ミッション環境トランスミッタとミッション環境レシーバとの間のハイスピード・シリアル・リンクをテストするための物理層テスタである。このテスタは、データ・パス及び測定パスを備えている。該データ・パスは、上記ミッション環境トランスミッタから送られたデータ信号が、本テスタを介して上記ミッション環境レシーバに渡されることを可能にする。該測定パスは、上記ハイスピード・シリアル・リンク上の上記ハイスピード・シリアル・データのトラフィックの特性を分析することにおいて使用するための回路を備えている。本テスタは、上記ハイスピード・シリアル・リンク内に置かれ、このリンク上に生のミッション環境データが存在する間に該リンクをテストすることを可能にしている。また、インリンク・テスティングを実現するための方法を開示する。
（もっと読む）

ハイスピード信号テスティング・システムであって、オシロスコープの機能性を有するパターン・テスタを、極小の実現コストで提供するためのデジタル回路を備えたものである。このデジタル回路は、ハイスピード繰り返し時間基準信号を供給する時間基準発生器を備えている。この時間基準信号は、サブサンプラ及び蓄積メモリと共に、本システムが１以上の関心のビットを拡大し、その部分を分析することを可能なようにするものであり、該１以上の関心のビットは、被テスト信号上に存在する繰り返しパターン内のものである。そのような関心の部分は、立ち上がり及び立ち下がりのエッジ、並びに一定の高いビット値及び低いビット値を含んでいる。 （もっと読む）

１以上の被テスト信号のサンプリングを制御するための、独自の時間基準発生技法を利用する信号完全性測定のシステム及び方法である。本開示に従い作成した時間基準発生器は、位相フィルタ及び変調回路を備えており、これらは、シグマデルタ変調器の出力の関数として、高速に変化する位相信号を発生させるものである。この位相フィルタは、該高速に変化する位相信号から所望でない高い周波数の位相成分をフィルタする。フィルタされた該信号は、１以上のサンプラをクロックするために使用され、それによって上記の被テスト信号のサンプリングの事例を生成する。次に、これらサンプリングの事例を、被テスト信号の種類に適した何らかの１以上の様々な技法を使用して分析する。 （もっと読む）

高速シリアルトランシーバ回路をテストするためのテスタである。このテスタはジッタ生成器を含み、このジッタ生成器は、急速に変化する位相選択用信号を使用し、２つ以上の互いに異なる位相のクロック信号から選択し、位相変調した信号を生成する。この位相選択用信号は低い周波数の成分および高い周波数の成分を含むよう設計する。前記位相変調した信号は位相フィルタへの入力であり、この位相フィルタは所望でない高い周波数の成分をフィルタする。前記位相フィルタのフィルタ処理出力は、データ送信シリアライザへの入力であり、このデータ送信シリアライザは、前記トランシーバ回路への入力のため、ロースピードパラレルワードを高速のジッタ付与テストパターンへシリアライズする。
（もっと読む）