【課題】測定アームに最適な測定力を発生させる表面性状測定機を提供する。
【解決手段】表面性状測定機は、ブラケットに回転軸を支点として円弧運動可能に支持される測定アーム、測定アームの先端に設けられたスタイラス、及び、測定アームを円弧運動方向へ付勢するボイスコイルを備え、スタイラスに測定力を付与する測定アーム姿勢切替機構６０を備えるスタイラス変位検出手段２０と、制御部１００と、を具備し、制御部１００は、ヒステリシス誤差を取得するヒステリシス誤差取得手段１２４と、目標測定力を取得する目標測定力取得手段１２１と、目標測定力及びヒステリシス誤差に基づいて、測定力指令値を算出する指令値算出手段１２５と、測定力指令値に基づいてボイスコイルに電流を入力する駆動制御手段１２２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】測定機構への埃の進入を軽減する。
【解決手段】フレーム保持手段１００が、左右のリムＲＩＬ、ＲＩＲを挟み込んで保持する第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３を有し、クランプピン２３０ａ、２３０ｂを持つ左リムクランプ機構とクランプピン２３０ａ、２３０ｂを持つ右リムクランプ機構とがそれぞれ第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３に配置され、第１スライダーが左右のリムの上側に当接する第１面１０２１を有し、第２スライダーが左右のリムの下側に当接する第２面１０３１を有する。フレーム保持手段は、第１面と第２面との間隔が変化する方向に第１スライダー及び第２スライダーを移動可能に保持する移動手段であって、第１面と第２面とが接触される第１状態と、左右のリムを保持するために第１面と第２面とが離された第２状態と、に切換え可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】高カーブフレームの精度の良い測定を可能にし、型板測定においても型板トレースの精度の向上を図ることが可能な眼鏡枠形状測定装置を提供する。
【解決手段】測定子２８１が取り付けられた測定子軸２８２を傾斜可能に保持する保持ユニット２５０と、測定子軸の傾斜角度を検知する手段と、ＸＹ移動手段と、Ｚ方向の軸を中心に回転する回転手段２６５と、を有する測定ユニットを備え、型板測定モード時に、測定子軸の背面を型板のエッジに接触させるように回転手段及びＸＹ移動手段を制御する制御手段と、保持ユニットのＸＹ方向の位置情報、回転手段の回転情報及び傾斜角の検知情報とに基づいて型板の動径情報を求める演算手段と、を備え、制御手段は、型板の測定途中では、測定済み情報に基づき、測定子軸の背面が型板のエッジに接触したときに測定子軸の傾斜が垂直を維持するように、回転手段及びＸＹ移動手段を制御する。 （もっと読む）

【課題】高速走査を精度と共に達成するため、測定システムの運動質量、動的誤差を最小にする関節式プローブヘッドを提供する。
【解決手段】ＣＭＭは、その直線駆動に関する回転誤差（例えばピッチ，ロールおよびヨー）のための誤差マップが作成される。走査ヘッドもまた、回転誤差のための誤差マップが作成される。測定データは、ＣＭＭおよび走査ヘッドの組み合わされた回転誤差に関して実時間に同期して誤差補正される。この同期補正ためＣＭＭおよび走査ヘッドの誤差マッピングデータを使用する。 （もっと読む）

【課題】細穴の奥や突起部を有するような被測定物でも高精度、かつ高速に測定を行うタッチプローブを提供する。
【解決手段】プローブ本体１２と、前記プローブ本体１２の先端部に形成された、被測定物と接触する測定子１４と、前記プローブ本体１２内に形成され、前記プローブ本体１２の軸方向に垂直でかつ互いに直交する２方向に変位可能に構成された変位機構と、前記２方向の各変位を検出する前記変位機構に設けられた変位検出部２５
ａ、２５ｂと、を備えたことを特徴とするタッチプローブ１を提供する。 （もっと読む）

