説明

レコ コーポレイションにより出願された特許

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【課題】不活性ガス溶解分析装置に関し、詳細には不活性キャリアガスの最終スクラバを交換するための改良されたシステムを提供する。
【解決手段】元素分析装置の不活性キャリアガス流路における最終スクラバ15は、フィルタ管と密封ガス取付具を含む迅速最終スクラバハウジング30を選択的にバイパスするための弁を備えたマニホールド20を有する。ハウジング30は、ハウジング30を機器のマニホールド20に位置合わせし密封係合状態で固定するための位置合わせ部材とラッチとを有する。スイッチがハウジング30の存在を検出し、制御回路は弁を制御して、不活性ガス流をフィルタ管内に通したり、或いは、ハウジング30が取り外されたきにはフィルタ管をバイパスするようにする。このシステムにより、中断なしにキャリアガスが炉内に流れ続けている間に工具を使用することなく最終スクラバを素早く取り外し交換することができる。 (もっと読む)






イオン操作システムが、メッシュを貫通するRF電場によるイオン反発を含む。別のイオン操作システムは、メッシュのまわりの対称RF電場内にイオンを捕捉することを含む。システムは、巨視的部品、即ち容易に入手可能な微細メッシュ、又はMEMS若しくは柔軟PCB方法によって作成された小型化装置を使用する。一用途は、中間及び高ガス圧力での収束によるガスイオン源からのイオン移動である。別の用途は、トラップ配列内でのTOF MS用のパルスイオンパケットの形成である。そのような捕捉は、RF電場のパルススイッチングと、好ましくはパルス蒸気脱離によって形成されたガスパルスとを伴うことが好ましい。フラグメンテーション又はイオン・粒子間反応への露出の際及び質量分離のためのイオン誘導、イオン流操作、捕捉、パルスイオンパケットの作成、イオン閉じ込めが開示される。イオンクロマトグラフィは、質量依存ウェル深さを有する1組の多重トラップを通るガス流内のイオン通路を使用する。 (もっと読む)


ドリフト方向(Z)に延在されると共に平行電極で構成され、無電場領域によって分離された2個の疑似平面静電イオンミラーを含む多重反射飛行時間(MR−TOF)質量分析計。MR−TOFは、ドリフト方向Zに垂直なX方向に対して小さな角度でイオンパケットを放出するパルス化イオン源を有する。イオンパケットは、イオンミラー間で反射され、ドリフト方向にドリフトする。ミラーは、レシーバ上でイオンパケットが飛行時間収束するように配置される。MR−TOFミラーは、ドリフト方向Zとイオン注入方向Xの両方に垂直なY方向での空間収束を提供する。好ましい実施形態では、少なくとも1個のミラーが、イオンパケットをドリフトZ方向に周期的に空間収束する特徴部を有する。 (もっと読む)



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