説明

アイメックにより出願された特許

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【課題】本発明は、メモリ用途のセレクタデバイスに関する。
【解決手段】本発明に係るセレクタデバイスは、MIT素子およびこれに熱的に連動する分割ヒータを備えたメモリアレイ内のメモリ素子を選択するためのセレクタデバイスであって、MIT素子は、MIT材料構成要素とバリア構成要素とを有し、分割ヒータを用いて相転移温度より高い温度に加熱されることにより、高抵抗状態から低抵抗状態に切り換え可能であり、バリア構成要素は、高抵抗状態にあるMIT素子の抵抗値を大きくするように構成されたことを特徴とするものである。セレクタデバイス。 (もっと読む)


【課題】レジスト層のパターニングを用いてGaNLED層を選択的に織地化する。
【解決手段】GaNLEDデバイスを製造する方法に関し、少なくともGaN層を含むスタック層が織地化される。該方法は、その表面に前記スタック層を備えた基板を用意するステップと、レジスト層を前記スタック層に直接に堆積させるステップと、前記レジスト層の1つ又はそれ以上の第1部分を覆い、前記レジスト層の1つ又はそれ以上の第2部分を覆っていないマスクを、前記レジスト層の上方に位置決めするステップと、前記レジスト層の第2部分を光源に露出するステップと、マスクを除去するステップと、レジスト層を、カリウム(potassium)を含む現像液に接触させるステップとを踏む。前記現像液は、露光された前記レジスト部分の下方に位置したエリアにおいて、表面に湿式エッチングを施すことによって、露光された前記レジスト部分を除去し、前記スタックの少なくとも上部層の表面を織地化する。 (もっと読む)


【課題】有害な界面層を形成する追加の酸化が生じない、高い誘電率の誘電体を備えたMIMCAP構造を提供する。
【解決手段】電子デバイスが、第1電極と、チタン酸化物および第1ドーパントイオンを含む誘電体材料層とを含む。誘電体材料層は、第1電極の上に形成される。第1ドーパントイオンは、Ti4+イオンと比べて10%またはそれ以下のサイズ不整合を有し、誘電体材料は、650℃未満の温度でルチル正方結晶構造を有する。電子デバイスは、誘電体材料層の上に形成された第2電極を備える。 (もっと読む)


【課題】メモリデバイス中の酸素拡散バリアとしてRuおよび/またはRuO2を選択的に形成する方法と、そのようなRu系拡散バリアを有するメモリデバイスを提供する。
【解決手段】MIMキャパシタ構造を形成する方法は、導電性の下部電極プラグ33を露出させるリセスを備えたベース構造を得る工程と、ベース構造材料に比較した下部電極プラグ上へのRu成長の培養時間の違いに基づいて、下部電極プラグ上にRu50を選択成長させる工程と、選択成長したRu50を酸化する工程と、酸化したRu50の上にRu含有下部電極60を堆積する工程と、Ru含有下部電極60の上に誘電体層70を形成する工程と、誘電体層70の上に導電性の上部電極71を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】第1、第2ゲートを有するトンネルトランジスタで、第1、第2のゲート間の電圧の差がより小さい場合にしようできるトンネルトランジスタを提供する。
【解決手段】ドレイン2、ソース4およびドレイン2とソース4との間で電流を制御するための少なくとも第1ゲート6とを含み、第1および第2のゲート誘電体材料7、11の第1側9、13が、それぞれ第1および第2の半導体部分14、15に実質的に沿って、実質的に接続して配置されたトンネルトランジスタ1。 (もっと読む)


【課題】Ruの選択成長と非選択成長を適用した半導体デバイスの相互接続配線の製造方法を提供する。
【解決手段】プラズマ増強原子層堆積チャンバ内に基板を準備し、基板は、露出した第1材料を有する第1領域と、露出した第2材料を有する第2領域とを含み、第1材料は金属窒化物又は窒化可能な金属を含み、第2材料は窒化不可能な金属又はシリコン酸化物を含むようにし、(a)第1ステップとして貴金属前駆体をチャンバに供給して、貴金属前駆体をキャリアガスの存在下で基板に接触させ、続いて貴金属前駆体をパージするステップ、アンモニア及びキャリアガスをチャンバに供給しつつ基板をプラズマに曝露するステップを繰り返し実施することにより、第1領域でなく第2領域上で貴金属層を選択的に堆積させ、次に(b)基板をアンモニア及びキャリアガスプラズマに曝露するステップと、貴金属前駆体を基板に接触させるステップで非選択的に堆積させる。 (もっと読む)


【課題】断熱構造を持つマイクロ流体デバイスを提供する。
【解決手段】半導体基板と、半導体基板内の少なくとも1つのマイクロリアクタ105と、半導体基板内でマイクロリアクタに接続された1つ以上のマイクロ流体チャネル101と、マイクロ流体チャネルを封止するための、半導体基板に接合されたカバー層と、マイクロリアクタ及びマイクロ流体チャネルを包囲する基板貫通トレンチ100とを備えたマイクロ流体デバイス104であって、基板貫通トレンチは空隙であるか、または断熱材料で充填されている、マイクロ流体デバイス (もっと読む)


【課題】リソグラフィプロセス条件を決定するための良好な方法およびシステムを提供する。
【解決手段】リソグラフィプロセスのためのリソグラフィプロセス条件を決定する方法およびシステムが記載される。入力を取得した後、非矩形状サブ分解能アシスト特徴部を許容する条件下で、照明光源特よびマスク設計について第1の最適化を行う。続いて、矩形状サブ分解能アシスト特徴部だけが許容される1つ又はそれ以上の追加の最適化において、マスク設計が最適化される。これにより良好なリソグラフィプロセスが得られるとともに、マスク設計の複雑性を制限する。 (もっと読む)


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