説明

サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニーにより出願された特許

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本発明は、イオンを捕捉する方法およびイオントラップアセンブリに関する。本発明は特に、質量分析計内でイオンの質量分析を行なう前に、イオントラップ内で気体を利用するイオンの捕捉に用途がある。本発明は、各ボリュームがターゲットイオントラップを含んでいて、一つのボリュームから次のボリュームへイオンが移動できるように構成された一連のボリュームからなるイオントラップアセンブリのターゲットイオントラップ内でイオンを捕捉する方法を提供し、これによりイオンが捕捉されることなく繰り返しボリュームを通過して、ターゲットイオントラップに流入および流出することが可能である。電位を用いて、イオントラップアセンブリの各々の端部からイオンを反射することができる。オプションとして、電位井戸および/または気体利用冷却を用いて、ターゲットイオントラップ内でイオンを安定させることができる。
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本発明は、未反応イオンと反応生成物イオンの両方から質量スペクトルを収集する、反応セルを含む質量分析計に関する。より詳細には(但し、他を除くものではない)、本発明は、前駆物質およびフラグメントイオンから質量スペクトルを収集するタンデム型質量分析法に使用できることが分かった。本発明は、イオンを、質量分析器へ送る前に、フラグメント化またはその他の処理のための反応セルへ送る配置を提示する。あるいは、イオンは、迂回経路に沿って質量分析器へ直接進むことができる。 (もっと読む)


本発明は反応セルを含む質量分析計およびそのような質量分析計を使用する方法に関する。特に、限定はしないが、本発明は、タンデム質量分析計およびタンデム質量分析に関する。本発明は、イオンを、質量分析計の長軸に沿って順方向に移動し、中間イオン貯蔵部を通過し、その後に反応セルに入るように誘導し、イオンを反応セル内で処理し、処理イオンを、長軸に沿って戻し、中間イオン貯蔵部にもう一度入るように放出し、処理イオンの1つまたは複数のパルスを軸外方向で質量アナライザまで放出する工程を含む、長軸を有する質量計を使用する質量分析法を提供する。
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改良によって得られたFT−ICR質量分析計では、イオン源(10)にて発生したイオンを一連の多重極(20)を介しイオントラップ(30)に送り、このトラップ(30)から一連のレンズ及び多重極イオン導路からなる段(40〜90)を通りまた出口/ゲートレンズ(110)を介し計測セル(100)内へとイオンを放出する。計測セルを真空室(240)内に装填することによってアセンブリを形成し、このアセンブリを超電導磁石(400)ボア内へと摺動移動可能とする。超電導磁石(400)は磁界供給によってセル(100)内イオンをサイクロトロン運動させる。イオン源(10)とセル(100)との距離を縮めまたイオン光学系を注意深く配列してあるため、イオンを計測セル(100)の直前まで高エネルギーで移動させられる。セル(100)は磁石ボアの長手方向に沿って且つ磁石ボアと同軸に延びる。セル内空間断面積に対する磁石ボア断面積の比は3未満という小さな値である。磁石は非対称でありそのイオン注入側が比較的短い。セル(100)はその前方から支持されており電気接続はセルの後方にて行われる。 (もっと読む)


【課題】質量分析計で使用されるRF単独多重極構造を提供する。
【解決手段】RF単独多重極は、各多重極ロッド本体の周りに形成された螺旋状の抵抗経路を含む。イオンを多重極内部を通してその縦方向軸線に沿って推進させるのを助ける半径方向に閉じ込めるRF場及び軸方向DC場を生成するために、RF電圧が、ロッド本体及び抵抗経路に印加され、DC電圧が、抵抗経路に印加される。1つの実施例では、抵抗経路は、ロッド本体上に形成されたネジ山間に形成された溝に敷かれたニクロムのような抵抗性材料のワイヤの形態を取る。本発明のRF単独多重極は、補助ロッド又は類似の補足的構造を使用して軸方向DC場を発生させる必要性を排除する。 (もっと読む)


フーリエ変換質量分析(FTMS)データを処理する方法は、時間領域過渡の一部のフーリエ変換を実施するステップと、その変換されたデータからイオンの存在を示す信号ピークを識別するステップとを備える。ピークが識別されると、全過渡は変換され、部分過渡変換において識別されたピークは、変換された全過渡の真のピークを見つけるために使用される。ランダムノイズから生じた「偽」ピークの数は、分解能と相関することが明らかとなっているので、真のピークを識別するために部分的過渡を使用することは、偽ピークが含まれるリスクを軽減する。それでもなお、この情報は、変換されるときに全データセットに適用されうる。代替として、全データセットの異なる部分が変換されてから相関されうる。あらゆるノイズはランダムであるため、偽ピークは2つの部分変換において異なる位置に発生するはずである。
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質量分析計のイオントラップ(104)は、RFトラップ電圧をイオントラップ(104)の複数の電極(102、106、110)の少なくとも1つに印加して、イオントラップ(104)内のイオンの少なくとも一部をトラップするためのRFトラップ電圧源(112)と、共鳴励起電圧パルスを電極(102、106、110)に印加して、選択されたイオンの組の少なくとも一部を衝突させ、イオンフラグメントに破壊されるようにするための共鳴励起電圧源(114)と、共鳴励起電圧パルスの終了に続く所定の遅延期間の後で、RFトラップ電圧を第2の振幅に減少させて、後の分析のために、低質量イオンフラグメントをイオントラップ(104)内に保持するようにRFトラップ電圧源(112)を制御するためのコンピュータ(116)とを含む。
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【課題】所望のレベルの質量精度を達成することができるようなTOFMSの素子に対する熱補償への解決策を提供する。
【解決手段】本発明の飛行時間型質量分析計は、少なくともイオン発生源(120)及びイオン検出器構成(160)を含む光学素子と、スペーサ(330)と、を有し、少なくとも一つの光学素子及びスペーサ(330)が異なる熱膨張係数を有する材料で作られ、ドリフト領域(140)の長さが変り、かつ温度で自己調整するように組合わされる。調整は、例えば、実質的に同じ質量対電荷比のイオンがシステムの中を通して一定の飛行時間を維持するように、他のイオン光学素子の熱膨張又は収縮から生ずる長さの変化を補償することである。これは、イオン光学素子について標準構成方法の使用を見込む。 (もっと読む)


予め定義された狭い質量電荷比範囲にあるイオンが、電場の調整及び排出周波数波形の使用によってイオントラップ内で分離される。従って質量電荷比分離ウィンドウが制御され、周波数成分の数を増加させることなく分解能が改善される。 (もっと読む)


本発明は、質量分析計内に高周波(RF)電源を備える。この電源は、RF信号を蓄積装置の電極に供給し、捕捉場を形成する。このようなイオン蓄積装置は、後続の質量分析器への放出に先立ってイオンを蓄えるために使用されることが多い。RF場は、通常、イオン放出に先立って崩壊される。本発明は、RF信号供給源、RF信号供給源により供給される信号を受信し、イオン蓄積装置の電極に供給する出力RF信号を供給するように配列されたコイル、および分路が分路によりコイル出力が短絡される第1の開いている位置と第2の閉じられている位置とを切り替えるように動作可能なスイッチを含む分路を備えるRF電源を実現する。
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