【課題】従来の点及びアレイ検出ベース光学粒子カウンタと比較して検出感度の増強及び感知機能性の拡張に達するために２次元光学画像化を使用する粒子検出及び分析のための方法及びシステムを提供する。
【解決手段】方法及びシステムは２次元光学画像化ベース粒子感知プラットフォームを提供し、システム構成要素及び仕様は、システムに供給された粒子からの光学散乱又は放射から、粒子検出シグニチャを含む再生可能で容易に識別可能な信号を生成するように選択される。液相試料又は気相試料中の粒子を正確に高感度で検出、識別、及び特性評価する（例えば、サイズを決定する）ことができる。 （もっと読む）

エアロゾル粒子カウンタの流量をモニタリングするためのデバイスおよび方法が提供される。粒子センサは、粒子カウンタと、粒子センサ動作中に流れ測定オリフィスの両端の差圧（ＤＰ）を測定するための差圧センサを備える流れ測定オフリフィスと、臨界流オリフィスと、を有する。真空源が、粒子カウンタ、流れ測定オリフィスおよび臨界流オリフィスの各々を通して周囲ガスを吸引する。大気圧センサが大気圧（ＡＰ）を測定し、基準圧力センサが粒子センサの圧力（ＢＰ）を測定する。センサからの出力は、差圧センサ、大気圧センサおよび基準圧力センサの各々に操作可能に接続されるモニタなどによって、流動状態を特定するために使用される。このようにして、高価なセンサや他の流量制御コンポーネントを必要とせずに、目標流量からの流量の逸脱が容易にモニタリングされる。 （もっと読む）

本発明は、従来の点及びアレイ検出ベース光学粒子カウンタと比較して検出感度の増強及び感知機能性の拡張に達するために２次元光学画像化を使用する粒子検出及び分析のための方法及びシステムを提供する。本発明の方法及びシステムは２次元光学画像化ベース粒子感知プラットフォームを提供し、システム構成要素及び仕様は、システムに供給された粒子からの光学散乱又は放射から、粒子検出シグニチャを含む再生可能で容易に識別可能な信号を生成するように選択される。本発明のシステム及び方法は、液相試料又は気相試料中の粒子を正確に高感度で検出、識別、及び特性評価する（例えば、サイズを決定する）ことができる。 （もっと読む）

粒子の電磁放射のビームとの相互作用を空間的に分離することができる粒子検出システムが本明細書で説明される。特定の電磁ビームの断面形状及び方位を使用して、粒子検出システムの検出感度を改善することができる。低バックグラウンド信号を有し、粒子からの電磁放射の散乱又は放射を空間的に分離するのを可能にする方法で、粒子を検出及びサイズ分類する方法がさらに提供される。 （もっと読む）

気体又は液体粒子計数器の較正状態を検証するための、持ち運び可能であり電力消費が小さい光学粒子計数器較正検証システム、及び信頼性が高く感度の良い方法が本明細書に記載される。本発明に記載する較正検証システムは、光学粒子計数器の使用場所で光学粒子計数器の較正状態を迅速に決定するため、及び推奨される較正スケジュールにおいて示唆される前に、光学粒子計数器を再較正する必要があるかどうかをエンドユーザが判断できるようにするために有用である。 （もっと読む）

気相サンプル中の分析物を検出する方法及びシステムが提供される。分離領域中に過剰量のドーパントを有する分析物を検出するイオン移動度分光計が提供される。一実施形態では、ドーパントはドリフトガス又は拡散などによって分離領域に直接加えられ、それによって過剰ドーパントガスが供給され、過剰ドーパントはその後のクラスタ形成及び維持を支配する。分離領域中の過剰ドーパントは、ＩＭＳに導入される水蒸気などの不要物質に関連する妨害信号を最小化又は低減する。一態様では、本発明は、分析物検出のために感度及び信頼性を向上させたＩＭＳシステム及び方法を提供する。 （もっと読む）

本発明は、センサ内部の強力な光源を受動的に冷却し、それによって追加の電力を必要とせずに光源の寿命を延ばすことができるパーティクルセンサに関する。このセンサは、光源と、サンプルチャンバ内を流れているサンプル流体との光学的な相互作用によって、サンプル流体中のパーティクルを検出する。サンプルチャンバを出るサンプル流体は、光源との熱的接触に向けられ、それによって光源を冷却する。光源との熱的接触に入ってきたサンプル流体はセンサから連続的に取り除かれて、光源が十分に冷却されることを確実にする。光源とサンプル流体との熱的接触を容易にするために、プレナム、ヒートシンク、及び気流キャビティを含む様々な要素が用いられる。パーティクルセンサ内部の１つ又は複数の熱生成装置を冷却する関連方法が提供される。 （もっと読む）

流動気体に浮遊している非拘束の粒子を光学的に検出する粒子センサ（１０６）は、気体入口（１１５）および気体出口（１６２）を有する試料室（１３５）と、気体入口から試料室を通して気体出口へ気体を流す気体フローシステム（１２０）と、光源（１３４）と、試料室に光を導く光学システム（３１０，３０９）と、粒子によって気体中で散乱させられた光を集光するために設置されている光学集光システム（３３０）と、集光された光を検出するために設置されている検出システム（３４０）とを含む。気体フローシステムの両端の総圧力低下は３水柱インチ以下である。気体フローシステムは、高静圧ファンまたは逆回転ファンからなる軸流ファン（１２８）を含む。１．０ＣＦＭのシステムでは、気体入口ノズル（１３０）は２５平方ミリメートル以上の面積を有する。 （もっと読む）