【課題】穴の内面測定時に、測定アームの姿勢を切り替えても、スタイラスや被測定物を損傷することが少ない表面性状測定機を提供する。
【解決手段】揺動可能な測定アーム２４、この測定アームの先端に設けられた一対のスタイラス２６Ａ，２６Ｂ、および、測定アームの揺動量を検出する検出部２７を有するスタイラス変位検出器２０と、被測定物を載置するステージと、検出器とステージとを相対移動させる相対移動機構とを備えた表面性状測定機において、測定アームが揺動方向の一方向に付勢される姿勢および他方向に付勢される姿勢に切り替える測定アーム姿勢切替機構６０と、測定アーム姿勢切替機構によって測定アームの姿勢が切替動作された際に、測定アームの切替動作速度を予め設定された速度に制御する速度制御機構７０とを備える。 （もっと読む）

【課題】ボールねじナットの内周面の溝形状の検査を容易且つ短時間で行う。
【解決手段】ボールねじナットを回転テーブル２２により回転自在に支持するとともに、その回転角度をロータリエンコーダ２３で測定し、測定子３をＸＹＺテーブル１２により、ＸＹＺ方向に移動自在に支持するとともに、測定子３がボールねじナットの方向に移動するＸ軸方向の変位をリニアゲージ１３により測定し、測定子３が上下に移動するＺ軸方向の変位をダイヤルゲージ１４により測定する。これらセンサの検出信号をもとに、ボールねじナットにおける測定子３の位置座標を演算し、位置座標をもとにボールねじナットの各部の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】高速、かつ少ない振動およびエラーで部品表面の多数の座標ポイント取得できるようにする。
【解決手段】基準表面に対して可動サポートを位置決めするための１つ以上のアクチュエータとを含む測定システムであって、前記可動サポートが、サポートコネクタと、前記可動サポートと取り外し可能に接続された、前記基準表面に位置決めされたワークピースの表面の走査経路にある複数のポイントを測定するための走査プローブと、前記サポートコネクタと相互作用するように配置された、モジュラ回転取り付け具を前記可動サポートに接続させるための第１のコネクタ９０、およびプローブコネクタと相互作用するように配置された、前記走査プローブを前記モジュラ回転取り付け具に接続させるための第２のコネクタ４０を備えるモジュラ回転取り付け具と、前記第２のコネクタを前記第１のコネクタに対して回転させるためのアクチュエータ５８とを有す。 （もっと読む）

座標位置測定装置のためのエラー修正方法を開示する。この方法は、（ｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、（ｉｉ）各々が第一の物体の表面上のある位置を表す１つまたは複数の第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、（ｉｉｉ）各々が、第一のデータセットにより説明される表面と第二のデータセットにより説明される表面の間の位置差を表す１つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含む。第一の物体の面法線が第一のデータ値の各々によって表される各位置において既知であり、ステップ（ｉｉｉ）は、実質的に既知の面法線の方向の位置差を判断することによって各エラー値を計算するステップを含む。加工または測定作業は、第一の物体または第一の物体と名目上同一の物体について実行され、その表面上の位置がステップ（ｉｉｉ）で計算されたエラーマップを使って修正される。
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【課題】測定の精度や、分解能を低下させることなく、心出しの作業にかかる時間を短縮することができる測定子の提供。
【解決手段】測定子２は、筒状部材３と、棒状部材４と、押圧部材５とを備える。筒状部材３は、先端に開口３Ａを有する角筒状に形成される。この筒状部材３の内側面における先端側には、凸部３１が形成されている。棒状部材４は、被測定物に接触させる接触子４Ａを先端側に有する角棒状に形成され、基端側が筒状部材３の開口３Ａから筒状部材３の内部に収納される。この棒状部材４の先端側には、凸部３１に嵌合される第１凹部４１が形成され、基端側には、凸部３１に嵌合される第２凹部４２が形成されている。押圧部材５は、筒状部材３の内側面における凸部３１と対向する位置に設けられ、棒状部材４を凸部３１に向かって押圧する。 （もっと読む）

【課題】関節プローブヘッドの回転軸をロックするためのブレーキを提供する。
【解決手段】支持体に取り付くための第１のマウントと、表面検出装置が取り付け可能な第２のマウントとを備え、第２のマウントが第１のマウントに対し一以上の軸回りに回転可能である関節プローブヘッドにおいて、第１のマウントに対する第２のマウントの一以上の軸回りの位置をロックするための少なくとも一以上の機械式ブレーキが設けられ、これにより、少なくとも一つの位置測定装置が、ロック位置において、第１のマウントに対する第２のマウントの一以上の軸回りの位置を決定すべく設けられる。 （もっと読む）

