サンプルの臨界角又はその近くの入射角である一定の位置でサンプルに導入される電磁放射線でサンプルを励起するようになった電磁放射線源と、電磁放射線源及びサンプルと連通状態にあり、電磁放射線を内部に反射するようになった高屈折率を有する透過結晶と、電磁放射線を透過結晶とサンプルの間の臨界角の近くの入射角又はその近くでサンプルに導入するようになった反射器と、サンプルからの電磁放射線を検出するための検出器とを含むサンプルのスペクトル特性を検出するサンプルの臨界角に適応された分光測定装置を説明する。同じく本明細書に提供するのは、方法、システム、及び近臨界反射分光測定装置を組み込むキットである。 （もっと読む）

試料のスペクトル特性を検出する試料の臨界角に配向された分光測定装置を説明し、装置は、試料の臨界角か又はそれに近い入射角で試料に導入される電磁放射線によって試料を励振するようになった電磁放射線源、電磁放射線源及び試料と連通状態にあり、電磁放射線を内部に反射するようになった高屈折率を有する透過結晶、透過結晶と試料の間の臨界角か又はそれに近い入射角で電磁放射線を試料に導入するようになった反射器、及び試料からの電磁放射線を検出するための検出器から成る。本明細書で同じく提供するのは、近臨界反射分光測定装置を組み込んでいる方法、システム、及びキットである。 （もっと読む）