【課題】第１に、検査が自動化され、コスト面に優れると共に、第２に、検査データ等を管理すると共に一般補正データを蓄積するデータベースを、容易に構築可能な、太陽電池アレイの検査装置を提案する。
【解決手段】この検査装置１１は、検査ユニット１２を有している。そして検査ユニット１２の切換部１４は、ストリング３とパワーコンディショナ７間のケーブル接点を、常時閉の続から開の遮断に切換え可能である。検査ユニット１２の検査実施部１５は、ストリング３に入力信号を印加可能であると共に、ストリング３からの応答である出力信号を実測可能である。検査ユニット１２の制御部１６は、検査開始条件が満たされると、切換部１４を切換え動作させてから、検査実施部１５に検査を実施させる。そして、ストリング３への入力信号と、ストリング３からの出力信号とを比較して、検査結果を得る。 （もっと読む）

【課題】 故障箇所のない太陽電池モジュールの情報を必要とせずに、太陽電池モジュールの故障箇所を特定可能な故障診断方法等を提供する。
【解決手段】 太陽電池モジュールの故障箇所を推定して診断する故障診断システムにおける故障診断方法であって、故障診断システムは、入力信号を発生させて太陽電池モジュールに印加する信号発生装置と、出力信号を観測する波形観測装置と、出力信号により故障箇所を推定する診断装置と、導電体と、導電体及び／又は太陽電池モジュールの位置を制御する配置手段とを備える。故障診断方法は、導電体及び／又は太陽電池モジュールの位置を制御する制御ステップと、印加された入力信号に対する出力信号を観測する観測ステップと、出力信号により故障箇所を推定する推定ステップを含む。 （もっと読む）

【課題】 診断の分解能をさらに向上させて良好な診断結果を得ることが可能な診断装置等を提供する。
【解決手段】 診断装置１は記号挿入部３を備え、記号挿入部３は能動素子用記号挿入部５と受動素子用記号挿入部７を有する。診断装置１は発生確率付与部９と等価発生確率付与部１１と切替部１３を備える。診断装置１によるパーテストＸ故障診断フローは故障情報の収集ステージと診断の結論を出すステージで構成される。受動素子用記号挿入部７により、ディープサブミクロンＬＳＩ回路のレイアウトがしばしば多層配線を必要とし、広範囲で使用されるビアの情報が利用されるのでビアレベルでの欠陥個所を示すことが可能になり診断の分解能が大幅に向上する。発生確率付与部９により、新しい診断値を使用し、とりうる可能性のある故障の論理的組合せの発生確率を考慮するのでディープサブミクロンＬＳＩ回路の実動作がより良く反映され、診断の分解能の向上に役立つ。 （もっと読む）

【課題】 故障箇所のない太陽電池ストリングの情報を必要とせずに、太陽電池ストリングの故障箇所を特定可能な故障診断システム等を提供する。
【解決手段】 複数の太陽電池モジュールを直列に接続した太陽電池ストリングの故障箇所を推定して診断する故障診断システムであって、太陽電池ストリングの正極又は負極に入力信号を印加する信号発生装置と、入力信号に対する出力信号を観測する波形観測装置と、各出力信号により故障箇所を推定する診断装置とを備える。診断装置は、正極から負極までの距離であるストリング長を記憶する記憶手段と、各出力信号を評価して入力信号の印加から出力信号の観測までの時間である反射波到達時間をそれぞれ決定して記憶手段に記憶させる反射波評価手段と、ストリング長の情報に加え、各反射波到達時間に基づいて故障箇所を推定する演算手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】 太陽電池アレイの故障箇所を推定して診断することを実現するにあたり、設置環境による影響をも考慮に入れた故障診断システム等を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明に係る故障診断システム２７は、設置された太陽電池アレイ１に入力信号を印加して実測部２５が実測信号を得ると共に、太陽電池アレイの故障箇所を仮定した上で設置環境における太陽電池アレイを模してパラメータ決定部３９が決定した仮想モデルに対して同一の入力信号を印加してシミュレータ部３３が疑似出力信号を得る。比較部３５は、実測信号と疑似出力信号とを比較して、その比較結果から適合率算出部３７が適合率を算出する。適合率が所定の値以上であれば、適合率算出部３７は、パラメータ決定部３９が仮定した故障箇所が太陽電池アレイ１の故障箇所であると推定する。パラメータ決定、比較、適合率算出の際にはライブラリ４１が参照される。 （もっと読む）

