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Fターム[2F061TT00]の内容

機械的手段による測長計器 (2,489) | ゲージ (104)

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Fターム[2F061TT00]に分類される特許

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【課題】標準片を用いた測定機の性能評価に要する作業時間の短縮と作業負担の軽減を実現する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】標準片10は、断面1−1’で単純な断面形状を呈する複数の溝(10a、10b、10c、10d)を所定方向に含む。また、溝の断面形状の所定方向の長さは、所定方向に隣接する所定数の溝毎に異なる。 (もっと読む)


【課題】検査具の支持構造において、簡易な構成により検査具を回転自在に支持可能とすることにより、装置コストの低減および検査作業の効率化を実現する。
【解決手段】円筒状または円柱状を呈するねじゲージ2を検査具支持装置によって支持する検査具支持構造において、検査具支持装置が、ねじゲージをその軸心X周りに回転自在に支持する円環状の支持体3と、この支持体の吊り下げに供されるアイボルトとを備えた構成とし、ねじゲージ2を回転可能な状態でクレーン等により吊り下げ可能とする。 (もっと読む)


【課題】原子スケールで制御されて作製された3次元構造を持ち、その構造が大気中でも安定であり、かつSEMやSTMでも観察可能な導電性を持つ計測標準試料を提供すると共に、計測標準試料を使用した走査型顕微鏡(AFM、STM、SEM、SLM等)の校正方法を提供する。
【解決手段】主表面{111}面又は{111}面から10度以内のオフ角の単結晶ダイタモンド基板と、該単結晶ダイタモンド基板上に形成された1ステップ高さ;0.206nmの原子的に平坦なテラス面をn段(n≧1の整数)有する三角形島構造体とを備え、三角形島構造体のテラス面のステップ段差を高さの標準とするナノメートルスケール計測を行うための計測標準資料として利用する。 (もっと読む)


【課題】測定光軸に対して、薄物ブロックゲージの測定面が直交するように姿勢を維持できるブロックゲージのホルダを提供すること。
【解決手段】ブロックゲージ2の一対の測定面2A,2Bに測定光を同時に照射して測定面2A,2B間の長さ寸法を測定する際に、測定面2A,2Bが測定光軸Lに対して直交するように、ブロックゲージ2の姿勢を維持するホルダ100であって、ブロックゲージ2の側面2Eと当接する当接面111を有するベース110と、ベース110に設けられた一対の側板120と、側板120の内側に固定され、一対の測定面2A,2Bを両側から保持する挟持部材130と、を備える。挟持部材130は、測定面2A,2Bにおいて側面2Eの近傍を除く領域である被保持領域を保持して、測定面2A,2Bを当接面111に対して直角に保持する。 (もっと読む)


【課題】 円すいころ軸受の保持器ポケットすきま寸法を精度良く測定でき、その測定が容易で、構成が簡単な装置を提供する。
【解決手段】 保持器ポケットすきま寸法測定装置10は、支持手段12と、測定治具13と、軸方向位置測定手段14とを有する。支持手段12は、円すいころ軸受から分離された保持器5および円すいころ4でなる保持器・ころ組立体11を支持する。測定治具13は、支持手段12に支持された保持器・ころ組立体11の円すいころ4列の内周に配置され、テーパ状の外周面13aが各円すいころ4の転動面4aに接する。軸方向位置測定手段14は、前記測定治具13の軸方向位置を測定する。 (もっと読む)


【課題】 大気中で安定的な表面を有し、保管方法が簡便で寿命の長いAFM標準試料を提供すること。
【解決手段】 被検体の垂直方向の測定値を10−10〜10−8mの分解能で直接的に校正する為に用いられるAFM標準試料であって、
主面として(0001)面、または(0001)面から10度以内のオフ角度を持った面を有する単結晶サファイヤ基板からなり、該凹部の内側の面にステップ構造を有することを特徴とするAFM標準試料及びその製造方法である。 (もっと読む)


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