エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョンにより出願された特許

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イオントラップを有するイオントラップ分光計システムを動作させる方法が提供される。本方法は、a)第1の検体を含むイオン群を提供することと、b)第1の検体以外のイオンを除去することによって、フィルタリングされた第1の検体を提供することと、c)フィルタリングされた第1の検体をイオントラップ内に格納することと、d)第1の較正用イオン集合をイオントラップ内に格納することであって、第1の較正用イオン集合は、既知の電荷質量比を有する少なくとも1つの較正用イオンを有することと、e)フィルタリングされた第1の検体および第1のイオン集合をイオントラップから透過させることと、f)第1の検体質量信号ピークを発生させ、各較正用イオンを検出し、関連する較正用質量信号ピークを発生させることと、g)既知の電荷質量比と、較正用質量信号ピークとを比較することによって、第1の質量信号を較正することと、を含む。
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本出願人の教示は、高周波(RF)および交流(AC)電流の両方のロッドまたは他の電極への同時印加を通して、正および負の電荷の両方のイオンを同時に収容するための多極ロッドセットまたは他の多電極デバイスを組み込む、質量分析計および他のデバイスの操作の際に有用な方法、システム、および装置を提供する。一実施形態において、多極電極セットは、複数の電極対、すなわち2N個の電極(Nは、1より大きい整数)を備える。そのような実施形態では、RF電圧は、第1の位相で1つおきのロッドに、反対の位相で残りのロッドに印加され得る。
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イオントラップを有する質量分析計システムを操作する方法が提供される。本方法は、第1の群の前駆イオンおよび第1の複数のフラグメントのうちの少なくとも1つ内の選択された特徴を符号化することを備え、第1の複数のフラグメントイオンは、第1の選択された特徴を有し、他のイオンは、第1の選択された特徴を欠くように、符号化操作は、他のイオンには適用されずに、第1の群の前駆イオンおよび第1の複数のフラグメントのうちの少なくとも1つに適用される。 (もっと読む)


質量スペクトルにおける背景ノイズを低減するシステムおよび方法。方法は、以下のステップを含む。すなわち、(a)原質量スペクトルを得るステップと、(b)原質量スペクトルにおける背景ノイズに対応するノイズ質量スペクトルを決定するステップと、(c)原質量スペクトルからノイズ質量スペクトルを減じることによって、補正された質量スペクトルを決定するステップとである。該方法のステップ(b)は、A)原質量スペクトルを周波数領域に変換し、原周波数スペクトルを得るステップと、B)原周波数スペクトルにおいて少なくとも1つの卓越周波数を同定するステップと、C)卓越周波数に対して選択的にフィルタリングすることによってノイズ周波数スペクトルを生成するステップと、D)ノイズ質量スペクトルを質量領域に変換することによって、ノイズ質量スペクトルを決定するステップとを含み得る。
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二次イオン質量分析法のための装置が提供され、該装置は、標的面上の試料を支える、標的面と、一次イオンのビームを試料の方に導き、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出すように構成されるイオン源とを有する。入口を有する第1のチャンバは、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置において高い圧力を維持するために気体を提供し、高い圧力は、約10−3〜約1000トルの範囲内である。二次イオン質量分析法の方法が提供され、該方法は、試料を支える標的面を有し、一次イオンのビームを試料の方に導いて、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出し、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置に高い圧力を提供し、高い圧力は、約10−3〜約1000トルの範囲内である。
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細長いロッドセットと一組の補助電極とを有する質量分析計を動作させる方法であって、ロッドセットは入口端部と出口端部と長手方向軸とを有する、方法が提供される。方法は、a)ロッドセットの入口端部の中にイオンを導くステップと、b)ロッドセットの出口端部に隣接する出口部材にバリア電界を生成し、かつロッドセットのロッド間にRF電界を生成することによって、ロッドセットにおいてイオンの少なくとも一部を捕獲するステップと、c)補助AC励起電圧を一組の補助電極に提供して、選択された質量対電荷の第1のグループのイオンにエネルギを与えるステップとを包含する。
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質量分析計のサンプリング注入口と同軸上にある入口点でチャンバを部分的に画定する境界部材を通じて、試料を導入するための方法を記載する。無電界状態が、チャンバの少なくとも1つの領域に確立され得る。試料は、サンプリング注入口の近接に導入され得て、少なくとも第2の試料の導入は、該サンプリング注入口に近接しないチャンバ内の少なくとも1つの他の入口点を通じて導入され得る。サンプリング注入口およびチャンバを部分的に画定する境界部材を有する装置もまた、記載する。無電界状態が、チャンバの少なくとも1つの領域において確立され得て、源が通って試料を放出する境界部材において、第1の開口が存在し得る。関連デバイス、使用、および質量分析計もまた、記載する。
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イオンフラックスを計算するシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析計は、試料からイオンのビームを発生させるイオン源と該イオン源の下流に置かれる少なくとも1つの検出器とを含む。該少なくとも1つの検出器は、複数の検出器チャネルを備えている。質量分析計はまた、複数の検出器チャネルに動作可能に連結されたコントローラを含む。該コントローラは、各検出器チャネルに関連づけられたイオン存在度データを決定することと、各検出器チャネルに関連づけられた補正されたイオン存在度データを決定することと、検出器チャネルの各々に対するイオン存在度データに対応する信頼度データを決定することと、イオン存在度データおよび信頼度データの両方に関連づけられたイオンフラックスの信頼度で重みづけされた存在度推定を決定することとを行なうように構成される。
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動的画素質量分析結像または動的画素結像のための方法が開示される。方法は、レーザビームを走査される試料に当て、その結果、レーザビームが試料から検体を放出することを含む。レーザビームおよび試料は次いで、互いに対して移動され、その結果、レーザビームは、試料上の所定の経路を実質的に連続的にトレースし、所定の経路に沿って試料から検体を放出する。放出された検体の質量分析が行なわれる。方法は、試料に関係する仮想の限定領域を作ることをさらに包含する。
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ロッドセットを有する質量分析計を動作する方法が提供される。該ロッドセットは、第1端部と、該第1端部の反対側の第2端部と、該第1端部および該第2端部との間に延在する長手方向軸とを有する。該方法は、a)ロッドセットにイオンを導入するステップと、b)該ロッドセット内のイオンのうちの少なくとも一部を、i)第1バリア場を生成すること、ii)第2バリア場を生成すること、およびiii)集合場を提供することにより捕捉するステップと、c)上記イオンにおける第1群のイオンの第1の選択された質量対電荷比を選択するステップと、d)該第1群のイオンに対する集合場の選択された特性の第1励起レベルを決定するステップと、e)該第1群のイオンを共鳴励起して、上記集合場の選択された特性を上記第1励起レベルまで調整するステップと、f)励起時間間隔の間、上記集合場の選択された特性を上記第1励起レベルに維持するステップとを含む。
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