説明

WIT株式会社により出願された特許

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【課題】プリント配線板に反りが生じた場合にも、検査ポイントを不良箇所に合わせて表示する。
【解決手段】電子部品が実装された配線基板5の外側縁5aを支持する支持部6と、検査対象となる電子部品を撮像する撮像装置7と、配線基板5の法線方向に拡散し、検査対象となる電子部品について設定された要検査部位を通過する扇状の第1の光線を斜め上方から照射する第1の照射装置8aと、配線基板5の法線方向に拡散し、電子部品の要検査部位を通過する扇状の第2の光線を斜め上方から照射する第2の照射装置8bとを備え、第1の光線と第2の光線とが交叉することにより、配線基板5の検査ポイントPを示す。 (もっと読む)


【課題】プローブ先端形状が変化しても針入抵抗の変化を小さくでき、研磨層(クリーナ層)に対する針入量のバラツキを小さくして全てのテストプローブを均一にクリーニングする。また表面での付着物捕捉作用を増大させてテストの信頼性向上と製品の歩止まり向上を可能にする。
【解決手段】微細な研磨剤が混入されかつテストプローブ(16,18)の先端が進入可能な研磨層(42)と、この研磨層(42)の少なくとも一方の表面に積層され高分子ゲルから成る表面層(44)とを備え、テストプローブ(16,18)の先端を表面層(44)から研磨層(42)に進入させることによりクリーニングする。 (もっと読む)


【課題】不具合箇所が見付かった基板を検査ラインから除外せずに修理し、その修理が適正だったか後で調べられるようにし、検査部位を予めプログラムしておく必要を無くす。
【解決手段】a)少なくとも一部の検査工程12A〜12Hでは、不具合箇所の修理を行う;b)ステップa)で不具合箇所を修理した時に不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前および修理後の少なくとも一方の画像とを読込む;c)ステップb)で読込んだ不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とをデータベース16に蓄積する;d)ステップc)でデータベース16に蓄積した不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とを、適時に読出す。 (もっと読む)


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