核酸中の塩基の配列などの、線状高分子サンプル中の化学基の配列を同定するための装置及び方法が開示される。装置は、プラズモン共鳴金属で作られている鏡面、光線の発光源、及び検出領域を定める開口部の周りに配置されている１つ又は複数のプラズモン共鳴粒子からなるレンズアセンブリを有する基板を有する。粒子は、光線が検出領域のサンプル上に当てられたときに、選択された間隔が４０ｎｍ以下であるナノレンズと基板との間のギャップ内で、ナノレンズと基板表面上の直面する検出領域との間の空間内に近接場電磁ギャップモードを発生するように配列される。また、装置には、検出領域でサンプルにより放射された、又はそのサンプルから散乱された光を受け、受けた光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換する検出器、及びレンズアセンブリの開口部を通してレンズアセンブリに対してサンプルを移動し、サンプル内の連続する化学基を検出領域に位置決めするための平行移動メカニズムも含まれる。
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センサに与えられた分析物８０内の化学基の存在を検出するために、可視光レーザ励起ビーム６０及びラマン分光検出器とともに使用する光センサ及び方法が開示される。センサには、基板１０、基板１０のセンサ表面上に形成されたプラズモン共鳴ミラー２０、ミラー２０上に配置されたプラズモン共鳴粒子層４０、並びにミラー２０及び粒子層４０を隔てる約２〜４０ｎｍ厚の光学的に透明な誘電体層３０が含まれる。粒子層４０は、ｉ分析物分子８０を結合するための被覆、ｉｉ５０〜２００ｎｍの間の範囲内の実質的に均一な粒子サイズ及び形状、並びにｉｉｉレーザ励起ビームの波長よりも少ない粒子間の間隔をもつプラズモン共鳴粒子の周期的アレイを有する。デバイスは、１０^１２〜１０^１４までの増幅定数で単一の分析物分子８０を検出することができる。 （もっと読む）