スミス・デイテクシヨン・インコーポレーテツドにより出願された特許
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光電子工学的像拡大システム
【課題】汎用のFT−IR分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。
【解決手段】この拡大システムは、見ようとする物体を照射する光源(38、39)、レンズ(31)および照射された物体からの光を受ける光検出器のアレイ(32)からつくられた小型化された光電子拡大モジュール(MOM)、MOMからの信号を受取る電子回路(34)、該電子回路からの拡大された信号を受取り像を表示するビデオのモニター(35)を含んでいる。この光電子工学的像拡大システムは、観測するのに歴史的な複式顕微鏡または特殊な光学的観察システムを必要としたような小さい物体または物体の小さい特徴を観測することができる。
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