【課題】画像プローブの校正方法を提供すること。
【解決手段】画像プローブ３の撮像方向を垂直にした状態で画像プローブ３および各測定子６１１Ａ，６１１Ｂによりそれぞれ校正ゲージ６２を測定し、画像プローブ３の光軸中心および各測定子６１１Ａ，６１１Ｂの相対位置関係を求める。次に、一方の測定子６１１Ａ，６１１Ｂにより基準球６３を測定し、基準球６３の位置を登録する。続いて、画像プローブ３の撮像方向を傾斜させた後、各測定子６１１Ａ，６１１Ｂで基準球６３を測定し、該測定結果と登録した基準球６３の位置とから測定機１上の各測定子６１１Ａ，６１１Ｂの位置を求める。画像プローブ３の光軸中心および各測定子６１１Ａ，６１１Ｂの相対位置関係は既に取得しているので、求めた測定機１上の各測定子６１１Ａ，６１１Ｂの位置から画像プローブ３の光軸周りの回転角度および画像プローブ３の位置を校正できる。 （もっと読む）

【課題】鉛直面及び水平面いずれについても小さい測定力による測定を可能とする。
【解決手段】三次元形状測定装置用プローブ１は、取付用部材２、揺動部３、連結機構、アーム取付部１２０、及び板バネ９Ａ，９Ｂ、及び取付用部材２を備える。アーム取付部１２０にはスタイラス１２１が下端に配置されたアーム１２２が垂下して取り付けられている。アーム取付部１２０は板バネ９Ａ，９Ｂを介して揺動部３に保持されている。揺動部３は連結機構によって水平方向に傾動可能に取付用部材２に連結されている。揺動部３の可動側磁石と取付用部材２の固定側磁石との間の磁気的吸引力によりアーム１２２が鉛直方向に延びる中立位置に揺動部３を復元させる復元力が作用する。鉛直面測定時の測定力は可動側磁石との間の固定側磁石の磁気的吸引力により得られる。水平面測定時の測定力は板バネ９Ａ，９Ｂが鉛直方向に撓むことで得られる。 （もっと読む）

【課題】本発明の解決すべき課題は、切り欠きを有する被測定物、あるいは小径穴の内面測定を行う際にも測定プログラムを停止することなく連続測定を行うことのできる真円度測定装置を提供することにある。
【解決手段】被測定物を載置する回転テーブル１４と、
前記被測定物２４の略円形測定面に傾斜接触する接触式スタイラス２６と、
前記スタイラス２６を所定ストローク範囲内で傾斜角変更可能に保持する保持手段４０と、
前記スタイラス２６と前記測定面との接触に伴う、前記スタイラス２６の傾斜角変位を検出する変位検出手段４２と、
前記変位検出手段４２の出力に基づき、前記スタイラス２６先端位置を推測し、該スタイラス位置における最適ストローク範囲を保持手段に指示する制御手段３２と、
を備えたことを特徴とする真円度測定装置。 （もっと読む）

