【課題】光源が照射する光の光軸上に検出器を設置し，粒子群に含まれる粒子により生じた前方散乱光を検出することによってその粒径を計測する。また，光源からの光が粒子によって散乱されずに直接入射する光の光量を極力減少させつつ，粒径を一意に正確に計測。
【解決手段】基本的には，集光レーザビームで発生する放射圧を用いて，粒子群に含まれる粒子をビーム集光位置に誘導して粒子によって散乱されない直接透過光を極力減少させることにより，最大の前方散乱強度を測定し粒径を一意に計測できるという知見に基づく。すなわち，粒径測定装置及び粒径測定方法は，入射光による光放射圧を利用して，粒子を集光位置に強制的に移動させ，前方散乱光を検出する。 （もっと読む）