ここに記載されているのは、ガス流（２）における化合物を質量分析によって検出する方法である。この方法には、化合物のイオンを形成してガス流（２）における体積ユニットをイオン化することが含まれており、ここでこのイオン化は、ガス流と交わるビーム（９，１０）を介して行われ、これらのビームは、電子パルスまたは電子パルス列および光子パルスまたは光子パルス列が交互に切り換わることによって形成される。またこの方法には、電場（１３）によってイオンを進路変更して質量分析法を実施することならびに質量分析法によってイオンを検出することが含まれる。本発明の課題は、上記のような方法を提案して、測定範囲を拡げ、分解能を格段に改善することである。この課題は、上記の光子パルスまたは光子パルス列をエキシマランプ（１１）によって形成し、電子パルスまたは電子パルス列と、光子パルスまたは光子パルス列との切り換えを５０Hz以上の切換替え周波数で行うことによって解決される。
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