アジレント・テクノロジーズ・インクにより出願された特許
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光学的分配回路網を有する光電気発振器クロック
【課題】スキューおよびジッター等が低減されたクロック信号の分配システムおよび方法を提供する。
【解決手段】クロック信号を必要とするコンポーネントを含む電子システム用のクロック回路は、光クロック出力(6)において光クロック信号を発生するための光電気発振器(4)と、光クロック出力(6)を光電気発振器(4)に結合し戻すフィードバックループ(8)とを備える。
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アクティブマトリクス基板の検査方法、検査装置および製造方法
【課題】 高速かつ高精度にアクティブマトリクス基板を検査する方法等を提供する。
【解決手段】上述した課題は、選択的に動作可能な複数の画素をマトリクス状に配置したアクティブマトリクス基板の検査方法であって、所定の検査画素に電子線を照射するステップと、前記電子線により前記検査画素に供給された電荷量を測定するステップと、前記電荷量に基づいて前記検査画素の欠陥の有無を判定するステップと、を有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法等により解決することができる。
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マイクロ波回路モジュール用のシールド
【課題】電磁放射を制御するための電子回路用のシールドを提供する。
【解決手段】電子回路600は、最低限3つの金属層を有するPCB804上に構築される。このPCBは、信号を回路600に伝達するためのSMT型シールデッドコネクタ50、100を備えている。シールドには、PCBに実装された金属の壁部分802及びこの壁部分に取り付けられた取り外し可能な金属の蓋808が含まれる。PCB804、コネクタ、壁部分802及び蓋808は共に、回路600の周りに連続的な電磁障壁を形成する。
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ネットワーク試験装置及び方法
【課題】ネットワークトラフィック及びネットワーク量のより現実的なエミュレーションを行うことができるスケーラブルで且つ手ごろな価格のネットワーク試験装置を提供する。
【解決手段】複数のセグメントを含む受信データストリーム(220)を連続して受け取り、該受信データストリームから受信セグメントをフィルタリングする、ストリームプロセッサコントローラ(200)と、該受信セグメントのヘッダフィールド(201)を受け取って処理するハードウェアで実施される処理ロジックを有するセグメントプロセッサ(202)と、該セグメントプロセッサ(202)へセグメントを送信する要求(211)を送信するレートジェネレータ(206)と、該出力ヘッダフィールドに応答して、送信データストリーム(221)を生成するセグメントジェネレータ(207)とを備えた装置。
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波形データ発生器、波形発生器および半導体試験装置
【課題】複数の直線を組み合わせた波形のパターンを繰り返し生成でき、メモリへの格納効率が良く、装置コストの安い、波形発生器を提供する。
【解決手段】複数の直線の線分の波形パラメータと、これらの複数の直線の線分のいくつかをつないだ1周期の波形を複数回繰り返すシーケンスデータとを格納したメモリと、前記メモリからシーケンスデータに従った複数の線分に関する波形パラメータの各々に基づいた演算を行い、1周期の波形を複数回繰り返すディジタル−アナログ変換器用データを発生するデータ発生器とを備えた波形データ発生器。
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接続インターフェース
【課題】プローブカード接続のための自動嵌合可能な同軸コネクタを備えた接続インターフェースにおいて、測定器からの同軸ケーブルによる力と関係なく、安定した自動嵌合能力を備える接続インターフェースを提供する。
【解決手段】プローブカード上の同軸コネクタと嵌合する複数の自動嵌合可能な第1の同軸コネクタを搭載した第1のベースと、前記第1のベースと所定の距離を置いて支持され、複数の第2の同軸コネクタを備えて測定器からの高周波信号用同軸ケーブルに接続される第2のベースと、各第1の同軸コネクタと、各第2の同軸コネクタとを接続する複数の同軸ケーブルであって、該各同軸ケーブルの長さは前記第1のベースと第2のベースの前記所定の距離よりも長く、また、該各同軸ケーブルは、接続する部分が所定の長さの直線部分を形成して前記第1の同軸コネクタに接続されている接続インターフェース。
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誘導結合プラズマ質量分析装置のための診断及び較正システム
【課題】プラズマ条件に係る装置の特性を短時間で診断でき、装置の設定条件を最適なものとするよう自動的に較正可能な診断及び較正のシステムを提供する。
【解決手段】本発明の診断システムは、高周波電源の出力に係る第1のパラメータと、エアロゾル中のキャリアガスの流量に係る第2のパラメータと、プラズマトーチ及びインタフェース間の距離に係る第3のパラメータとからなるパラメータの組の集合であって、感度・酸化物イオン比グラフ上で、それぞれの組に対応する測定点が、全測定点の集合として描かれる図形の高感度側の端を成す弧状の包絡線の長さ方向に沿った位置に順に並ぶように所定の配列を成すパラメータの組の集合を記憶し、該集合を構成するパラメータの各組のパラメータ値を用いて所定の診断用試料による診断測定を行い、対応する実測定点の感度・酸化物イオン比グラフにおける包絡線上の位置によって装置特性を確認するよう構成される。
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GC質量分析インターフェースシステム、方法および装置
【課題】サンプルや反応、スペクトラム等に応じてイオン源温度を最適化することを可能にする。
【解決手段】 GC質量分析システムにおいて、サンプルを導入するためのカラムと、当該カラムによって分離されることになるサンプルに熱を与えるための加熱源3と、カラムによって分離されたサンプルをイオン化するための加熱源の下流にあるイオン源であって、当該イオン源の温度を求めるためのセンサを有するイオン源5と、イオン源センサ及び加熱源に接続されるインターフェース6とを備え、当該インターフェースは、イオン源センサと加熱源との間にフィードバックループを設け、イオン源の温度又は加熱源の温度は、データ収集中に追跡され、変更されることができる、GC質量分析システムを提供する。
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測定方法、スイッチ装置、および、該スイッチ装置を備える測定システム
【課題】複数種類の測定を切り替える際の待ち時間を減らす
【解決手段】
第一の導体と第一の導体を囲む第二の導体と第二の導体を囲む第三の導体とを具備する同軸線路の第一の導体に接続された被測定物の複数種類の電気的特性を、切替装置に接続された第一の測定装置および第二の測定装置を切り替えることにより測定する方法であって、切替装置により第一の測定装置が被測定物に電気的に接続されている場合に、第一の電気的特性を測定するための電圧を第一の測定装置により第一の導体に与えるとともに、第一の導体の電位と同じ電位を第二の導体に与えるステップと、切替装置により、第一の測定装置を被測定物から切り離し、第二の測定装置を被測定物に電気的に接続するステップと、被測定物の第二の電気的特性を第二の測定装置により測定するステップとを含む。
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分析装置
【課題】水素ガスをチャンバから効率良く排気して、分析装置チャンバ内での放電他の悪影響を防止することができるよう改良された分析装置を提供する。
【解決手段】分析装置10の真空排気系は、粗引ポンプ50、及び低真空側段32と高真空側段31とを含むターボ分子ポンプ30を有する。粗引ポンプ50に結合された本体20は、実質的に粗引ポンプ50によって減圧される第1チャンバ24と、その直後でターボ分子ポンプ30の低真空側段32に結合され、水素ガスが導入される第2チャンバ25と、さらに後段でその高真空側段31に結合される第3チャンバ26とを含む。低真空側段32の中間位置に、水素ガス等の軽いガスを実質的に含まず、分子量が大きい追加ガスが導入され、排気の平衡時における低真空側段32の排気側端37の位置での水素分圧が低減される。
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