説明

株式会社システムロードにより出願された特許

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【課題】光透過性を有する被測定物の形状を、精度良く迅速に測定する方法を提供する。
【解決手段】光照射手段1と光検出手段2を被測定物3の表面3a側に配置し、既知形状の反射面4aを有する反射手段4を被測定物3の裏面3b側に配置する。次に光照射手段1から測定光5を表面3aに照射する。測定光5のうち、表面3aで反射した第1の反射光8と、被測定物3を透過して裏面3bで反射した第2の反射光9と、被測定物3内を透過した透過光5のうち反射面4aで反射された第3の反射光10とを含む反射干渉光7を光検出手段2で検出する。そして反射干渉光7の光強度スペクトルを分析し、第1および第2の反射光8、9からなる第1の干渉光成分から被測定物3の厚みtを算出し、第2および第3の反射光9、10からなる第2の干渉光成分から裏面3bと反射面4a間の距離dを算出し、厚みtと距離dに基づいて被測定物3の形状を求める。 (もっと読む)


【課題】高価な積分球を用いることなく、積分球方式と同等の測定結果を得ることができる、測定効率のよい、光源の光学特性の測定装置および測定方法ならびに該測定装置を備えた検査装置を提供する。
【解決手段】光源と、光源から放射される光を直接受光する受光部を有する複数の受光手段と、受光手段支持手段とを準備し、光源を仮想球体の中心に配置し、各受光手段の受光部のうち少なくとも2つを、仮想球体に内接する仮想正多面体の各面の面中心、各辺の中点または各頂点に対応する位置もしくはこれらのいずれかの組み合わせに対応する位置に配置し、光源を発光させ、各受光手段の出力を検出して、光源の分光スペクトル情報を抽出し、この分光スペクトル情報を演算処理して、光源の光学特性を解析する。 (もっと読む)


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