説明

アルファ イーエックスエックス エービーにより出願された特許

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この発明は、測定対象(12;15;18)の特性を光学的に測定するための測定装置(6)に関し、この測定装置は、ある有効光学空洞長さを有する空洞(7)を形成する、第1および第2反射端(1、2)を有する主共振器(11)、この第1および第2反射端(1、2)の間の光ビーム経路に沿って進む光を発生するための光学ゲイン素子(3)、並びにこの光学ゲイン素子(3)とこの第2反射端(2)の間のこの光ビーム経路に沿って配置してある分散集束共振器素子(5)を含み、それでこの測定対象が少なくとも部分的にこの主共振器(11)のこの光ビーム経路内にあるように配置してあり、およびそれでこの測定装置(6)が更にこの主共振器から出た光の特性を検出するための検出手段(8)を含み、この検出した特性の値がこの測定対象の特性の尺度である。
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