説明

株式会社フィズケミックスにより出願された特許

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【課題】 結晶粒の小さな微結晶金属薄膜を用いた磁気記録媒体及びその製造方法、並びに微結晶金属薄膜の形成方法を提供する。
【解決手段】ニッケル、鉄、コバルトを含む遷移金属から選択される少なくとも1種の金属とIV族元素とを含み、軟磁性体である多結晶薄膜からなる微結晶金属薄膜102を含む。 (もっと読む)


【課題】金属シリサイドなどの金属とIV族元素との化合物からなる薄膜や実質的に金属膜として機能する高濃度に金属を含有する金属含有薄膜のパターンを成膜することができる金属含有IV族薄膜の形成方法及びこれを適用した半導体装置の製造方法並びにマイクロデバイスを提供する。
【解決手段】基板の表面にIV族元素からなるIV族薄膜を成膜した後、パターニングし、所定領域にIV族薄膜パターンを有する被処理体とする工程と、この被処理体の表面に形成されたIV族薄膜パターンに、ニッケル、鉄、コバルトを含む遷移金属から選択される少なくとも1種である金属とハロゲンとの化合物である前駆体及びハロゲンラジカルを作用させることにより、前記IV族薄膜パターンを空間選択的に金属含有IV族薄膜パターンとする工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】基板上やチャンバ内壁面にSiCの形成を可能とする。
【解決手段】チャンバ10内の基板22aへ珪素を供給すると共に、チャンバ10内へハロゲン含有ガスを供給し、ハロゲン含有ガスを解離して炭素含有部材20bから基板22aへ炭素を供給することによって基板22aにSiCを形成する。 (もっと読む)


【課題】チャンバ内のクリーニング等、所定の処理の状況を容易に把握し、その処理の終了時点を容易且つ確実に検出し得る真空処理装置を提供する。
【解決手段】チャンバ1内に帯状のレーザー光24を照射してチャンバ1内における所定の処理の結果発生し且つチャンバ1内に存在する解離物を発光させるレーザー照射手段22と、前記解離物のレーザー光24による発光分布状況をモニタして所定の画像処理を行う画像処理手段と、前記画像処理の結果得られる画像情報に基づき前記処理の終了点を検出する終了点検出手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】ウェハープロセスの過程でウェハーの周縁部に付着した不要物を効率的に除去する。
【解決手段】チャンバ30内の基板ステージ31上にウェハー20を載置する。配管38の供給口38aからヘリウムガスをチャンバ30内に導入し、プラズマ発生手段によりヘリウムガスのプラズマP1を生成する。続いて処理ガス供給用のノズル33から塩素ガスを導入して塩素ガスのプラズマP2を生成する。排気装置による排気速度を調節して、ウェハー20の周縁部で塩素ガスの濃度を高く制御し、この塩素ガスのプラズマP2でウェハー20の周縁部を包み込み、そこに付着した不要物をエッチング除去する。 (もっと読む)


【課題】基板の周縁部以外の被成膜部に金属膜を形成しうる金属膜作製装置及び金属膜作製方法を提供する。
【解決手段】チャンバ1の内部において、塩素ガスをプラズマ化して得る塩素ラジカルで、ハロゲン化物を生成し得る金属を含む材料で形成した被エッチング部材11をエッチングして金属と塩素とからなる前駆体24を形成する一方、この前駆体24を被エッチング部材11の温度よりも低温の基板3に吸着させ、その後前駆体24を塩素ラジカルで還元して金属成分を析出させることにより所定の金属膜を形成する金属膜作製装置であって、基板3を載置すると共にその載置面2aの半径が基板3の半径よりも短いサセプタ2と、載置面2aを介して基板3の被成膜部3aの温度を周縁部3bの温度よりも低温に保持する温度制御手段6を具備する。 (もっと読む)


【課題】ウェハープロセスの過程でウェハーの周縁部に付着した不要物を効率的に除去する。
【解決手段】チャンバ30のサセプタ31上にウェハー20を載置する。処理ガスを導入ノズル33からチャンバ30内に導入し、排気口32から排気する。電磁バルブ33a,32aにより処理ガスの導入速度と排気速度を調節し、チャンバ30内のガス圧を適正な範囲に保つ。トッププレート30bの外側に設けたコイルアンテナ35に高周波電流を供給し、チャンバ30内にドーナツ状のプラズマPを生成する。昇降装置36によりサセプタ31を上下に移動させ、プラズマPの分布をウェハー20に対して相対的に調節してプラズマPでウェハー20の周縁部を包み込み、そこに付着した不要物をエッチングして除去する。 (もっと読む)


【課題】金属膜作成装置のチャンバ内を効果的にクリーニングする。
【解決手段】基板34aと、ハロゲン化物を生成する金属を含む被エッチング部材32aと、を収容可能であり、内部圧力の制御が可能なチャンバ10と、チャンバ10の外部からチャンバ10の内部へ電力を導入するクリーニング用プラズマアンテナ24と、を備え、クリーニング用プラズマアンテナ24からチャンバ10内に電力を導入する空間を切り替えて選択し、原料ガスを供給した状態下において選択された空間に原料ガスのプラズマを形成し、基板34aに金属膜の成膜を行う際にチャンバ10内に付着した金属を除去する。 (もっと読む)


【課題】一つのチャンバで前処理と成膜とを連続して行うことができる薄膜作製装置を提供する。
【解決手段】成膜する金属を含む材料で形成してチャンバ1の内部に配設した被エッチング部材11に、ハロゲンを含有する作用ガス21に基づき形成したハロゲンラジカルを作用させることにより前記金属とハロゲンとの化合物である前駆体24を基板3に吸着させた後、前記ハロゲンラジカルを作用させて還元することにより基板3に前記金属の薄膜を形成する薄膜作製装置において、基板3に対する成膜前の清浄化工程である所定の前処理の終了を検出する前処理終了検出部16と、処理終了検出部16の出力信号に基づき前記ハロゲンラジカルの量を制御してエッチングモードと成膜モードとの切替えを行う制御部20とを有する。 (もっと読む)


【課題】被コーティング部材を石英とする場合においてハフニウムコーティング膜を作製し得るハフニウムコーティング膜の形成方法を提供する。
【解決手段】ハフニウムを含む材料で形成した被エッチング部材11にハロゲンガスのラジカルを作用させることによりハフニウムとハロゲンとの化合物である前駆体24のガスを形成する一方、石英の表面にシリコン膜16を形成した被コーティング部材3をチャンバ1内に収納した状態でその温度を被エッチング部材11よりも低温に保持することにより前駆体24をシリコン膜16の表面に吸着させ、その後シリコン膜16に吸着させた前駆体24にハロゲンラジカルを作用させてこの前駆体24を還元するとともにシリコン膜16のシリサイド化を進行させことによりハフニウムシリサイドを含むコーティング膜を被コーティング部材3に形成する。 (もっと読む)


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