説明

独立行政法人日本原子力研究開発機構により出願された特許

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【課題】 電子ビーム照射において性能低下をきたすことなく、排ガスに含まれるダイオキシン類、NOx、SOxを同時に除去することができ、その結果、プロセスの簡素化および省エネルギーを図ることができる排ガス処理装置および排ガス処理方法を提供する。
【解決手段】 本発明の排ガス処理装置は、排ガスに含まれる煤塵を集塵する第1ろ過式集塵機(3)と、第1ろ過式集塵機(3)で除塵された排ガスに含まれる窒素酸化物、硫黄酸化物、有機ハロゲン化合物を分解するための電子ビームを照射する電子ビーム照射装置(4)と、電子ビーム照射装置(4)によって生じた分解物を捕捉する第2ろ過式集塵機(5)とを備えた。 (もっと読む)


【課題】
従来の放射線分解方法は、照射後の廃液がアルカリ性であり、中和等の二次処理が必要であるという問題、及び分解に必要な吸収線量が1000kGy以上と非常に高く、実用的には処理コストが高いという問題があった。
【解決手段】
ハロゲン化有機化合物を含む非含水被処理液では有機溶剤及び/又は水を加え、ハロゲン化有機化合物を含む含水被処理液では有機溶剤を加え放射線を照射することにより溶液中のハロゲン化有機化合物の分解を促進し、処理する。有機溶剤は、被処理液に含まれる溶媒より高い誘電率をもつものである。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、エネルギー制御や収束が容易で、コントラスの良いホログラムが得られる逆X線光電子ホログラフィー装置及びその測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 電子線を測定試料に照射し、該測定試料の電子線に対する姿勢を変えることにより電子線の入射角及び回転角を変化させ、該測定試料が励起されて放出される特性X線の強度変化を特定元素の原子周りの原子分解能ホログラムとして記録する逆X線光電子ホログラフィー測定方法において、該測定試料の原子の特性X線として強度を検知することにより、該測定試料に入射する電子が特定X線発生原子に到達する電子波としてのホログラフィーにおける参照波及び近接原子によって散乱された電子波としての物体波が発生し、前記参照波、物体波が合成されることで干渉パターンが形成される電子線強度のモニターとする。 (もっと読む)


【課題】少なくとも1成分の特定ガスを含有する被処理ガスから特定ガスを安価で高純度に分離することができるガス分離装置及びガス分離方法を提供する。
【解決手段】少なくとも1成分の特定ガスを含有する被処理ガスから特定ガスを分離するガス分離装置及びガス分離方法において、充填材が充填されたカラムの内部を減圧状態にしながら、被処理ガスを移送するためのガスを使用せずに被処理ガスをカラムに流通させることにより、特定ガスを安価で高純度に分離することができる。 (もっと読む)


【課題】 この出願の発明は、液体および気体中の有機化合物の分解処理方法であって、安価で実施可能な高効率で環境負荷の低い処理方法を提供すること。
【解決手段】 以下のステップ(1)(2)からなることを特徴とする有機化合物の除去方法。
(1)有機化合物を含有する気体または気体にイオン性液体を接触させ、有機化合物をイオン性液体へ抽出し気体を浄化するステップ、
(2)イオン性液体に抽出された有機化合物を放射線照射または電場印加により分解し、イオン性液体を無害化するステップ。 (もっと読む)


【課題】 高分子イオン交換膜における欠点であるイオン交換容量や電気伝導性が小さく、かつ、膜の耐酸化性が悪いことなどを解決課題とする。
【解決手段】 重合性モノマーのグラフト重合を促進する機能、水分を吸着する機能、及び、水素イオンを伝達する機能を有する機能性無機物を有機高分子樹脂に均一に混合した機能性無機/高分子膜に放射線を照射して、官能基を有する重合性モノマーをグラフト重合、又は共グラフト重合させた後、グラフト鎖へのスルホン酸基を導入することによって、 優れた電気伝導性、保水性、及び、耐酸化性を有する高分子イオン交換膜の製造法を確立した。 (もっと読む)


【課題】
従来,複数の装置を用いても測定できなかった幅広いエネルギー範囲の中性子,光子,ミューオンによる線量の高感度測定方法を提供する。
【解決手段】
有機液体シンチレータと,リチウム-6を含有した銀混入硫化亜鉛シート状シンチレータを組み合わせた検出器からの発光を,光電子増倍管で電気信号に変換した後に数本に分岐させ,各支流の電圧を,デジタル波形解析装置を用いて解析することにより検出器に入射した放射線の種類及びその発光量を決定し,各放射線に対応する発光量から線量への変換演算子を用いることにより,リアルタイムかつ高感度で中性子,光子及びミューオン線量を測定する。 (もっと読む)


【課題】
従来の方法では引き出し方向から見てプラズマ境界面が凸面となり、発散イオンビームしか得られない。
【解決手段】
従来の電場のみの制御ではプラズマ境界面が凸面にしか成り得なかったプラズマ条件でも、イオン引き出し領域に任意の磁場を与えることによりプラズマ密度分布又は/及び電子温度分布が変化し、凹面に制御することができるため、従来の方法では得られなかった高輝度ビームを得る。 (もっと読む)


【課題】 X線吸収スペクトルのノイズを小さくでき、データ解析を容易とし、分析精度を向上できる、X線吸収微細構造分析方法およびその分析装置を提供すること。
【解決課題】 ポリクロメータでX線を分光して、分光したX線をサンプル13に照射することにより、サンプル13のX線吸収微細構造を分析するX線吸収微細構造分析方法において、測定時間内に、超音波発生装置7によりサンプル13に振動を与える。これによって、サンプル13の厚さや密度が不均一となりやすい場合であっても、測定時間内に、サンプル13に振動を与えることによって、得られるサンプル13のX線吸収スペクトルのノイズを平均化することができる。そのため、X線吸収スペクトルのノイズを小さくでき、その結果、データ解析を容易とし、X線吸収微細構造分析方法の精度を向上できる。 (もっと読む)


【課題】
従来の針状サンプルのイオン化には、針先にパルス高電圧を印加するか、あるいはナノ秒レーザーを照射していた。このようなイオン化の方法では3次元アトムプローブ電界顕微鏡においては、針状サンプルの破壊を招くか、あるいは加熱による温度上昇のため分解能の低下を招いていた。また、半導体や絶縁体の分析は極めて困難であった。
【解決手段】
電界蒸発が生じる閾値以下の高電圧を印加した波長より充分小さな曲率半径をもつ針状サンプルに対して、その針先に超短パルスレーザー光を集光することにより、針状サンプルの表層の原子をイオン化により順次除去し、内部に残留応力を有する針状サンプルを破壊することなく元素の3次元分布の分析を可能とし、さらに分解能を高めるだけでなく半導体や絶縁体の分析を可能とするイオン化の方法。 (もっと読む)


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