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Fターム[2F062HH24]の内容

機械的手段の使用による測定装置 (14,257) | プローブ、測定子 (1,750) | 付勢方向の変更 (32)

Fターム[2F062HH24]に分類される特許

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【課題】測定アームを交換しても、測定アームのバランスを自動的に調整し、使い勝手および作業効率の向上が期待できる表面性状測定機を提供する。
【解決手段】表面性状測定機において、測定アーム24は、ブラケット22に回転軸23を支点として円弧運動可能に支持された第1測定アーム24Aと、これの先端に着脱機構25を介して着脱可能に設けられ先端にスタイラス26A,26Bを有する第2測定アーム24Bとを含んで構成される。測定アームを円弧運動方向へ付勢しスタイラスに測定力を付与する測定力付与手段は、測定アームを回転軸を支点として円弧運動方向へ付勢するボイスコイル62を含んで構成される。第2測定アームの交換後に、ボイルコイルに通電する電流を調整して測定アームのバランスを調整するバランス調整手段が設けられる。 (もっと読む)


【課題】ボールねじナットの内周面の溝形状の検査を容易且つ短時間で行う。
【解決手段】ボールねじナットを回転テーブル22により回転自在に支持するとともに、その回転角度をロータリエンコーダ23で測定し、測定子3をXYZテーブル12により、XYZ方向に移動自在に支持するとともに、測定子3がボールねじナットの方向に移動するX軸方向の変位をリニアゲージ13により測定し、測定子3が上下に移動するZ軸方向の変位をダイヤルゲージ14により測定する。これらセンサの検出信号をもとに、ボールねじナットにおける測定子3の位置座標を演算し、位置座標をもとにボールねじナットの各部の測定を行う。 (もっと読む)


【課題】高速、かつ少ない振動およびエラーで部品表面の多数の座標ポイント取得できるようにする。
【解決手段】基準表面に対して可動サポートを位置決めするための1つ以上のアクチュエータとを含む測定システムであって、前記可動サポートが、サポートコネクタと、前記可動サポートと取り外し可能に接続された、前記基準表面に位置決めされたワークピースの表面の走査経路にある複数のポイントを測定するための走査プローブと、前記サポートコネクタと相互作用するように配置された、モジュラ回転取り付け具を前記可動サポートに接続させるための第1のコネクタ90、およびプローブコネクタと相互作用するように配置された、前記走査プローブを前記モジュラ回転取り付け具に接続させるための第2のコネクタ40を備えるモジュラ回転取り付け具と、前記第2のコネクタを前記第1のコネクタに対して回転させるためのアクチュエータ58とを有す。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成により1つのゲージで測定対象物の内外径寸法を精度良く測定することができる寸法測定装置及び寸法測定方法を提供すること。
【解決手段】測定装置20において、径方向寸法を測定するためのX軸ダイヤルゲージ21と、内径測定子27と、外径測定子28と、内径測定子27及び外径測定子28が取り付けられた測定子取付部材29と、測定子取付部材29とX軸ダイヤルゲージ21の測定子21cとの間に配置され、内径測定子27及び外径測定子28の移動に連動してX軸ダイヤルゲージ21の測定子21cを移動させるとともに、X軸ダイヤルゲージ21のスピンドル21aを押し込む方向に付勢力を付加又は解除することにより、内径測定子27又は外径測定子28を測定対象物に接触させた際におけるスピンドル21aの移動方向を切り替える切替機構30とを有する。 (もっと読む)


【課題】鉛直面及び水平面いずれについても小さい測定力による測定を可能とする。
【解決手段】三次元形状測定装置用プローブ1は、取付用部材2、揺動部3、連結機構、アーム取付部120、及び板バネ9A,9B、及び取付用部材2を備える。アーム取付部120にはスタイラス121が下端に配置されたアーム122が垂下して取り付けられている。アーム取付部120は板バネ9A,9Bを介して揺動部3に保持されている。揺動部3は連結機構によって水平方向に傾動可能に取付用部材2に連結されている。揺動部3の可動側磁石と取付用部材2の固定側磁石との間の磁気的吸引力によりアーム122が鉛直方向に延びる中立位置に揺動部3を復元させる復元力が作用する。鉛直面測定時の測定力は可動側磁石との間の固定側磁石の磁気的吸引力により得られる。水平面測定時の測定力は板バネ9A,9Bが鉛直方向に撓むことで得られる。 (もっと読む)


【課題】先端球をステムと同一の材料で短時間で効率よく一体成形することで、スタイラスを高い信頼性で成形可能とする。
【解決手段】棒状のステム104と該ステム104の先端に設けられた先端球106とを備えて接触式計測用プローブに用いられるスタイラス100の成形方法において、前記ステム104を位置決めする工程と、該位置決めされたステム104の先端部分にレーザ光128を照射する工程と、該レーザ光128を照射して該ステム104の先端部分を溶融後、表面張力により該溶融部分を前記先端球106として成形して固化するまで放置する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】簡便かつ安価の構造で、外乱振動の影響を軽減できる形状測定機および倣いプローブ装置を提供する。
【解決手段】プローブ10は、相対移動機構のZ軸スライダに保持されたケース体11と、このケース体の内部に往復移動可能に設けられたプローブ本体12と、このプローブ本体の先端に設けられた力センサ20と、プローブ本体を往復移動させる駆動アクチュエータ14とを含む。ケース体とプローブ本体との間にはプローブ本体の往復移動方向へ振動可能な振動素子17が設けられている。力センサからの力検出信号を基にプローブ本体に伝わる外乱振動を相殺する振動を振動素子17から発生させる相殺振動発生手段50が設けられている。 (もっと読む)


