説明

アジュハイテク・インコーポレーテッドにより出願された特許

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【課題】フレキシブル印刷回路基板の回路パターンと外観を総合して検査することができるフレキシブル印刷回路基板の総合検査システム及び方法を提供する。
【解決手段】本発明は、フレキシブル印刷回路基板の回路パターンと外観を総合して検査することができるフレキシブル印刷回路基板の総合検査システムに関することである。本発明による総合検査システムは、検査対象物が提供される巻出部と、検査を済ました前記検査対象物がアンロードされる巻取部と、前記巻出部と前記巻取部の間に位置されて前記巻出部から前記巻取部に移動される前記検査対象物を検査する検査部と、を含み、前記検査部は、前記検査対象物のパターンを検査するパターン検査部と、前記検査対象物の外観を検査する外観検査部と、を含む。 (もっと読む)


【課題】プリント回路基板の光学検査装置及びその方法を提供する。
【解決手段】本発明は、プリント回路基板に赤外線帯域の光を照射するステップと、前記プリント回路基板の映像データを獲得するステップと、前記映像データから前記プリント回路基板における異物の有無を検出するステップと、を含むプリント回路基板の光学検査装置及びその方法に関する。開示されたプリント回路基板の光学検査装置及びその方法によれば、赤外線帯域の光を利用して非伝導性異物によって不良品と判別される過検出を低減することができ、電気的な回路パターン検査及び外観検査を同時に処理することができるため、検査速度を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、フレキシブルプリント回路基板の製造方法及びその検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の製造方法は、光学検査工程で回路パターンの良否及びオープン又はショート不良を検出して、製造工程を減らすことができ、後続工程での収率を向上させることができる。本発明の検査方法は、画素単位で映像データを獲得し、回路パターン又は空間成分の幅を測定する方向と垂直方向に測定して、測定された幅が基準幅より大きな場合の不良であると、ショートと検出する。また、本発明の検査方法は、測定された幅が画素の大きさより大きな不良が検出されないと、回路パターン又は空間成分の明るさレベルを垂直方向により細かく分析して、オープン、ショート又は残留銅箔に応じる不良を検出する。本発明によれば、製造工程を簡素化し、検査工程での信頼性を高めて生産原価を減らすことができ、後続工程での未検出を最小化して、製造会社の競争力を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】プリント回路基板のような検査対象物の検査を効率的に遂行できる検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】プリント回路基板は搬入ユニット10から検査ユニット30に移動された後、順次に上面の撮影、反転、下面の撮影が行われ、搬出ユニット20に移動される。搬入ユニット10と検査ユニット30と搬出ユニット20との間のプリント回路基板の移動は、直角に配置される二つのアーム720,740を用いて搬入ユニット10から検査ユニット30にプリント回路基板の移動及び検査ユニット30から搬出ユニット20へのプリント回路基板の移動が同時に行われる。検査ユニット30でプリント回路基板が載置されるステージ340にプリント回路基板の反転のために提供されるフィンガ510が挿入される溝を形成し、フィンガ510が溝を介して移動することによってプリント回路基板をステージ340から持ち上げるか、ステージ340上に載置する。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の外観を検査するプリント回路基板の自動光学検査装置が開示される。
【解決手段】本発明によるプリント回路基板の自動光学検査装置は、プリント回路基板の下面に透過光を照射する第1照明と、プリント回路基板の上面に反射光を照射する第2照明と、前記第1照明と前記第2照明の光が同時に照射されるプリント回路基板の領域を撮像して、透過反射イメージを得る撮像部材と、前記撮像部材から透過反射イメージを受信して、異物が存在するか否かを既設定の明るさレベルと比べて判別する制御部と、を含む。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の外観を検査するプリント回路基板の自動光学検査装置が開示される。
【解決手段】本発明によるプリント回路基板の自動光学検査装置は、プリント回路基板の一面に光を照射する照明と、プリント回路基板の一面から反射する反射光を用いて、反射イメージを撮像する第1撮像部材と、プリント回路基板の一面から他面に透過する透過光を用いて、透過イメージを撮像する第2撮像部材と、前記第1、2撮像部材の各々から反射イメージと透過イメージを受信して、異物が存在するか否かを判別する制御部と、を含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、検査対象物の曲げ、垂れなどによる歪み現象を防止し得る光学検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の光学検査装置は、検査対象物が載置されるステージと、前記ステージに載置された検査対象物を撮影する撮影ユニットと、前記検査対象物に光を照射する照明ユニットと、撮影領域の平坦度を維持するために、前記撮影ユニットによって撮影される領域のエッジを支持するローリング部材(rolling member)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】検査対象物(フレキシブルプリント回路基板)の過検出を減らすことができるプリント回路基板の自動光学検査方法を提供する。
【解決手段】前記プリント回路基板上に形成されたパターン検査時に、一次に斜線方向に光を照射して得た第1反射イメージを用いて、パターン成分と空間成分をまず区別してパターン形状検査をまず行い、2次に垂直方向に光を照射して得た第2反射イメージを用いて、前記第1反射イメージから得たパターン成分の領域を参考にして表面の窪みを中心に検査する。 (もっと読む)


【課題】プリント回路基板ユニットを光学検査する自動光学検査システムのティーチング方法及び自動光学検査システムの検査方法を提供する。
【解決手段】同一なパターンのプリント回路基板ユニットを連続的に光学検査する自動光学検査システムのティーチング方法において、プリント回路基板ユニットに対するマスタデータを準備し、マスタデータを複数の細部検査領域に分割して登録し、分割された複数の細部検査領域のパターン成分を判別する基準データを登録することを特徴とする自動光学検査システムのティーチング方法。 (もっと読む)


【課題】フレキシブルプリント回路基板ユニットが連続的に形成されたフィルム又はテープ形態の検査対象物の外観を、光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システム及びその検査方法を提供する。
【解決手段】プリント回路基板を光学的に検査する自動光学検査装置において、プリント回路基板を撮影する撮影ユニットと、プリント回路基板の撮影領域に光を照射する照明ユニットと、プリント回路基板の撮影領域を支持する支持ユニットと、を備え、支持ユニットは、前記プリント回路基板の撮影領域と接触し、照明ユニットの光が透過される透過部を有することを特徴とする自動光学検査装置。 (もっと読む)


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