サムピークを自動的に抑制するＸ線蛍光（ＸＲＦ）分析器を作動させる方法を開示する。本方法は、試料を照射して最初のエネルギスペクトルを取得する段階を含む。エネルギスペクトルは、着目元素の特徴的蛍光ピークを妨害するサムピークを識別するように処理される。識別されたサムピークに寄与する放射線を減衰させるフィルタが放出放射線経路に位置決めされ、フィルタリング済みのエネルギスペクトルが得られる。ある一定の実施形態では、フィルタリング済みエネルギスペクトルは、最初のエネルギスペクトルから計算された着目元素の検出限界（ＬＯＤ）がターゲット目標を満たさない時にのみ得られる。 （もっと読む）

【課題】進行中の測定値に応答して検出器回路のパラメータをリアルタイムで設定し、かつ変更する蛍光Ｘ線分析方法及び装置の提供。
【解決手段】サンプルの元素組成及び／又はエネルギ分解能条件に従って、Ｘ線検出器１１４のシェーピング時間及び／又は他のパルス処理パラメータを適合させる方法及び装置。Ｘ線１０４はＸ線源１０２からサンプル１１０に向けられ、これに応答してサンプルから放出される放射線（例えば、元素組成の特徴を有する蛍光発光した放射線）１０８が、入射放射線のエネルギ及び強度を示すパルスを発生するＸ線検出器１１４により検出される。元素組成の最初の分析に基づいて、シェーピング時間及び／又は他のパルス処理パラメータが、対象とするスペクトル領域内のエネルギ分解能の拘束を受けるカウント速度を最適化すべく設定される。 （もっと読む）

変更モジュール（４００、１１００）を、それ以外のときには当初の主電池（２００）が機器（１００）に接続される位置である機器の電池端子に電気的に接続し、ホットスワップ対応電池（６００）を変更モジュール（４００、１１００）に電気的に接続することにより、機器（１００）はホットスワップ対応電池（６００）で動作するように変更され、電池（６００）を交換するために機器（１００）を停止させることがなくなる。充電済みのホットスワップ対応電池（６００）が変更モジュール（４００、１１００）に接続されると、変更モジュール（４００、１１００）は、ホットスワップ対応電池（６００）から機器（１００）に電力を供給する。変更モジュール（４００、１０００）は、ブリッジバッテリ（８００）と回路（８０４、８０８、９００、９０４、１００４、１００８、１０１０）を備え、この回路は、ホットスワップ対応電池（６００）からブリッジバッテリ（８００）を充電し、ホットスワップ対応電池（６００）の交換中は、ブリッジバッテリ（８００）から機器（１００）に電力を供給する。変更モジュール（４００、１１００）は、ホットスワップ対応電池（６００）が取り外された後も、モジュール（４００、１１００）を機器の電池端子と接触した状態に保つ、着脱可能構造（４１０）を備えていてもよい。変更モジュール（４００、１１００）は、機器（１００）が受け入れるように構成されている主電池と同様のフォームファクタおよび電源供給端子（４０４、４０８）を有していてもよい。
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Ｘ線又は他の放射ビームを使用した物体の検査の技術、特に、符号化放射ビームを用いて物体を照明し、物体によって散乱された及び／又は物体を通して伝達された放射線を検出することによって物体を検査するための装置及び方法を提供する。物体を検査するための装置は、物体の被検査領域を照明するために扇ビーム又はフラッドビームを利用する。可動マスクの形態を取ることができる変調器は、被検査領域の各セグメントが所定の時間的シーケンスに従って変動する放射線量を受け取るようにビームを動的に符号化する。物体からの放射線を受け取る後方散乱検出器又は任意的な透過検出器によって生成され得られる信号は、被検査領域の画像を構成することができるように、空間情報を再生するために復号される。 （もっと読む）

【課題】ハンドヘルドのＸ線蛍光測定装置からのＸ線の漏れを防止する。
【解決手段】本発明は、テスト材料の元素の組成を測定するための測定装置であって、テスト材料の被照射領域を照射するための透過放射線源と、テスト材料による蛍光放射線を検出し、検出信号を発生するための検出器と、検出信号を、テスト材料の組成の特徴を定めるスペクトルに変換するためのコントローラと、テスト材料の表面に実質的に平行な方向の、被照射領域からのラジアル距離と共に厚さが減少することを特徴とする減衰材料のプラテンと、を備える。テスト材料の被照射表面に隣接し、この照射表面から外側に延びると共に、この表面を囲むように、減衰材料のプラテンが延びている。所定の実施形態では、テスト材料の中心被照射領域からのラジアル距離が増加するにつれ、減衰プラテンの厚さが薄くなるように減衰プラテンにはテーパが付けられている。 （もっと読む）

