計測システムにおいて、前記モバイル装置及び前記第１及び第２サービスプロバイダの中の１つの動作の既定のパラメータを計測し、且つ、サービスプロバイダの変化を検出する計測手段と、計測パラメータを変更することにより、検出されたサービスプロバイダの変化に相応しいパラメータ計測を実行する手段と、計測されたパラメータを前記通信ネットワーク上において前記第１サービスプロバイダに送信する送信機と、を含むことを特徴とするエージェントを有するシステムにより解決することができる。 （もっと読む）

【課題】マルチマスタ・二線シリアルバスの提供
【解決手段】
本開示の態様（２００）では、第１のマスタ装置（２０２）と１以上のスレーブ装置（２０４、２０８）と有するホスト二線シリアルバス（２１０）に、１以上のチェーン接続された二線シリアルバス（２２０）が１以上のスレーブ装置（２０８）を介して結合されている。スレーブ装置（２０８）は、マスタ装置（３０２）に結合された二線シリアルスレーブコンポーネント（３１２）と、チェーン接続された二線シリアルバス（３０８）上のスレーブ装置（３１０）に結合された二線シリアルマスタコンポーネント（３１６）を含むディジタル状態機械（３０６）を有する。ディジタル状態機械（３０６）は、ホスト二線シリアルバス（２１０）上のスレーブ装置（２０８）と、チェーン接続された二線シリアルバス（２２０）上のマスタ装置（２０８）とをエミュレートしている。 （もっと読む）

【課題】同一の計測モジュールをスタンドアロン構成とシャーシ搭載構成の両方で使用するための追加のハウジング及びその使用方法を提供する。
【解決手段】装置モジュール用のクラムシェルハウジング１２００は、ヒンジ端部のヒンジメカニズムによって、開放及び閉鎖位置間で相互回転するようにされた第１及び第２セクション１２０１、１２０３を備え、さらに、ヒンジ端部と反対側に位置する開放端部上でスライドし、両セクションを閉鎖位置で固定する摺動固定緩衝セクションを有する。閉鎖位置内にある際に両セクションによって画定されるメインストレージコンパートメント１２１３に装置モジュールが保持され得る。 （もっと読む）