【課題】超並列多焦点配列におけるマルチパラメータ蛍光分析及びその使用
【解決手段】複数の焦点における蛍光パラメータを測定することにより試料の特性を分析するための方法は、分割装置（１０２）で平行一次レーザビーム（１０１）を平行二次レーザビーム（１０３）に分割し、これら二次レーザビームを、これらがフォーカシング光学部品（１０７）の光軸に対して様々な伝播角度で伝播するように偏向する工程と、前記二次レーザビームを、前記フォーカシング光学部品（１０７）を用いて前記試料内の少なくとも２つの体積要素（１０８）に焦点を合わせる工程と、検出装置（１１０）を用いて前記体積要素から発せられる光を検出する工程と、分析される特性を獲得するために前記検出された１つの光を評価する工程とを備える。
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