説明

Fターム[2F063LA23]の内容

Fターム[2F063LA23]に分類される特許

161 - 163 / 163


本発明は、電磁誘導を使用して、導電性の測定対象のオブジェクトの寸法および/または電気的特性を、非接触式に測定するための方法に係る。この方法において、電磁場が、測定対象のオブジェクトを貫通するように発生される。本発明は、以下の方法ステップにより実現される;トランスミッタ・コイルを、測定対象のオブジェクトの一方のサイドに配置する;レシーバ・コイルを測定対象のオブジェクトのもう一方のサイドに配置する;磁場を、トランスミッタ・コイルの中に発生させる;トランスミッタ・コイルの中に発生させた磁場に、一つのレベルから他のレベルへの突然の変化を生じさせる;レシーバ・コイルの中に誘導される電圧を検出する;トランスミッタ・コイルの中での磁場が変化する時間T2から、レシーバ・コイルの中に電圧が誘導され始める時t1までに、経過した時間を決定する;誘導される電圧の強さを決定し、そして、測定対象のオブジェクトの厚さおよび/または電気伝導度を計算する。
(もっと読む)


処理手段(12)及び静電感知装置(20)を使用するシステムが記載されている。該システムは、所定形状の物体(42,70)及び感知された静電的測定値(40)に対する静電的計算(44,46)の反復(56)から未知の物体の形状が計算されるような方法を実行する。上記所定の物体形状(70)は未知の物体形状(72)に向かって該物体形状が決定される(60,74)まで当該方法の各反復において変形される。該形状の変形は、上記所定形状に供給された電荷分布に依存するような静電電位の零等高線を計算することに基づくものである。
(もっと読む)


【課題】透明膜の段差の測定方法に関し、非接触、非破壊で且つ簡単な操作で高速、高精度に位相シフターの段差を測定すること。
【解決手段】第1の透明膜1の一部に形成された複数の第1の溝Sa1 ,…,San の段差量t1 ,….tn と該第1の溝Sa1 ,…,San からの反射光の偏光状態を示すパラメータの値との相関関係f1 を求めてデータベース化した後に、第2の透明膜42の一部に形成された第2の溝45の反射光の偏光状態を示すパラメータの第1の値を計測して、該第1の値と前記データベースの前記相関関係に基づいて該第2の溝45の第1の段差量を求める工程を含む。 (もっと読む)


161 - 163 / 163