説明

アジレント・テクノロジーズ・インクにより出願された特許

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【課題】ベクトル比を検出するためにアナログ・ディジタル変換器を備えるインピーダンス測定装置において、従来よりも高い精度で測定する。
【解決手段】被測定物への印加電圧を表す信号および被測定物を流れる電流を表す信号をディジタル変換するためのアナログ・ディジタル変換器(430)を備えるインピーダンス測定装置(10)において、補正係数Gを格納する記憶手段(520)と、記憶手段に格納された補正係数Gを用いてアナログ・ディジタル変換器の出力データを補正する手段(510)を備える。補正係数Gは、インピーダンス測定装置(10)を用いて、測定の事前に取得される。 (もっと読む)


【課題】 リーク電流の大きなデバイスに対しても精度良く容量を測定することのできる容量測定装置を提供する。
【解決手段】被測定対象に電圧変動を与えるステップ電圧源として動作する第1の測定ユニットと、電圧変動の前後に被測定対象を流れるリーク電流及び電圧変動時に被測定対象を流れる充電電流を測定する電流計として動作する第2の測定ユニットに加え、被測定対象の抵抗成分を流れる電流を吸収するための電流源として動作する第3の測定ユニットを設ける。電流源の出力電流値には1ステップ前の出力電流値に1ステップ前のリーク電流の測定値を加えた値が設定される。電流計で測定される電流のうち被測定対象の抵抗成分を流れるリーク電流の大部分が電流源で吸収されるので、電流計には充電電流と前のステップでのリーク電流値と現在のステップでのリーク電流の差分のみが流れる。このため精度良く容量測定を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 短時間で高精度な画素欠陥を検査することのできる検査方法等を提供する。
【解決手段】上述した課題は、アレイ状に配置した複数の画素とデータ線とを備え、画素の各々が、保持容量と、データ線と保持容量との導通状態を制御するスイッチ素子とを備えた、TFTアレイ基板の検査方法であって、スイッチ素子を導通状態にして、データ線の電位を第1の電位に設定して、保持容量を充電するステップと、保持容量の充電後に、スイッチ素子を非導通の状態で、データ線の電位を第2の電位に設定して、所定時間保持するステップと、所定時間保持後に、スイッチ素子を導通の状態で、データ線の電位を第3の電位に設定して、保持容量から放出された電荷を検出するステップと、検出された電荷に基づいて、前記TFTアレイ基板の前記画素の良否判定を行うステップとを含み、第3の電位が、第1の電位と第2の電位の間の電位であることを特徴とする検査方法等により解決することができる。 (もっと読む)


【課題】 リーク電流の測定精度を上げて被測定対象の容量値を精度良く測定することのできる容量測定装置を提供する。
【解決手段】 被測定対象の充電時のリーク電流が印加電圧に比例することから、被測定対象の充電電流の測定と同時に印加電圧の測定を行って、この印加電圧の値を被測定対象の充電時のリーク電流値の算出に利用し、この充電時のリーク電流値を被測定対象の容量値の算出に利用する。 (もっと読む)


【課題】標準ネットワーク通信を診断テストに利用して、GPIB等の診断に固有のインタフェースの必要性をなくすとともに、ローカル及びリモートでのテストを可能にすること。
【解決手段】電子装置の図形表示ブロック図を形成し、制御可能な要素をブロック図に表示し、制御可能な要素と通信するために、ブロック図を制御可能な要素と結合することを含む、電子装置の要素を制御する方法。 (もっと読む)


【課題】同軸ケーブルアセンブリの断線の有無を高速かつ高精度に判定する試験方法を提供する。
【解決手段】複数の同軸ケーブルが並列に配置され、前記ケーブルの両端部で各々のシールド層が電気的に短絡された構造を有するケーブルアセンブリ20の断線試験方法において、前記ケーブルアセンブリ20の共振周波数を求めるステップと、あらかじめ測定した断線の無い前記ケーブルアセンブリ20の共振周波数と一致するか否かを判定することにより、前記共振周波数から前記ケーブルアセンブリ20の断線の有無を判定するステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】高マトリクス試料を連続して再現性良く測定することのできる誘導結合プラズマ質量分析装置を提供する。
【解決手段】誘導結合プラズマ質量分析装置は、プラズマトーチ20に供給されるエアロゾル中の液滴の量、当該エアロゾル中のキャリアガス76A、76Bの流量、高周波電源80のRF出力、及びプラズマトーチ20とサンプリング用インタフェース15、16との間の距離Zの全ての因子を合わせて制御する制御装置70を備える。制御装置70での制御によって、測定されるイオンの感度を所望の程度に変更して設定できるようにし、設定されるイオン検出程度の最大値と最小値の比は、イオンの感度の比で少なくとも10倍とされる。 (もっと読む)


【課題】質量分析計から得られるスペクトル等の分光データのノイズを低減する、コンピュータにより実施される方法を提供する。
【解決手段】存在値をそれぞれ有する複数のスペクトルデータ点で構成される1つまたは複数のスペクトルデータスキャンを分光器から受け取る。ノイズバーストレベルを定義して、あるスペクトル点の強度がバーストレベルよりも大きい時、その隣接点を調べる。隣接点に相関があって離散イベントであることが示された場合には、バースト点の存在値を変更する。 (もっと読む)


【課題】ノンインサータブル・デバイスを測定するネットワーク・アナライザを、従来に比べて簡単に校正する。
【解決手段】簡易Nポート校正を実施するために必要な、特性が未知のアダプタを用意し、用意したアダプタを用いて、ネットワーク・アナライザに簡易Nポート校正を施す。そして、校正時にアダプタが接続されたテスト・ポートにおいて、アダプタを取り外した状態で、オープン標準、ショート標準およびロード標準を順次測定する。最後に、各標準の測定値から求められるアダプタの特性を用いて、簡易Nポート校正により得られる校正係数を補正する。ただし、Nは2以上の整数である。 (もっと読む)


【課題】走査型プローブ顕微鏡が表面に追従する能力を高め、表面トポグラフィの描画精度を向上させること。
【解決手段】微小電気機械システム(MEMS)アクチュエータ(110)によって垂直方向に制御されるプローブ先端の位置を推定する推定器(180)を設けた。 (もっと読む)


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