【課題】高精度かつ高強度の球面波を得ることが可能な光学素子、照明光学系及び測定装置を提供する。
【解決手段】光を透過する基材１０と、基材１０の表面に形成された金属薄膜１１と、金属薄膜１１に形成されるとともに、基材１０の内部から基材１０の表面に向けて光を全反射条件で入射させたときに励起される表面プラズモンを球面波に変換して出射させる散乱部１２と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被測定物体の異なる部位を描写する複数のＯＣＴ画像を基に被測定物体の物理量を高い確度で計測可能な技術を提供する。
【解決手段】光画像計測装置１は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、参照光ＬＲの光路を光路長の異なる二つの光路に分割することで参照光ＬＲを二つの参照光ＬＲａ、ＬＲｂに分割する。更に、光画像計測装置１は、これら二つの光路をそれぞれ経由した参照光ＬＲａ、ＬＲｂと被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳとを干渉させて、被検眼Ｅの二つの深度位置（眼底Ｅｆ、角膜Ｅｃ）のそれぞれにおける形態を反映した干渉光ＬＣを生成し、この干渉光ＬＣを検出して検出信号を生成する。そして、光画像計測装置１は、この検出信号に基づいて眼底断層画像と角膜断層画像を形成し、これら断層画像を解析して被検眼Ｅの角膜網膜間距離を求める。 （もっと読む）

【課題】 干渉光学系以外の光学系における観察光学系によって、干渉光学系と干渉光学系以外の光学系におけるサンプルの高さ情報の取得範囲を設定でき、サンプルの３次元形状画像を短時間に容易に取得することができる３次元形状観察装置を提供する。
【解決手段】 フィルタ切換機構１９は、バンドパスフィルタ２１を光軸上に配置し、第１の撮像素子１６は、可視光による光学顕微鏡観察像を撮像し、制御本体部５１は、光学顕微鏡観察画像を用いてサンプル１７の観察位置の調整と、フォーカス位置の調整と、干渉光学系と光学顕微鏡光学系の両方の高さ情報の取得範囲（取得範囲Ｄ１，Ｄ２）を設定する。 （もっと読む）

本発明は第１の干渉計及び第２の干渉計を有する干渉測定装置のための装置に関し、第１の干渉計には放射源を介して短コヒーレント放射が供給され、この短コヒーレント放射は第１のビームスプリッタを介して２つの部分ビームに分割され、光路差が放射のコヒーレンス長よりも大きいように一方の部分ビームの光路長は他方の部分ビームの光路長よりも長く、２つの部分ビームは第１の干渉計の出口の前で再び統合され、第２の干渉計に供給され、この第２の干渉計は放射を２つの更に別の部分ビームに分割し、第１の干渉計に書き込まれた光路差が再び調整されるようにこれら２つの部分ビームの光路長は異なり、それぞれ部分ビームに対する光路長は第１の及び第２の干渉計において少なくとも１つの可動光学構成エレメントによって調整され、可動光学構成エレメントは機械的に互いに結合されている。本発明はさらにこのような干渉測定装置における光路差の調整のための方法に関し、部分ビームの間の光路差は２つの干渉計において機械的に結合された可動光学構成エレメントによって同時にかつ同じ大きさだけ変化される。これによって、干渉計の部分ビームの光路差が動作ステップにおいて変化され、干渉形成のための条件が保持されつづける。
（もっと読む）

【課題】濃度を検知したいガスに複数の成分が含まれている場合でも、その濃度を検知したいガスを吸収する特性を持つ赤外線の波長を同時に透過させることができるファブリペロー干渉計を提供すること。
【解決手段】基板１０上に設けられ、この基板１０に固定された第１の干渉計ミラー２０と、第１の干渉計ミラー２０との間のギャップ６０を介して対向配置された第２の干渉計ミラー３０と、からなり、第１の干渉計ミラー２０、または、第２の干渉計ミラー３０の少なくとも一方は、段差５０を有するように形成され、第１の干渉計ミラー２０、および、第２の干渉計ミラー３０間に、複数の異なるギャップ長が設定される。 （もっと読む）

本発明による装置は、少なくとも２つの異なる測定モードで動作することができる対物レンズを備える。第１の干渉モードにおいて、測定対象物は、干渉光学測定法によって測定される。第２の画像化測定モードにおいて、光学画像が、たとえばカメラのような検出器アレイで生成され、画像処理ルーチンを施されてもよい。２つの測定モード間の切換えは、対物レンズの照明の種類と、干渉計の参照ビーム経路に配置されることが好ましく、用いられる光のスペクトル組成に応じて参照ビーム経路を動作状態または非動作状態にする素子と、によって行われる。このようにして、２つの測定モード間の簡単かつ迅速な切換えは、対物レンズの交換を必要とすることなく、または対物レンズの移動も必要とすることなく行われる。切換えの迅速さに加えて、干渉分光法によって生じた測定データと画像処理によって生じた測定データとの間の良好な相関が達成される。干渉分光法および画像処理によって生じた測定データは、全く同一の基準座標系で得られる。
（もっと読む）