【課題】 診断の分解能をさらに向上させて良好な診断結果を得ることが可能な診断装置等を提供する。
【解決手段】 診断装置１は記号挿入部３を備え、記号挿入部３は能動素子用記号挿入部５と受動素子用記号挿入部７を有する。診断装置１は発生確率付与部９と等価発生確率付与部１１と切替部１３を備える。診断装置１によるパーテストＸ故障診断フローは故障情報の収集ステージと診断の結論を出すステージで構成される。受動素子用記号挿入部７により、ディープサブミクロンＬＳＩ回路のレイアウトがしばしば多層配線を必要とし、広範囲で使用されるビアの情報が利用されるのでビアレベルでの欠陥個所を示すことが可能になり診断の分解能が大幅に向上する。発生確率付与部９により、新しい診断値を使用し、とりうる可能性のある故障の論理的組合せの発生確率を考慮するのでディープサブミクロンＬＳＩ回路の実動作がより良く反映され、診断の分解能の向上に役立つ。 （もっと読む）

【課題】 キャプチャ時の消費電力を効果的に削減可能とするテストベクトルを生成する生成装置等を提供する。
【解決手段】 生成装置１００は、論理回路に対してテストキューブに含まれる複数の未定値ビットに論理値を割り当ててテストベクトルを生成し、複数の未定値ビットの中から一つの割当対象未定値ビットを選択する選択部１０１と、未定値ビットを含むテストキューブによるキャプチャ遷移数を計算するキャプチャ遷移数数値化部１０３と、選択された割当対象未定値ビットに論理値０を割り当てて得られる第１テストキューブと論理値１を割り当てて得られる第２テストキューブに対してキャプチャ遷移数数値化部１０３を適用し、第１テストキューブによるキャプチャ遷移数と第２テストキューブによるキャプチャ遷移数を比較し、その少ない方に対応する論理値を選択された割当対象未定値ビットに割り当てる論理値割当部１０５を備える。 （もっと読む）

【課題】 フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。
【解決手段】 論理回路に対する初期テストベクトル集合２１６を生成する生成装置２００であって、前記初期テストベクトル集合２１６の各テストベクトルのうち、前記順序回路に含まれるスキャンセルの出力についてスキャンキャプチャの前後において論理値に相違が発生するビットの数（遷移ビット数）について所定の基準を満たして選択されるべきテストベクトルを特定する対象テストベクトル特定部２０４と、前記対象テストベクトル特定部２０４が特定した選択されるべきテストベクトルに対し、前記順序回路に含まれるスキャンセルの出力について遷移ビット数を減少させるように変換するテストベクトル集合変換部２０６とを備える。 （もっと読む）

【課題】 フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。
【解決手段】 フルスキャン順序回路に対するテストベクトル集合を変換する変換装置４００であって、テストベクトル集合の各テストベクトルからドントケアとできるドントケアビットを特定するために、所定の制約条件であって論理回路における入出力関係に基づく条件によりドントケアビットにしてもよい候補ビット、及び、ドントケアビットにしてはならない固定ビットを設定する設定部４０２と、前記設定部４０２により特定されたドントケアビットを含むテストキューブに対して、複数のビットペア間の関係を考慮して、論理値をドントケアビットに決定する論理値決定部４０４とを備える。 （もっと読む）

【課題】 活性化経路上にある信号線を積極的に考慮する全く新たな概念である故障活性化率という概念を用いてテストパターンの品質を評価可能な評価方法を提案する。
【解決手段】 論理回路に対して生成されたテストパターンの品質を評価する方法であって、論理回路は互いに接続する複数の信号線を有し、演算手段が、複数の信号線のうち所定の故障箇所により故障の影響が伝搬する可能性のある故障到達可能信号線を特定することにより演算されるその本数と、テストパターンにより故障の影響が伝搬する信号線の本数との比率を演算する演算ステップを含む。 （もっと読む）