マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源又はイオンイメージングデバイスであって、レーザ（１）及びズームレンズ（３、４、５）を備えるものを開示する。ズームレンズ（３、４、５）は、イオン源又はイオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレート（１３）に方向付けられたレーザビームの倍率を変動できるように配置される。 （もっと読む）

イオンガイドを備えた質量分析計を開示する。前記イオンガイドは、壁を有する中空で管状の導体（１）を備えている。前記管状の導体（１）の壁に、１以上の電極が設けられている。出口開口（３）が、１以上の電極（２）の下流で、前記管状の導体（１）の壁に設けられている。前記１以上の電極（２）にＡＣまたはＲＦ電圧を印加し、前記管状の導体（１）の壁と１以上の電極（２）との間に、ＤＣ電位差を保持する。ＤＣ電圧勾配と、電極（２）に印加するＡＣまたはＲＦ電圧との組み合わせにより、イオンは、好ましくは前記１以上の電極（２）に近接した領域に径方向に閉じ込められる。前記管状の導体（１）の内側と管状の導体（１）の外側との間に圧力勾配を保持することにより、かつ／または出口開口（３）を通してイオンを抽出する働きをするＤＣ電場を保持することにより、出口開口（３）を通してイオンガイドからイオンを抽出することが好ましい。 （もっと読む）

直交加速式飛行時間質量分析器（１３）に連結されたＭＡＬＤＩイオン源を備えた質量分析計を開示する。前記質量分析計は、特定の親イオンが質量フィルターにより選択され、第１の軸方向エネルギーをもつように加速される、第１機器設定で操作される。そして、フラグメントイオンは、第１遅延時間の後直交方向に加速され、第１質量スペクトルデータが得られる。続いて、前記質量分析計は、親イオンの軸方向エネルギーを増加させ、その結果得られるフラグメントイオンが、短縮された遅延時間の後、直交方向に加速される、第２機器設定で操作される。そして、第２質量スペクトルデータが得られる。その後、第１および第２質量スペクトルデータを組み合わせ、最終的な複合質量スペクトルを提供する。 （もっと読む）

第１の四重極ロッドセット質量フィルタ（７）、衝突セル（８）、イオン移動度分光計またはセパレータ、イオン移動度分光計またはセパレータの下流に配置されたイオンガイドまたは衝突セル（１３）、第２の四重極ロッドセット質量フィルタ（１６）、およびイオン検出器（１５）を含む質量分析計が開示される。 （もっと読む）

【目的】イオンガイド６の上流に配置される質量選択性イオントラップまたは質量分析器４を含む質量分析計を提供する。
【構成】イオンは、質量選択性イオントラップまたは質量分析器４外へ走査され、イオンガイド６内に生成または形成される１つ以上の軸方向ポテンシャル井戸により受け取られる。イオンガイド６の長さに沿って平行移動される複数の軸方向ポテンシャル井戸を生成するために、１つ以上の過渡ＤＣ電圧または電位がイオンガイド６に印加されることが好ましい。イオンは、イオンガイド６の出口からパケットとして放出され、比較的高いデューティサイクルで、直交加速飛行時間質量分析器１３のドリフトまたはフライト領域へと直交加速される。 （もっと読む）

１層以上の平面状、板状、又は網状中間電極（２）の層を備えたイオンガイド（７ａ）を開示する。第１電極（８ａ〜８ｅ）の第１アレイが上面に設けられ、第２電極（９ａ〜９ｅ）の第２アレイが下面に設けられている。イオン案内領域は、イオンガイド（７ａ）内に形成される。好ましくは、前記イオンガイド（７ａ）を通して、又はこれに沿ってイオンを推進、前進、強制移動、又は加速させるため、前記第２電極（８ａ〜８ｅ、９ａ〜９ｅ）の第１及び第２アレイに、１以上の過渡ＤＣ電圧又は電位を印加する。
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四重極ロッドセットイオンガイドまたは質量フィルタデバイス（６）を備える質量分析計が開示される。１つ以上のノッチ（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）を有する広帯域周波数信号（１０）が四重極ロッドセット（６）のロッドに印加される。ノッチ広帯域周波数信号（１０）は、不要なイオンをイオンガイド（６）から共振により排出させる。ノッチ広帯域周波数信号（１０）は、前方へ移送されることが所望のイオンの共振周波数に対応する欠落周波数成分を有する。イオンガイドまたは質量フィルタデバイス（６）は、異なる質量電荷比を有する複数の所望のイオンがイオンガイドまたは質量フィルタデバイス（６）によって同時に移送されることを可能にするが、他のイオンは、イオンガイドまたは質量フィルタデバイス（６）から共振により排出される。
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質量分析計は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）と、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）の下流側に配置されたイオンガイド（６）とを備えている。イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンが、個別の軸方向電位井戸内に閉じ込められるよう、イオンガイド（６）内で、複数の軸方向電位井戸が作られる。電位井戸は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ（４）から受け取ったイオンの忠実性および／または構成を維持する。電位井戸は、イオンガイド（６）の長手方向に沿って移動する。 （もっと読む）

衝突またはフラグメンテーションセル（５）の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ（３）を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル（５）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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イオン検出器１１を含み、イオンビームを質量分散による２の分離したイオンビームの方向に分割するために反射電極１３を用いる、磁場型質量分析器を開示する。前記２のイオンビームは２つの検出器上に向かい、それらは、好ましくは、２つのまたはそれよりも多いコンバージョンダイノード１５ａ、１５ｂ、および、前記コンバージョンダイノード１５ａ、１５ｂにより発生させられた電子を検出するための、２つのまたはそれよりも多い対応するマイクロチャンネルプレート検出器１４ａ、１４ｂを含む。前記２つの検出器からのシグナルが実質的に異なる場合、前記イオンビームは妨害イオンを含むと決定することができる。反対に、前記２つの検出器からのシグナルが実質的に等しい場合、前記イオンビームは妨害イオンを実質的に含まないと決定することができる。
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