説明

アルファクス株式会社により出願された特許

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【課題】 従来、粘着シート上に配置されているチップワークを精度よく良好にスピーディに剥離し、次工程へ搬送する装置が存在していなかったという点である。
【解決手段】 粘着シートの表面側の粘着層上に配置されたLEDチップもしくはLDチップを、前記粘着シートの裏面側から工具で突き上げ剥離させ、ピックアップして次工程へ搬送するLEDチップもしくはLDチップの粘着シートからの剥離搬送装置であって、前記した工具は上端を錐状としたホーン部材とし、その下方に配設された超音波振動子から振動を加えられるものとしたこととする。 (もっと読む)


【課題】 従来、航空写真をベースとして地図を作成するに際して、住所、建造物名、河川名、道路名、交差点名等の様々な地図注記の情報は現地に赴いての調査や資料を判読しての調査等を必要とし、甚大な費用と時間を費やしていたという点である。
【解決手段】 地上に存在する各種建造物や施設に地図注記として必要な情報を備えたタグを敷設し、そのタグを敷設した状態の航空写真を撮影し、その航空写真を基として前記したタグから地図注記情報を画像処理により自動認識して情報を得ることとする。 (もっと読む)


【課題】多数のレーザダイオードを複数の温度域に対し、一つづつ自動測定する。
【解決手段】一回の回転角を45度とした円形なインデックステーブルの外周縁近傍に45度ピッチで8個のワーク受け入れホルダーを備え、そのホルダーを、1つ置きに高温および中温測定用のものとし、前記ホルダーの特定の位置をワークの供給部とし、その供給部から回転方向に数えて6つめの位置を測定部とする。まず、供給部に位置するホルダーに一つめのワークを供給し、45度で2回回転させ、前記供給部に位置するホルダーに二つめのワークを供給し、前記一つめのワークが測定部で高温あるいは中温で測定が終了すると、回転方向の前隣となる測定済と異なる温度のホルダーへ移載し、再び前記測定部で異なる温度での測定を行い、測定終了後、その第一のワークを測定部より回転方向で1つ前隣となる位置でピックアップし、収納する。この作業をワークの数だけ繰り返す。 (もっと読む)


【課題】 従来のLED照明具は、そのLEDから照射される光の広がり範囲が狭く限定されてしまうという点である。
【解決手段】 複数のLEDを搭載する基板のLED搭載装備面を多面状もしくは曲面状としてあることとし、前記した基板は光の照射方向に対し、凸状としてあることとし、前記した基板は光の照射方向に対し、凹状としてあることとし、前記した基板を多面状とした場合、中央に少なくとも四つ以上のコーナーを有する平面部を有し、その平面部の各コーナーを結ぶ直線を一縁とする複数のテーパ面を有していることとする。 (もっと読む)


【課題】 半導体レーザごとに、また、各々の光出力ごとに測定をしなければならず、極めて長時間を必要とせざるを得ない、また、複数の波長を同時に出力させて、それを分割するという格別な要素が必要で使用する部品点数が増大してしまうという点である。
【解決手段】 先端に共用の光検出素子を備え、半導体レーザの光学特性(光出力、FFP、偏光比等)を検査することで複数のレーザ光を出力する半導体レーザの検査装置で、複数の対象となる半導体レーザに、独立した指定パルス駆動電流を時分割で供給し、各々の半導体レーザに対応する独立した給電手段と、その各々の給電装置と対応する同期パルス信号供給部と、前記した半導体レーザから出力される複数のレーザ光の光出力を時分割で検出する検出手段とを有し、前記した同期パルス信号供給部及び検出手段と対応して半導体レーザが良品であるか不良品であるかの判定を行う判定手段とを有していることとする。 (もっと読む)


【課題】 従来、プローブを利用して半導体素子の特性を検査する装置にあっては、半導体素子の端子と接離するプローブによって、その端子が曲げられてしまう虞もあり、複数本の端子の検査時における完全な分離状態の維持が困難となってしまうという点であり、プローブの端子が剥がれる等の劣化も生じてしまう点である。
【解決手段】 半導体素子の端子に対して相互に対向して平行移動するホルダーを有し、そのホルダーに先端に接点となる金合金で形成されたプローブチップを固着し、バネ性を有するプローブを有し、前記したプローブチップで前記した端子に直接接触することとし、ターンテーブルの周縁に適宜ピッチで固着され、被検査ワークとなる半導体素子を嵌着する透孔部を形成したローディングプレートを有する半導体素子の検査装置において、前記した透孔部に下方から対向して半導体素子の端子のスペーサ部材を備えていることとする。 (もっと読む)


【課題】 従来、プローブを利用して半導体素子の特性を検査する装置にあってはプローブを複数種必要とし、また、リード線が長くなってしまい、高速パルスが通りにくくなって検査の精度に支障をきたしてしまう虞があったという点である。
【解決手段】 半導体素子の検査装置は保持部材に装填された半導体素子の端子を少なくとも先端が傾動及び復元可能とされたプローブ部材で電気的に接触させることとし、前記したプローブ部材は半導体素子の端子数と対応して複数設けられ、保持部材に装填された半導体素子を中心として放射位置に配設されていることとし、プローブ部材はプローブチップを先端に固着した板バネで成形されており、その板バネは中途に鈍角とされた少なくとも一箇所以上の屈折部により、先端を内方に寄せて、基板に固着形成されていることとする。 (もっと読む)


【課題】 過大な電流が発生してから、それを検出し、抑えようと制御するために、どのような回路でも応答帯域に限界があるため、速度的に間に合わず、過渡的なサージ電流を十分に抑制することは困難であったという点である。
【解決手段】 本発明回路は、被測定素子に印加される電圧を交流的に帰還するループを備え、かつ、流れる電流の異常状態を検出する機能を備え、その場合には、被測定素子に印加される電圧を直流的にも帰還する機能を備えていることとし、また、電圧帰還する帰還量/帰還率は、交流的帰還と直流的帰還の場合、および電流設定値と電流検出値との差、極性などによって、変化させることが可能となる機能を有することとする。 (もっと読む)


【課題】 ワークを検査するに際して、ワークの温度を早急に高温とし安定させる必要があるが、従来はその加熱手段として熱風の吹き付けを行なっており、この方法ではワークホルダーにも温度変化を生じさせ、状況を不安定なものとしてしまうという点である。
【解決手段】 半導体レーザの特性検査方法はワークトレーに並列されたワークをターンテーブルに設けられたワークホルダーに搬送する搬送ハンドを加熱することとし、半導体レーザの特性検査装置はワークトレーに並列されているワークをターンテーブルに設けられたワークホルダーに搬送し、そのターンテーブルを所定時間ごとに回転させ、そのポジションごとに種々の特性を検査する半導体レーザの特性検査装置において、前記ワークを搬送する搬送ハンドに加熱ヒータ又はペルチェ素子及び温度センサを具備していることとする。 (もっと読む)


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