説明

株式会社ヒューテックにより出願された特許

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【課題】表面に細かな凹凸を有する部材であってもその表面の欠陥を検出できる欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】被検査対象Sの表面の欠陥を検査する装置であって、被検査対象Sに向けて光を放出する投光手段10と、被検査対象Sの表面において反射した光を受光する受光素子21sを備えた撮影手段20と、を備えており、投光手段10は、光源11と、光源11と被検査対象Sとの間に設けられた、光源11から被検査対象Sに照射される光を制限する遮光部材15と、を備えており、遮光部材15は、光源11から放出される光を通過させるスリット15hを備えており、スリット15hは、被検査対象Sの表面が平坦面である場合において、該スリットを通過して前記被検査対象の表面で反射する光の光軸方向と前記撮影手段の受光部の光軸方向とが同軸となるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】製函機等に関し、事前調整を容易にできるようにして、オペレータの負担を軽減させながら適正な製函を確実に行なうことができるようにする。
【解決手段】印刷部により製函用シート10aに印刷された印刷面の画像を取得するカメラ51と、印刷の見本となるマスター画像の特定絵柄とカメラ51により取得された印刷面の画像中の前記特定絵柄に応じて指定された領域内の絵柄とを比較して各印刷ユニット2a〜2dにおける見当ズレ量をそれぞれ求めて、見当ズレ量に基づいて各印刷ユニット2a〜2dに装備された見当調整機構を制御して印刷の見当を修正する見当修正制御部60と、を備える。 (もっと読む)


【課題】表面に細かな凹凸を有する部材であってもその表面の欠陥を検出できる欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】被検査対象Sの表面の欠陥を検査する装置であって、被検査対象Sに光を照射する投光手段10と、被検査対象Sの表面において反射した光を受光する受光部とを備えた撮影手段20とからなり、投光手段10は、一列に並んで配置された複数の発光体13を有する光源11と、光源11と被検査対象Sとの間に設けられた、各発光体13から被検査対象Sに照射される光を制限する遮光部材15を備えており、遮光部材15は、各発光体13から放出される光のうち、発光体13が並んでいる方向において、各発光体13の光軸から一定の範囲よりも内側の光を遮断し得る複数の遮断部15aを備えている。 (もっと読む)


【課題】印刷検査位置における枚葉紙の浮き上がりやバタつきを防いだ状態で印刷検査を行うことができる印刷検査装置を提供する。
【解決手段】印刷欠陥を検査する検査装置であって、圧胴102上を移動する枚葉紙Pの表面を撮影する撮影手段2と、圧胴102上を移動する枚葉紙Pに対して、撮影手段2の撮影位置より枚葉紙Pの移動方向下流側に空気を吹き付けるエア吹付手段5とを備えており、エア吹付手段5は、枚葉紙Pに吹き付けた空気が、枚葉紙Pの表面に沿って、枚葉紙Pの移動方向上流側流れるようにエア吹付け角度が調整されている。エア吹付手段から枚葉紙に吹き付けられた空気が、枚葉紙の表面に沿って上流側に流れるから、枚葉紙は圧胴表面に密着するから、枚葉紙にしわができることを防ぐことができる。枚葉紙の後端まで空気が流れるから、後方部分のバタつきを防ぐこともできるし、撮影位置に余剰エアが溜まることがない。 (もっと読む)


【課題】紙等のシート製造ライン等において使用する検査設備をコンパクト化できる光学検査装置を提供する。
【解決手段】連続して搬送されるシートPの欠陥を検査する装置であって、シートPに対して光を照射する光源5と、光源5からシートPに照射された光を受光する受光手段2と、受光手段2と光源5の作動を制御する制御部と、受光手段2が受光した光に基づいて欠陥検出処理を行う処理部とを有する制御手段3とを備えており、光源5は、シートPに対して光を照射する角度が異なる複数の発光源を備えている。複数の発光源から異なる角度でシートPに複数の光を照射しているので、一方向からの光では検出できなかった欠陥でも検出することができる。従来、発光源ごとに必要であった受光系や制御系を一系統にすることができる。複数台の検査装置を備えていた検査設備について、検査装置の台数を少なくすることができ、検査設備を小型化することができる。 (もっと読む)


