説明

有限会社三井オプトロニクスにより出願された特許

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【課題】 検出手段からの出力値を適切に処理することにより、簡易にしかも迅速に被検体の温度情報を計測することができる温度情報計測方法を得ること。
【解決手段】 放射率が等しいか、又は互いの比が既知であり、かつ被検体から撮像装置内の検出手段に至る光路中までの透過率が等しいか、又は互いの比が既知の2つの波長λ1,λ2を選択する波長選択工程と、検出手段に入力する放射量と、検出手段からの出力値とから入出力特性値を求める入出力特性検出工程と、検出手段に入射される放射量に対する出力値との1次関数より、放射量が0のときの波長λ1と波長λ2について各々オフセット量Qcλ1,Qcλ2を求める算出工程と、オフセット値Qcλ1,Qcλ2と1次関数を用いて放射量Rλ1,Rλ2を求める計測工程と、放射量Rλ1,Rλ2の比を用いて該被検体の温度情報を求める温度情報計測工程とを利用して、被検体の温度情報を求めること。 (もっと読む)


【課題】 放電によるプラズマ発光下や化学発光等の外乱光がある場合でも被検体の温度情報を高精度に求めることが温度情報計測方法を得ること。
【解決手段】 3つの波長λ1、λ2、λ3を選択する波長選択工程と、被検体の同一領域から放射される放射量及び外乱光の総合の放射量を波長λ1、λ2、λ3において該検出手段で検出する検出工程と、該検出手段からの出力値より、該3つの波長のうち任意の2つの波長における放射量の比を用いて比温度計算をして該被検体の温度情報を求める式を少なくとも2式作成する温度情報作成工程と、少なくとも2式に対して、該総合の放射量から、任意の放射量を段階的に順次、差し引いて該少なくとも2式より温度情報を演算する演算工程と、該演算工程で求めた2式の温度情報が互いに等しくなるか又は予め設定した許容範囲内の値となったか否かを判断する判断工程と、を利用していること。 (もっと読む)


【課題】 計測システムにおける非線形な検出手段からの出力値を予め求めた仮想1次関数に置き換えることにより、簡易にしかも迅速に被検体の温度情報を計測することができる温度情報計測方法を得ること。
【解決手段】放射率と透過率が波長λ1と波長λ2で等しくなる2つの波長λ1、λ2を選択する波長選択工程と、
検出手段に入力する放射量と、該検出手段からの出力値とから入出力特性を求める入出力特性検出工程と、
該入出力特性値から入射放射量に対する出力値との関係に基づく仮想1次関数の勾配と仮想原点を求め、該仮想原点を通る仮想1次式を求める算出工程と、
被検体の同一領域から放射される放射量を波長λ1と波長λ2において検出し、該仮想1次式を用いて放射量を求める計測工程と、
該計測工程で求めた放射量の比を用いて温度情報を求める温度情報計測工程と、
を利用していること。 (もっと読む)


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