【課題】調査される材料に所定の光路に沿って所定の放射線を照射する第１の照明機器と、調査される材料を透過した放射線を記録する放射線記録空間とを備えた光透過材の光学特性の測定装置の提供。
【解決手段】放射線記録空間４は、上記第１の照明機器２によって放射された上記放射線が、まず初めに上記材料１０に当たった後に、少なくともしばらくの間、上記放射線記録空間４の内壁４ａに当たるように設けられ、実質的に上記放射線記録空間４の内壁４ａからのみ反射した及び／又は散乱した放射線を記録するように設けられた放射線検出機器１２と、上記放射線記録空間４の内壁４ａに光を照射する第２の照明機器１４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】表面の光学的特性を調査するための方法を提供する。
【解決手段】照射装置２によって表面１０に対して所定の入射角ａ１で照射され、この表面１０によって散乱及び／又は反射された放射は表面１０に対して所定の検出角度ｂ１をなして配置された、白黒画像を記録する画像記録ユニット４ａを有する放射検出装置４に達し、この放射検出装置４は放射の空間分解検出を可能とするように構成した方法である。照射装置２は表面１０に向かって第１の波長域Ｗ１と、第２の波長域Ｗ２の放射を時間的にずらして照射して、画像記録ユニット４ａは表面１０から散乱及び／又は反射された第１の空間分解画像Ｂ１及び第２の空間分解画像Ｂ２をそれぞれの波長域の照射に応じて記録する。 （もっと読む）

【課題】表面を検査する方法および装置を提供すること。
【解決手段】表面の特性を検査する方法であって、第１の所定の放出角（α_１）で、検査される表面（９）上に放射を放出するステップと、第１の受信角（β_１）で、第１の放出角（α_１）で放出されて、検査される表面（９）から反射された、放射の少なくとも一部分を受信し、受信された放射の特徴である複数の第１の測定値を出力するステップと、第２の所定の放出角（α_２）で、検査される表面（９）上に放射を放出するステップと、第２の受信角（β_２）で、第２の放出角（α_２）で放出されて、検査される表面（９）から反射された、放射の少なくとも一部分を受信し、受信された放射の特徴である複数の第２の測定値を出力するステップと、第１の測定値と第２の測定値との間の比較を実行するステップと、を包含する、方法。 （もっと読む）

【課題】高反射性面の表面特性測定に適した装置および
方法を提供する。
【解決手段】測定面（１０）は少なくとも１つの放射線装置（２）によって照射され、測定面で散乱された前記放射線のうち少なくとも１つの測定信号を出力する少なくとも１つの第１の放射線検出装置（４）とを備え、前記測定面（１０）の光沢度測定を実施するための第２の放射線装置（１２）と第２の放射線検出装置（１４）とを含む。前記第２の放射線装置（１２）は、前記測定面（１０）に所定の入射角（ａ）で放射を行い、前記第２の放射線検出装置（１４）は少なくとも前記第２の放射線装置（２）によって照射され、その後に、前記測定面（１０）から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信する。本発明によれば、前記第２の放射線装置（１２）が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面（１０）に垂直な方向（Ｍ）に対して形成される前記入射角（ａ）が５０°以下である。 （もっと読む）

【課題】表面特性を決定する方法および装置を提供すること。
【解決手段】解析されるべき表面（８）上に放射を放つ少なくとも第一の放射デバイス（３）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第一の測定信号を出力する少なくとも第一の放射検出デバイス（５）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第二の測定信号を出力する少なくとも１つのさらなる放射検出デバイス（７）とを備える、表面特性を決定する装置（１）。 （もっと読む）

【課題】角度オフセット修正を用いて、表面特性を決定する方法および装置を提供すること。
【解決手段】解析されるべき表面（８）上に放射を放つ少なくとも第一の放射デバイス（３）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第一の測定信号を出力する少なくとも第一の放射検出デバイス（５）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第二の測定信号を出力する少なくとも１つの第二の放射検出デバイス（１５）とを備える、表面特性を決定する装置（１）。 （もっと読む）

【課題】加工物の光学的表面特性を測定する装置を提供する。
【解決手段】加工物１０を配置できるキャリア４が内部に配設されたハウジング２と、所定の放射方向Ｅに沿って前記加工物１０に放射線を送出する放射装置６とを含み、前記ハウジング２は、少なくとも１つの壁面２ａに、観察用開口部８を有し、この観察用開口部８から、前記放射装置６によって照光された加工物１０の領域を、所定の観察方向Ｂで観察する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、表面特性を決定するための方法および装置を提供する。
【解決手段】検査される表面（９）上に光を放射する放射デバイス（２）を含む測色ユニット（１）であって、前記放射デバイスは、少なくとも１つの半導体ベースの光源（６）と、前記表面（９）によって散乱された前記光の少なくとも一部を受光し、この光の信号特性を出力する放射検出デバイス（１２）とを含み、前記放射検出デバイス（１２）は、そこに入射する前記光のスペクトル分析を可能にし、前記測色ユニット（１）は、前記光源（６）の少なくとも１つの電気パラメータを決定する少なくとも１つのセンサデバイス（１０）と、また、この測定されたパラメータから、前記放射デバイス（２）によって放射された前記光の特徴を示す少なくとも１つの値（Ｕ_Ｄ，Ｉ_Ｄ）を出力するプロセッサデバイス（１４）とを含むことを特徴とする、測色ユニット（１）。 （もっと読む）

【課題】本発明は、表面特性の定量測定のための方法を提供し、解析されるべき表面（８）の、多数の測定値を含んでいる空間的に分解された画像が評価される。
【解決手段】方法は、測定値によって特徴付けられ得る特定の物理的な特性を表す画像の表面積（Ａ）を決定するために、測定値を解析するステップと、物理的な特性の結果値（Ｉ）を決定するステップであって、この結果値は、測定値を解析することによって決定された表面積（Ａ）全体の物理的な特性の測定値に特有のものである、ステップと、を包含し、結果値に加えて、表面に特有のさらなる値（Ｂ）が決定され、このさらなる特徴値（Ｂ）は、結果値（Ｉ）またはこの結果値に依存する値と共に表示されることを特徴とする、方法。 （もっと読む）

【課題】本発明は、表面特性の定量測定のための方法を提供し、解析されるべき表面（８）の、多数の測定値を含んでいる空間的に分解された画像が評価される。
【解決手段】この方法は、測定値によって特徴付けられ得る特定の物理的特性を表す画像の表面積（Ａ）を決定するために、測定値を解析するステップと、この物理的特性の結果値（Ｉ）を決定するステップであって、この結果値は、測定値を解析することによって決定された表面積（Ａ）全体の物理的特性の測定値の特徴である、ステップと、を包含し、結果値（Ｉ）は、決定された表面積（Ａ）の大きさに対して出力されることを特徴とする。 （もっと読む）