説明

テクノバリュー カンパニー リミテッドにより出願された特許

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本発明は、構造物の変形率測定用装置及びそれを用いた構造物の変形率測定方法に関する。さらに詳しくは、本発明の構造物の変形率測定用装置は、一定の間隔で配列されたナノ粒子を含有する光結晶層を含む。本発明によると、様々な産業構造物が使用荷重などにより変形された場合、当該部分の構造色変化または磁束変化を測定することによって、より簡単、且つ容易に構造物の正確な変形有無及び変形率を測定でき、これにより構造物の過多変形による安全事故の発生を防止することができる。 (もっと読む)


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