説明

サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハーにより出願された特許

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【課題】イオンを効果的に輸送する。
【解決手段】質量分析計の圧力の高い領域と低い領域との間でイオンを輸送するためのイオン移送装置は、イオン移送導管60を含んでいる。導管60は、相対的に圧力の高いチャンバ40に向いて開いている吸込口と、相対的に圧力の低いチャンバに向いて開いている排出口70とを備えている。導管60はまた、イオン移送チャネル115を取り囲む、少なくとも1つの側壁も備えている。側壁は、イオン移送チャネル115内から、導管60の側壁の外側の、圧力の低い領域へガスが流れるよう、側壁の長手方向に形成した複数の開口部140を含んでいる。 (もっと読む)


本発明は、荷電粒子を検出するための検出装置を提供し、この装置は、入射荷電粒子を受け取ったことに応答して二次荷電粒子を発生させる二次粒子発生器と、二次粒子発生器により発生された二次荷電粒子を受け取り、検出する荷電粒子検出器と、二次粒子発生器により発生された二次荷電粒子を受け取ったことに応答して光子を発生させる光子発生器と、光子発生器により発生された光子を検出する光子検出器と、を含む。また、検出装置を含む質量分析計、TOF型質量分析計における検出装置の使用、およびTOF型質量分析計の検出ダイナミックレンジを改善する方法も提供される。 (もっと読む)


本発明は、荷電粒子を検出する検出装置を提供し、この装置は、
入射荷電粒子か入射荷電粒子から生成された二次荷電粒子のいずれかを受け取り、検出する荷電粒子検出器と、
荷電粒子検出器によって受け取られ、検出されたものと同じ入射荷電粒子または荷電粒子から生成された二次荷電粒子の少なくとも一部を受け取ったことに応答して光子を発生させる光子発生器と、
光子発生器によって発生された光子を検出する光子検出器と、
を備える。
また、検出装置を含む質量分析計、TOF型質量分析計における検出装置の使用および、TOF型質量分析計の検出ダイナミックレンジを改善する方法も提供される。 (もっと読む)


飛行時間質量分光分析に有用な方法および分析器が提供される。荷電粒子を分離する方法が、2つの対向するミラーを備える分析器を提供するステップを含み、各ミラーが、軸zに沿って細長い内側および外側電場定義電極システムを備え、外側システムが内側システムを取り囲み、それらの間に分析器体積を画定し、ミラーが、z軸に沿って対向する電場を備える電場を分析器体積内部に生成し、電場のz軸に沿った強度が平面z=0で最小であり、方法がさらに、分析器を通して荷電粒子のビームを飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器体積内部でz軸の周りを周回し、一方のミラーから他方のミラーに少なくとも1回反射し、それによりミラー内部に最大変向点を定義するステップを含み、最大変向点での電場のz軸に沿った強度がXであり、電場のz軸に沿った絶対強度が、平面z=0と各ミラーでの最大変向点の間でz軸に沿った方向の2/3以下にわたって|X|/2未満であり、方法がさらに、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップと、複数のm/zを有する荷電粒子の少なくともいくつかを分析器から出射する、または複数のm/zを有する荷電粒子の少なくともいくつかを検出するステップとを含み、出射または検出するステップが、粒子がz軸の周りで同じ回数の周回を経た後に行われる。 (もっと読む)


分析器を使用して荷電粒子を分離する方法であって、荷電粒子のビームを分析器を通して飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器内部で分析器の分析器軸(z)の方向で少なくとも1回の全振動を受けるとともに主飛行経路に沿って軸(z)の周りを周回するステップと、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を制約するステップと、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップとを含む方法が提供される。上記方法を行うための分析器も提供される。好ましくは、発散を制約するために少なくとも1つの円弧集束レンズが使用され、この円弧集束レンズは、ビームの各側に位置された1対の対向した電極を備えることがある。実質的に同じz座標に位置された円弧集束レンズのアレイを使用することができ、アレイ内の円弧集束レンズが円弧方向で離隔配置され、アレイがz軸の周りに少なくとも部分的に延在し、それにより、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を複数回制約する。 (もっと読む)