【課題】水平面に近い形状を有するときにも高精度かつ低測定力で測定が可能なプローブを提供する。
【解決手段】直動部6は鉛直方向にのみ直動可能に取付部2に支持される。揺動部3は、測定物60の被測定面61に接触するスタイラス121を先端に備えるアーム112を有する。連結機構4は、揺動部3側の支持部材42の尖端を直動部6側の載置台41に形成された溝41aに嵌入することで、揺動部3を直動部6に対して揺動可能に連結する。揺動側磁石51と非揺動側磁石52との間の磁気的吸引力により、アーム112を鉛直方向に向ける付勢力が揺動部3に作用する。可動側磁石71と固定側磁石72との間の磁気力により、直動部3に鉛直方向上向きの付勢力が作用し、直動部3は取付部3に対して鉛直方向に非接触で保持される。 (もっと読む)


【課題】接触子に加えられる負荷の方向と、負荷の大きさと、変位センサにて検出される変位との関係を容易に調整することができる変位センサの提供。
【解決手段】変位センサ5は、対象物に接触する測定子2Aを先端部に有するスタイラス51と、スタイラス51を内部に収納する筒状のハウジング52と、スタイラス51、及びハウジング52の間に設けられ、スタイラス51を揺動自在に支持する2つの支持部材53とを備える。各支持部材53は、スタイラス51が取り付けられる取付部と、ハウジング52の内部に固定される固定部と、取付部、及び固定部を接続するバネ部とを備え、スタイラス51の軸方向に離間して配置されている。 (もっと読む)


【課題】高さの測定作業を連続して行えず、硬さの測定作業と別々に行うので、作業性が低い。
【解決手段】 所定面積を有する表面が平坦なプレート3に対して検出装置4の振動体5を相対的に移動させ、プレート3に装着した被測定体1の表面に振動させた前記振動体5を振動数が変化するまで接近させ、該振動体5の振動数が変化した位置を、振動体5が被測定体1に接触した接触位置と出力し、被測定体1に振動体5が接触した位置とプレート3の表面位置とを対比して被測定体1の厚さを測定する測定方法。 (もっと読む)


【課題】スタイラスと測定対象との間に生じる摩擦やスティックスリップの影響を低減して走査法により形状測定を行うことができる接触式変位センサを提供する。
【解決手段】被測定物100の変位を感知する接触式変位センサ1は、被測定物100に対して進退可能に取り付けられる可動軸3と、可動軸3の先端に取り付けられ、被測定物100の表面を走査されるスタイラス4と、スタイラス4と可動軸3との間に取り付けられる振動子5とを備え、振動子5は、振動子5のばね定数、振動子5とスタイラス4の取り付け部におけるばね定数と粘性係数、振動子5と可動軸3の取り付け部におけるばね定数と粘性係数、振動子5の等価質量、可動軸3の質量、及びスタイラス4の質量に基づいて決定される好適周波数帯域内の周波数で振動され、スタイラス4は所定の振幅で軸線方向に振動され、かつ可動軸3はほとんど振動しないことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】周囲温度によって変化するスタイラスの長さ変化を、簡易にかつ短時間で求めることができ、これを基に測定値を補正できる表面性状測定装置を提供する。
【解決手段】スタイラス、加振素子4、検出素子5を有するセンサ1と、これを被測定物に対して相対移動させる駆動用アクチュエータ11と、センサによる被測定物の測定位置を測定位置情報として出力する検出器12と、設定周波数の加振信号を発振し加振素子に与える発振器34と、制御手段31とを備える。制御手段は、検出素子からの検出信号の振幅が最大となる周波数に発振器の設定周波数を補正する周波数補正手段と、この周波数補正手段によって補正された設定周波数を共振周波数としてスタイラスの長さ情報を取得するスタイラス長さ情報取得手段と、このスタイラス長さ情報取得手段によって取得されたスタイラス長さ情報を補正値として測定位置情報を補正する測定位置情報補正手段とを備える。 (もっと読む)