【課題】光学的方法を使用して長期間安定した検査を行うことができる長寿命光源を有する検査装置およびその制御方法を提供する。
【解決手段】長尺な検査対象Sの表面検査に使用される長寿命光源を有する検査装置であって、検査対象Sに光を照射する光源11と、光源11の作動を制御する制御部30とを備えた投光手段10と、投光手段10から検査対象Sに照射された光の反射光を受光する受光手段20とを備えており、投光手段10は、光源11が、検査対象S上の同一の検査位置SAに光を照射する複数のLEDセットLを備えており、制御部30は、複数のLEDセットLのうち、検査対象Sに対して光を照射するLEDセットLを切り換える切換手段32を備えており、制御部30は、検査位置SAで反射され受光手段20に入光する光量が所定の量となるように、各LEDセットLから検査対象S上に照射する光の光量を調整する。 (もっと読む)


【課題】装置構成を複雑化することなく、油等の影響を抑えて表面欠陥の検出精度を高くすることができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】被検査対象Sの表面の欠陥を検査する装置であって、入射側偏光部材12と、被検査対象Sに光を照射する光源11とを備えた投光手段10と、受光側偏光部材22と、被検査対象Sの表面において反射した光を受光側偏光部材22を通して受光する受光部21とを備えた撮影手段20とからなり、投光手段10の入射側偏光部材12は、光源11から被測定対象Sに向けて放出される光の一部が、入射側偏光部材12を透過せずに被測定対象Sの表面に直接照射されるように設けられている。液体の影響を低減した反射光を撮影手段20が受光するので、被測定対象Sの表面欠陥の検出精度を高くすることができる。 (もっと読む)


【課題】被検査対象に実際の欠陥検出に近い状態で自己診断を行うことができる自己診断機能を備えた品質検査装置を提供する。
【解決手段】被検査対象Sに光を照射する光源10と、光源10から被検査対象Sに照射した光の反射光又は透過光を受光する撮影手段20を備えた品質検査装置1であって、光源10が、複数の発光体11と、複数の発光体11の作動を制御する制御手段30とからなり、制御手段30は、複数の発光体11のうち、発光させる発光体11を選択し、選択された各発光体11の発光量を決定する機能を有するものである。選択する発光体11の位置および数と、選択された各発光体11の発光量を制御すれば、実際に発生する欠陥に類似した擬似欠陥像を被検査対象Sに形成することができる。すると、撮影手段20が正常に撮影を行っているか、又は欠陥の検出が正確に行われているかを的確に判断することができる。 (もっと読む)


【課題】凹凸等の欠陥を簡単な構成で精度よく検出できる欠陥検査装置を提供するを提供する。
【解決手段】被検査対象Sに対して光を照射する光源10と、被検査対象Sの表面で反射した光を受光する撮影手段20とを備えており、光源10は、略シート状の光を被検査対象Sに照射するものであり、撮影手段20は、被検査対象Sで反射した反射光を受光する撮像装置21と、撮像装置21と被検査対象Sとの間に設けられた、撮像装置21に入光する反射光を制限するスリット23sを有する絞り部材23とからなり、絞り部材23のスリット23sは、その軸方向23aが、被検査対象Sの表面で反射した略シート状の光の反射光と斜めに交差するように形成されている。 (もっと読む)


【課題】印刷画像から検出された欠陥画像に対して正確に欠陥判定・欠陥分類を行うことが可能になり、欠陥画像を複数種別に分類可能な外観検査装置を提供する。
【解決手段】撮像装置10により得られた撮像画像から欠陥画像を検出する欠陥画像検出装置20と、欠陥画像から複数種類の特徴量を抽出し、その組み合わせに基づいて欠陥画像を予め規定された複数種別に分類する欠陥分類装置30とを具備する。欠陥分類装置30は、画像内の複数点間の明るさの組み合わせに基づいて共起ヒストグラム画像を作成する共起ヒストグラム画像作成部42と、欠陥画像をフィルタ処理して特徴を抽出するとともに共起ヒストグラム画像を分析して特徴を抽出する特徴抽出回路40と、特徴抽出回路により得られた特徴から複数種類の特徴量を抽出する特徴量抽出回路60と、特徴量抽出手段により得られた複数種類の特徴量の組み合わせに基づいて欠陥画像を予め規定された複数種別に分類する欠陥分類回路70とを具備する。 (もっと読む)


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