説明

株式会社アイ・ピー・システムにより出願された特許

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【課題】多層に構成された部分を有する透明な成形物について、多層中の特定の層の有無や、層構成の異なる位置、または層のムラを安定的に精度よく検出可能な検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】少なくとも2層に構成された部分を有する、透明な検査対象物1を検査する検査装置20は、検査対象物1に照射する、第1の波長λ1の光と第1の波長λ1とは異なる第2の波長λ2の光を放射する面光源31と;第1の波長λ1と第2の波長λ2の光が照射された検査対象物1を撮影する撮像装置41と;第1の波長λ1と第2の波長λ2の光のそれぞれについて、撮像装置41により撮影された画像データから各画素の濃度値を抽出し、画素毎に第1の波長λ1の光と第2の波長λ2の光について画素濃度の比を求める演算装置51とを備える。さらに検査装置20では、演算装置51が前記画素濃度の比の変化量に基づいて、検査対象物1の良/不良を判断する。 (もっと読む)


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