説明

マイクロマス ユーケー リミテッドにより出願された特許

21 - 30 / 57


アナログ−デジタル変換器を備えるイオン検出器を備える飛行時間質量分析器を備えた質量分析計が開示される。アナログ−デジタル変換器からの信号がデジタル化され、イオンの到着時間および強度が決定される。各イオン到着イベントの到着時間T0および強度S0は、近接する時間ビンT(n)、T(n+1)に記憶された2つの別個の強度S(n)、S(n+1)に変換される。 (もっと読む)


衝突、フラグメンテーションまたは反応セル4を含む質量分析計を開示する。衝突、フラグメンテーションまたは反応セル4は、高フラグメンテーション動作モードと低フラグメンテーション動作モードとの間で繰り返し切り替えられる。質量スペクトルデータセットがこの2つの動作モードで得られる。小数質量フィルタを1つまたは両方のデータセットに適用する。特に、対象の親または前駆イオンに関係するフラグメントイオンまたは代謝産物を、該対象の親または前駆イオンと同様の小数質量を有することに基づいて同定する。 (もっと読む)


ガス噴霧器チューブ(2)に取り囲まれているキャピラリーチューブ(3)を備えたエレクトロスプレーイオン化イオン源が開示される。1つ以上のワイヤー(4)がキャピラリーチューブ(3)内に設けられている。被分析物溶液がキャピラリーチューブ(3)に供給され、噴霧ガスがガス噴霧器チューブ(2)に供給される。 (もっと読む)


イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極(2a)を含むイオンガイドまたは質量分析器(2)が開示される。擬ポテンシャル障壁がイオンガイドまたは質量分析器(2)の出口に作成される。擬ポテンシャル障壁の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンをイオンガイドまたは質量分析器(2)の長さに沿って推進させるために、1つ以上の過渡DC電圧(4)がイオンガイドまたは質量分析器(2)の電極(2a)に印加される。電極(2a)に印加される過渡DC電圧(4)の振幅は、イオンがそれらの質量電荷比の逆順でイオンガイドまたは質量分析器(2)から出射されるように、時間と共に増加される。 (もっと読む)


第1の扇形電場(5)および第2の扇形電場(8)を含むマルチターン飛行時間質量分析器を開示する。第2の扇形電場(8)は、第1の扇形電場(5)と直交するように配置される。イオンは、検出および質量分析される前に質量分析器を複数回周回し得る。これにより、高分解能質量分析器が提供できる。別の実施形態によると、質量分析器は、第1の扇形電場が細長く、かつさらなる扇形電場が第1の扇形電場の長さに沿って千鳥状に配置される開ループ形状を有する。第1および第2の扇形電場(5、8)は、複数の扇形電場区分に細分され得る。
(もっと読む)


【課題】改良された質量分析計および質量分析の方法を提供すること。
【解決手段】期間ΔT1におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔT2における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔT2/ΔT1を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。 (もっと読む)


イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極を含む閉ループイオンガイド(1)が開示される。イオンは、閉ループイオンガイド(1)中へ注入され、イオンガイド(1)から排出される前に閉ループイオンガイド(1)を数回周回し得る。一動作モードにおいて、イオンガイド(1)は、イオンをそのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成され得る。
(もっと読む)


電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションまたは反応モードと低フラグメンテーションまたは反応モードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第1の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第2の試料からの親イオンがデバイスを通され、第2セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、2つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって発現される場合、さらなる分析が行われて、2つの異なる試料において異なって発現されるイオンを同定しようとする。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】電子衝突解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションモードと低フラグメンテーションモードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第1の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第2の試料からの親イオンがデバイスを通され、第2セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、2つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって表現される場合、さらなる分析が行われて、2つの異なる試料において異なって表現されるイオンを同定しようとする。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源(1)から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス(4)へ移送される。フラグメンテーションデバイス(4)は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第1のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第2のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。1回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが2つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 (もっと読む)


21 - 30 / 57