説明

エムディエス アナリティカル テクノロジーズ ア ビジネス ユニット オブ エムディエス インコーポレイテッドにより出願された特許

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シングルウェルまたはマルチウェルマイクロタイタープレートのそれぞれのウェルの複素インピーダンス(complex impedance )を計測するインピーダンス計測システム(ZMS)を提供する。本ZMSは、並列インピーダンス計測チャネルおよび複数のマイクロタイタープレートセンサおよびレファレンスインピーダンスネットワークをチャネルに相互接続するインピーダンス計測チャネルのマルチプレクシングの新規な組み合わせを利用し、それによりインピーダンス計測ドリフトの内部補正、最大化された計測正確性、および最小化されたシステムサイズを可能にする。
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本装置は、集積化インピーダンス測定電極を有するマルチウェルサンプルモジュール、及び各ウェルにおけるインピーダンス変化の同時測定を可能にする電気接続方法を提供する。マルチウェルサンプルモジュールの集積化インピーダンス測定電極は、電界を各ウェル内に生成し、ウェル内容物の各々のインピーダンスの変化を測定可能とする。
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