イオンの運動エネルギーを変える方法であって、イオントラップの捕捉領域にイオンを捕捉するステップと、捕捉領域を通してガスビームを指向するステップとを含み、それにより捕捉イオンの運動エネルギーを変える方法が提供される。また、イオンを分離する方法であって、イオンが捕捉領域の第1の軸に沿ってイオントラップの捕捉領域に入るようにするステップと、第1の軸に沿ってガスビームを指向するステップと、第1の軸の方向で電位を印加するステップとを含み、イオン移動度に基づいてイオンの分離を引き起こす方法が提供される。この方法を行うためのイオントラップおよび質量分析計も提供される。
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2つのモードの間で質量分析器への電源の切換えを行なう方法が提供されている。第1の所定の持続時間の間動作させられる第1の動作モードにおいて、質量分析器に結合された第1の電源が第1の非ゼロ電位を生成し、その一方で、質量分析器から切断された第2の電源が第2の非ゼロ電位を生成する。第2の所定の持続時間の間動作させられる第2の動作モードでは、第2の電位は質量分析器に結合され、その一方で、質量分析器から切断された第1の電源は第1の電位を生成する。これらの所定の持続時間は、いかなる場合でも、第1の電位および第2の電位のうちの一方のみが質量分析器に結合され、かつ第1および第2の動作モードが既定の長さの時間内で少なくとも一回実施されるように選択される。
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前駆体イオン種をそれらのフラグメントから同定する方法が、複数の前駆体イオン種およびそれらのフラグメントの質量スペクトルを高質量精度で得るステップを含む。次いで、複数の前駆体イオン種のフラグメント化から得られたフラグメント質量スペクトルが走査され、合算した質量が前駆体イオン種の1つの質量と合致するフラグメントの対を同定する。フラグメントイオンの対が前駆体イオンに合致された後、複合のフラグメントイオンスペクトルがいくつかの部分に分解され、フラグメントの対ごとに1つの部分である。分析は、さらなる対が同定されなくなるまで続く。次いで、複合のフラグメントスペクトルの分解された区域を一体に継ぎ合わせることによって、各前駆体試料イオンごとに単純化されたフラグメントイオンスペクトルが再構成される。得られた再構成されて単純化されたフラグメントスペクトルが、サーチエンジンに送られ、サーチエンジンは、各合成フラグメントイオンスペクトルごとに有力候補のスコアソートリストを返す。
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本発明は、多重反射式飛行時間型質量分析器でイオンを反射させる方法を提供し、この方法は、複数の電極を有するイオンミラーを設けるステップであって、イオンミラーが、ミラー内のイオンの飛行時間分離方向に一般的に位置するイオンミラーの長手軸(Z)に各々が直交する第1の副軸(Y)及び第2の主軸(X)を有する断面を有するステップと、イオンをイオンミラーに向かって導くステップと、電界を生成するように電圧を電極に印加するステップであって、これが、(a)イオンの平均軌道を、ミラーの長手(z)軸及び主軸(X)を含むイオンミラーの対称平面に交差させ、(b)イオンをイオンミラーで反射させ、(c)イオンを、イオンミラーを通過するイオンの平均軌道が、対称平面に直交して且つそこから発散する方向(Y)における運動成分を有するような方向で、イオンミラーから脱出させる、ステップと、を包含する。
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質量分析のシステムおよび方法が提供される。第1のイオン蓄積装置内および第2のイオン蓄積装置内に、イオン源からのイオンが蓄積される。第1の分析期間中に分析するために、第1の射出期間中、第1のイオン蓄積装置から第1の質量分析装置へイオンが射出される。第2の射出期間中、第2のイオン蓄積装置から第2の質量分析装置へイオンが射出される。イオン蓄積装置は、第1のイオン蓄積装置のイオン輸送開口が第2のイオン蓄積装置のイオン輸送開口と連通するように、直列に接続される。第1の分析期間と第2の射出期間は、少なくとも部分的に重なる。
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