一般式（Ｉ）：Ｌ［（Ｒ^1a）_n-1（ＳｉＯ_1,5）_nＲ^2a］_k［（Ｒ^1b）_n-1（ＳｉＯ_1,5）_nＲ^2b］_l［（Ｒ^1c）_n-1（ＳｉＯ_1,5）_nＲ^2c］_m、［式中（Ｒ^1a,b,c）_n-1（ＳｉＯ_1,5）_nは、ｎ＝４、６、８、１０、１２、１４、１６又は１８である多面体オリゴマーシルセスキオキサン（ＰＯＳＳ）であり、かつＲ^1a、Ｒ^1b、Ｒ^1cは、それぞれ独立して、同様又は異なる分枝鎖又は直鎖のＣ₁〜Ｃ₂₀アルキル鎖、シクロアルキル基、Ｃ₁〜Ｃ₂₀アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、ヘテロアリール基及びアリールアルキル基からなる群から選択され、ｋ、ｌ、ｍは、０又は１（但しｋ＋ｌ＋ｍ≧１）であり、Ｒ^2a、Ｒ^2b、Ｒ^2cは、多面体オリゴマーシルセスキオキサン（ＰＯＳＳ）をリガンドＬに結合するスペーサーであり、リガンドＬは、荷電していない電子ドナーである］の多面体オリゴマーシルセスキオキサン（ＰＯＳＳ）結合リガンド。 （もっと読む）

本発明は、固有抵抗を測定するための機器を使用してシラン及びゲルマンの純度を間接的に決定するための方法に関する。本発明はさらに、固有抵抗を測定するための機器を使用した品質管理を含めた、シラン又はゲルマンの工業的製造及び／又は充填のためのプラントに関する。
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