説明

エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッドにより出願された特許

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質量分析システムには、低圧分離領域および微分移動度分光計が含まれる。微分移動度分光計には、イオンフロー経路を画定する少なくとも一対のフィルタ電極が含まれ、このイオンフロー経路において、フィルタ電極は、サンプルイオンのイオン移動度特性に基づいてサンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成する。微分移動度分光計にはまた、DCおよびRF電圧をフィルタ電極の少なくとも1つに供給して、電界を生成する電圧源と、低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るイオン入口と、サンプルイオンの選択された部分を出力するイオン出口と、が含まれる。質量分光計は、サンプルイオンの選択された部分のいくらかまたは全てを受け取る。
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