発光分光（ＯＥＳ）分析器、特に、内蔵型の手持ち式ＯＥＳ分析器を提供する。サンプルの組成を分析するための手持ち式内蔵型バッテリ式試験計器は、サンプルの少なくとも一部分を励起するための励振器、サンプルの励起部分から光信号を受信するための小型の交差分散分光計、及び分光計からの光信号に関するスペクトルデータを処理するためのプロセッサを含む。励振器は、スパーク発生器、及びサンプル部分から光信号を発生させるための対極、レーザ、又は他のデバイスを含むことができる。分光計は、試験計器が一般合金を識別するのに必要な炭素、燐、硫黄、マンガン、シリコン、鉄、及び他の元素の相対量を検出して判断することを可能にするのに十分広い波長範囲を有する。分光計は、小さな熱膨張係数（ＣＴＥ）を有する軽量材料で作られた構造部材を含む。分光計は、分光計の温度を制御することなく予測周囲温度の範囲にわたって寸法的に安定である。 （もっと読む）

線形センサアレイを使用した分光法を提供する。スペクトルの時間分解分析は、電荷転送デバイス感光性ピクセルセルの１次元アレイを照射し、集積回路に感光性セルと並置されたそれぞれのストレージセル（行ストレージレジスタ）に感光性セルにおける電荷を定期的に非破壊的に複写することによって実行される。ストレージセルの少なくとも一部に格納された電荷に関する情報は、集積回路の外部の構成要素に供給される。 （もっと読む）

手持ち型自蔵式蛍光Ｘ線（ＸＲＦ）分析装置（２００）が、ミリメートルサイズの特性寸法の試料（６０４）領域の元素組成を問い合わせるために試料（６０４）上に小さなＸ線スポットを生じさせる。分析装置（２００）は、Ｘ線ビーム（３０４）を試料（６０４）上の所望の場所に向かって照準合わせするＸ線源を有する。分析装置（２００）は、分析装置（２００）を照準合わせしやすいようＸ線スポットによって問い合わせされる又は問い合わせされそうである試料（６０４）の部分の方へ差し向けられたディジタルカメラ（３１６）を有するのが良い。分析装置は、Ｘ線ビーム（３０４）によって照明される又は照明されそうである試料（６０４）の部分を指示するよう表示画像中にレチクル（９０８，９１０）を発生させるのが良い。分析装置（２００）は、スポットと検出器（３１４）との間の光路に沿って位置決めされた検出器用コリメータ（１２００）を有するのが良い。分析装置（２００）は、ビーム（３０４）及び応答信号（３１２）が通過するチャンバと、パージガスをチャンバに提供するためのパージガスタンク（２５０２）の端部を受け入れる継手とを有するのが良い。分析装置（２００）は、チャンバ内に存在している周囲ガスの量を検出するよう動作するセンサを有するのが良い。分析装置（２００）内におけるレチクルの存在場所を較正する較正用標的（２２００）及び方法（２３００〜２３０８）が提供される。 （もっと読む）

標準型Ｘ線管又は他の多色放出光源から集中単色Ｘ線ビームを得るための方法。Ｘ線管のアノードからのＸ線は、隣接の独立標的に蛍光を投与し、この標的は、単色スペクトルを発生させ、その一部は、Ｘ線光学系によって焦点合わせされる。この２段法は、信号の過度の損失を生じさせないでシステムに相当高い汎用性を与える。２段式集中装置は、手持ち型及び携帯型機器の焦点合わせ光学素子の使用を実用的にする。 （もっと読む）

例えばプルトニウム等の中性子エミッタの検出を容易にする中性子検出器と、例えばウラン等のガンマ線源の検出を容易にするガンマ線検出器と、を含む、選択的放射線検出装置である。その装置は、第１の光検出器に光学的に接続された第１の導光部と、第２の光検出器に光学的に接続された第２の導光部と、入射する光学光子に対して不透明な、第１及び第２の導光部の間に挟まれた中性子シンチレータシートとを含む。第２の導光部は、ガンマ線シンチレータ物質を含む。 （もっと読む）