【課題】初心者であっても容易かつ高精度にワークの凹部間の寸法を測定することができる寸法測定装置を提供すること。
【解決手段】マイクロメータ１１の可動部１２及び固定部１５に設けられた各測定子１３，１６を、ワーク５の両側に形成された各凹部５ａ，５ｂに当接させてワーク５を挟み込み、各測定子１３，１６間の距離から各凹部５ａ，５ｂ間の寸法Ｔを測定する寸法測定装置１０であって、ワーク５を保持し基台６に対して揺動可能に設けられたクランプ２０と、可動部１２の測定子１３を、可動部１２に対して微動可能に保持するスプリング１４とを備え、ワーク５を各測定子１３，１６によって挟み込んだ状態で、マイクロメータ１１を揺動させることにより、クランプ２０がワーク５とともに揺動し、スプリング１４が測定子１３を微動させて、各測定子１３，１６の先端を各凹部５ａ，５ｂの底に当接させる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、ワークに関して複数項目を測定する際の高効率化及び高精度化を実現することにある。
【解決手段】接触式検出器１６の本体１８に設けられ、軸方向を中心に回転角度を変更自在に保持される一の支持軸部２２と、該支持軸部２２の側部より突出し、該支持軸部２２より突出する方向が異なる複数の測定用軸部２４，２６と、該各測定用軸部２４，２６の先端に設けられ、該各測定用軸部２４，２６毎に先端形状ないし先端寸法が異なる複数の接触部２８，３０と、を備え、該支持軸部２２の軸方向を中心に該支持軸部２２の回転角度が調整されることにより、該複数の接触部２８，３０の中から測定目的に応じた一の接触部２８（３０）が選択され、該選択された接触部２８（３０）のみが該ワーク２１に接触され、該ワーク２１の形状データの取得に用いられることを特徴とするスタイラス２０。 （もっと読む）

【課題】 急傾斜面を接触式プローブにより測定すると、安定して接触力を制御することができず、高精度で高速な形状測定を行なう事ができなかった。
【解決手段】 接触式プローブを被測定物の表面に沿って移動させることで、被測定物の表面形状を測定する形状測定方法において、接触式プローブの軸方向の変位と、接触式プローブの姿勢とを測定し、その測定結果から、接触式プローブが被測定物から受ける接触力ベクトルを計算し、接触力ベクトルの大きさが一定になるように、接触式プローブを前記接触力ベクトルと直交する方向に移動させる。 （もっと読む）

【課題】 測定アームのパラメータの校正作業に要する手間や時間を削減することのできる多関節型座標測定装置のパラメータ校正方法を提供する。
【解決手段】 まず、二つの小球２２を有する標準器２０Ａを測定アーム２の操作空間内に設置し、測定アーム２を操作してプローブ３をそれらの小球２２に近づけて複数のアーム姿勢で小球２２の各々の空間座標を測定し、その測定結果に基づいて一次校正パラメータについてのパラメータ校正処理を行う。つぎに、一つの小球２２を有する標準器２０Ｃを測定アーム２の操作空間内に設置し、測定アーム２を操作してプローブ３をその小球２２に近づけて複数のアーム姿勢で小球２２の空間座標を測定し、その測定結果に基づいて二次校正パラメータについてのパラメータ校正処理を行う。 （もっと読む）

電動の関節式走査ヘッド（１６）における角度測定スケールを、基準加工品（４０；６０；８０）を用いて較正する方法が記載される。この方法は、走査ヘッド（１６）に取り付けられた走査プローブ（２８）などの表面検出デバイスを走査ヘッド（１６）の少なくとも１軸（Ａ１，Ａ２）のまわりに回転させ、基準加工品（４０；６０；８０）に対し異なる複数の角度方向に表面検出デバイスを移動させる工程を含む。次に、その異なる角度方向のそれぞれで、表面検出デバイスにより、基準加工品（４０；６０；８０）の少なくとも１つの特性を測定する工程が実行される。そして、測定された基準加工品（４０；６０；８０）の特性を用い、また付加的に既知または較正済みの基準加工品（４０；６０；８０）の特性を用いて、走査ヘッドの少なくとも１つの測定スケールに対する誤差マップまたは関数を生成する。この方法は、走査ヘッド（１６）を移動させるために、座標測定機械（１４）などの座標位置決め機械の使用を含むことができる。基準加工品（４０；６０；８０）は、単一の特徴部または配列された複数の特徴部（４６；６６）を含むことができる。
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例えば、バルブ・シートなどの表面構造の寸法と位置を決定する方法を提供する。構造の表面は、例えば、接触プローブを持つ螺旋状の走査パスを用いて測定され、走査から取得された複数のデータ・ポイントは、デジタル化されたイメージを作り出すのに使用される。 デジタル化されたイメージは、表面構造の公称イメージ（例えば、ＣＡＤデータ）に合わせられる。デジタル化されたイメージの公称イメージからのずれは、表面構造の寸法、位置、および形状ずれのうちの少なくとも一つを決定するために用いられる。
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