被加工物の表面を測定するための装置が説明される。装置は、座標位置決め機械のような機械(26)の可動アームに取り付けられ、そして、第1回転軸(1A)および第2回転軸(2A)まわりに回転でき、それら軸がそれぞれ第1モーター(M1)および第2モーター(M2)によって駆動される、支持体(7)を備える。装置は、付加的に、第3回転軸(4A)まわりに回転できる、被加工物の表面を感知するための表面感知デバイス(4)を備える。この第3回転軸(4A)は、第1回転軸(1A)に合わさることができ、合わされた場合、表面感知デバイス(4)に対する支持体(7)の回転は、表面感知デバイス(4)がホルダー(70)によって動かないように保持されるとき、第1モーター(M1)によって作動可能である。被加工物の表面を測定するための装置を使用するための方法は、また説明される。
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【課題】簡単な構成で容易にかつより再現性よく力センサを位置決め可能な接触式倣いプローブシステムの提供。
【解決手段】プローブ本体200に、コネクタ正面部261Aに立設する中間閉塞部250と、雄ねじ部110が螺着される雌ねじ部261Dとを設けている。センサモジュール300に、コネクタ正面部261Aに摺接される摺接部322と、中間閉塞部250に押圧される押圧部321と、挿通孔部325とを設けている。挿通孔部325に、ねじ孔形成先端面部324側の開口における押圧部321側が摺接部322側にしたがって押圧部321から離れる状態に傾斜する拡開部325Bを設けている。挿通孔部325を、雄ねじ部110の太さよりも大きい孔幅に形成している。 (もっと読む)


表面測定プローブのドリフトを判定する装置および方法。この表面測定プローブは、ハウジングと、表面接触スタイラスと、スタイラスを振動させる振動発生器と、スタイラスの振動の変化に関係したパラメータを決定する感知デバイスと、パラメータとしきい値との関係を判定する比較器とを有する。スタイラスが表面と接触していないときにパラメータの読みが読み取られ、表面に触れたときの遷移時間よりも有意に長い時間tにわたってこのパラメータの読みが平均される。このパラメータの読みの平均が基準パラメータと比較される。この比較が、パラメータの有意のドリフトがあったかどうかを判定するために使用される。このようにして、温度変化に起因したドリフトが補正される。
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【課題】周囲温度の変化に対しても、設定した一定の測定力で測定を行うことができ、その結果、高精度化、使い勝手向上および信頼性向上が図れる表面性状測定装置および表面性状測定方法を提供。
【解決手段】スタイラス、加振素子4、検出素子5を有するセンサ1と、これを被測定物に対して相対移動させる駆動用アクチュエータ11と、設定周波数の加振信号を発振し出力する発振器34と、発振器からの加振信号の振幅を設定ゲインに応じて補正してセンサの加振素子に与える第1可変アンプ35と、制御手段31とを備える。制御手段は、検出素子からの検出信号を検出し、検出信号の振幅が最大となる周波数に発振器の設定周波数を補正する周波数補正手段と、この周波数補正手段によって新たに設定された新設定周波数と旧設定周波数との差に応じて第1可変アンプ35の設定ゲインを調整する加振用ゲイン調整手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】被測定物表面に対する負荷が小さい接触プローブを提供する。
【解決手段】被測定物表面に当接する接触部312を先端に有する測定子310と、測定子310の変位を検出する検出センサと、測定子310の軸方向とは略直交して配置された弾性体のプレートであって測定子310の基端側を支持する支持プレート420と、測定子310を変位させるスタイラス変位手段440と、を備える。スタイラス変位手段440は、支持プレート420に応力を付与してそれぞれの点における支持プレート420の弾性変形量を変化させるアクチュエータ441〜443を備えている。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成であって、測定子の変位を高精度に検出する変位センサを提供する。
【解決手段】測定子200と、測定子200を支持するセンサ本体部300と、を備える。センサ本体部300は、光源421と、受光光学系430と、光束シフト手段600と、を備える。受光光学系430は、光を受光して受光信号を出力する光センサ440と、光センサ440の前段に配設されたスリットプレート450と、を備える。光束シフト手段600は、測定子とともに変位する反射ミラー410と、反射ミラー410と受光光学系430との間に配設された集光レンズ423と、を備える。スリットプレート450は、4本のスリット451〜454を有する。光センサ440は、4つの受光部441〜444に分割され、受光部441〜444ごとに各スリット451〜454を通過した光を受光して受光信号を出力する。 (もっと読む)


【課題】測定圧が低く、広い測定角度のタッチプローブの接触検出方法及び装置を提供。
【解決手段】一定の励起周波数(f)で正弦波振動させられた触針部5aと、触針部の振動波形を測定出力するセンサユニット7を有するタッチプローブの接触検出方法であって、センサユニットによって出力された振動波形を周波数分布に変換し、励起周波数の整数(n)倍の所定の高調波(n×f)の値があらかじめ定められた閾値以上となった時に、タッチプローブが被測定対象物に接触したと判定する。また、所定の高調波は励起周波数(f)の二倍の高調波(2×f)である。さらには、励起周波数(f)は触針部の固有振動数とは異なるようにする。 (もっと読む)


【課題】 測定面の傾斜角が大きい場合でも、安定した測定が可能であり、測定誤差の増加を抑制して、安定かつ高精度に形状測定することができる触針式形状測定装置とその方法を提供する。
【解決手段】 軸方向が被測定物の設置面の垂直方向に対して一定角度傾斜して設置された斜軸測定プローブ1と、軸方向が被測定物の設置面の垂直方向に平行に設置された直軸測定プローブ2とを備え、これらの複数の測定データをつなぎ合わせることで全体形状を求める。 (もっと読む)


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