説明

ジーイー・インスペクション・テクノロジーズ・ リミテッドにより出願された特許

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【課題】締め具を含有する構造を高速で走査し、次いで欠陥が顕示され評価されうるようにデータを処理する方法を有する、構造物の非破壊試験方法を提供する。締め具の近くまたは下の傷を自動的に検査するための非破壊法を提供する。
【解決手段】取得画像と呼ばれる、1つまたは複数の締め具を含有する画像を取得するステップと、次いで、取得画像から、基準画像と呼ばれる、知られている良好な材料の中の締め具の第2の画像を取得または選択するステップとを含む。基準画像を使用して、取得画像の中の締め具のすべての例の場所が、自動的に突き止められる。取得画像の中の、締め具の材料に関する情報が除去され、次いで、結果画像が、締め具においてもしくはその近くに位置する、母材内の傷を探すために検査されてよい。締め具の画像が取得画像から除去されるため、何らかの欠陥を識別することが、極めて容易になる。欠陥を、確実にかつ速やかに識別できる。 (もっと読む)


【課題】材料や構造内で腐食、クラックなどの欠陥を検出する。
【解決手段】探触子(1)とテスト対象構造(2)の表面の間のリフトオフ分離のバラツキによって構造内の欠陥の検出がマスクされることが多い。既知のリフトオフにおける基準信号(23)を対応する計算した比パラメータで重み付けしてテスト信号(32)から差し引くことによってリフトオフを補償することができる。多数の基準信号を取得することが好ましく、また各基準信号ごとに最大規模傾斜(24)を決定することが好まし。後続のテスト信号(33)に対する最大規模傾斜も取得されると共に、テスト信号に最も近い最大規模傾斜をもつ対応する基準信号が特定され、関連する補償手順においてこの対応する基準信号が選択される。この方法によって信号が修復され、リフトオフが排除されかつ欠陥が容易に特定できる。 (もっと読む)


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