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Fターム[2F065AA24]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定内容 (27,691) | 長さ;径;間隙;深さ (3,606) | 高さ (1,116)

Fターム[2F065AA24]に分類される特許

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【課題】有底の凹部の状態を非破壊で検査し、製造コストを低減させる。
【解決手段】本発明のウエハ50のビア孔51の検査方法は、有底のビア孔51が表面に形成されたウエハ50に被転写材料を塗布し、この被転写材料をビア孔51内に充填させ、被転写材料を硬化させた後、ウエハ50から離型させることでビア孔51がビア像71として転写されてなる被転写体70を形成する転写工程と、ビア像71の表面を観察することでその表面形状の画像データを作成する表面観察工程と、ビア像71の画像データに基づいてビア像71の形状を評価し、ビア孔51内の状態を検査する検査工程とを備えたところに特徴を有する。 (もっと読む)


【課題】ノイズ光が入射した場合に誤った計測が行われるのを防止して、計測の精度を確保する。
【解決手段】検出用の光を投光する投光部101と、投光された光に対する反射光を受光する受光部102と、変位を計測する計測処理部として機能するCPU10とを具備するセンサ1のCPU10に、受光量の変化を表すパラメータまたは受光量の増減に応じて調整される感度を示すパラメータの値があらかじめ定めた許容範囲に入るか否かを判別する判別手段の機能を付与する。CPU10は、判別対象のパラメータの値が許容範囲に入っていると判別した場合には、計測処理を行って結果を出力するが、判別対象のパラメータの値が許容範囲を逸脱すると判別した場合には、計測結果が出力されないように制御する。 (もっと読む)


【課題】トレンチ幅が照明光の波長と同程度の高アスペクト比のトレンチの深さを測定できるトレンチ深さ測定装置を実現する。
【解決手段】照明光学系は、ライン状の照明ビームを発生する光源装置1〜4及びライン状の照明ビームを前記試料に向けて投射する対物レンズ6を有し、光源装置と対物レンズとの間の瞳位置にトレンチの長手方向と平行なライン状の瞳パターンを形成する。ライン状の瞳パターンは対物レンズを介してトレンチが形成されている試料表面7にトレンチと交差するようにライン状の照明エリアを形成する。また、照明光として直線偏光した照明光を用い、その電界ベクトルの方向は、トレンチの長手方向に対してほぼ平行に設定する。直線偏光した照明光の電界ベクトルの方向をトレンチの長手方向に設定することにより、トレンチにおける光損失が減少し、トレンチの内部に照明光を進入させることでき、高精度な深さ測定が可能になる。 (もっと読む)


【課題】移動体が移動する際の安全を確保するための画像処理装置を提供する。
【解決手段】移動体の予測軌道と、三次元モデルにおける移動体の位置及び大きさと、三次元モデルにおける立体物の大きさ及び位置とに基づいて、三次元モデルにおいて予測軌道上で移動体が立体物に接触するか否か判定する接触判定部260を備える。また、ステレオカメラの画像に基づいて距離を測定し、立体物の位置及び大きさを算出する。さらに、算出した横幅の接触量に基づいて予測軌道を変更した上で接触するか否か判定する。 (もっと読む)


【課題】電子部品の電極の導電性積層膜の膜厚を安価な装置で高速に測定する。
【解決手段】絶縁膜1上に上下に積層された導電層2,3(積層膜、例えばNi層およびその上のAu層)からなる半導体基板の電極に対して、段差を触針で測る場合やレーザ光を用いる場合など公知の方法で導電層2,3の厚さ(電極高さ)を測定するステップと、4端針法により電極の表面抵抗を測定するステップとを有し、二つのステップから得られた積層膜の膜厚(電極高さ)と表面抵抗値から、上下に積層した導電層2,3からなる電極の上部皮膜である導電層3の膜厚を計算式から算出する。 (もっと読む)


【課題】被測定物に対する面方向の分解能や測定位置の変更を容易に行うことができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】光源10と、光源10からの光を2つの光束に分割して、一方の光束を被測定物Tに照射し、他方の光束を参照ミラー40に照射させると共に、これらから反射された光を合波させるスプリッタ20と、スプリッタ20によって合波された光により得られる画像を撮像するCCD50と、2つの傾き状態に制御される複数の微小ミラーを有するDMDと、複数の微小ミラーを制御して被測定物Tや参照ミラー40への照射光等を絞り込み、その状態で撮像された画像に基づき、測定点の高さを測定する制御手段と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】位相シフト法を利用した三次元計測を行うにあたり、より高精度な計測を実現することのできる三次元計測装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置1は、プリント基板2に対し縞状の光パターンを照射する照射装置4A,4Bと、これを撮像するカメラ5と、撮像された画像データを基に三次元計測を行う制御装置6とを備えている。制御装置6は、第1照射装置4Aから第1光パターンを照射して得られた画像データを基に第1計測値を取得し、第2照射装置4Bから第2光パターンを照射して得られた画像データを基に第2計測値を取得する。そして、両光パターンが照射される全照射領域に関しては、両計測値から特定される値を当該領域の高さデータとし、いずれか一方のみ照射される一部照射領域に関しては、前記全照射領域の高さデータから算出した補完データを基に当該領域に係る計測値の縞次数を特定し、当該領域に係る高さデータを取得する。 (もっと読む)


【課題】画像データに対する計測記録データを容易に作成することができる端末装置、画像処理方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】記憶部140は、画像データ内の第1座標範囲と、第1座標範囲に関する第1計測値データと、が関連付けられた第1画像データを保持する。制御部150は、第2画像データ内の第2座標範囲をユーザの指定に応じて取得する。解析部160は、第1座標範囲の画像パターンと第2座標範囲の画像パターンを比較し、比較結果及び第1計測値データに基づいて、第2座標範囲に関する第2計測値データを算出する。 (もっと読む)


【課題】製造現場で使われる汎用的な組み込み装置でも実施できるような、少ない計算コストで物品の3次元位置姿勢を認識できる認識装置及び認識方法の提供。
【解決手段】カメラ20で複数の物品22がバラ積みされた領域全体の2次元画像を取得し、レンジセンサ18でカメラ20と略同じ領域の3次元情報を取得する。取得した3次元情報から、取り出すべき物品が存在するであろう空間を対象空間として大まかに限定し、該対象空間に基づいて2次元画像処理で物品を探索するための探索条件を設定し、該探索条件に基づいて物品の画像上での2次元位置情報を取得する。次に該2次元位置情報を用いて、物品の3次元位置姿勢の認識に使用する3次元点データを選定し、カメラ20の焦点から該物品に向かう3次元空間上の視線を計算し、該3次元点データと視線とに基づいて物品の3次元の位置姿勢を計算する。 (もっと読む)


【課題】露光前に基板の裏面洗浄を行う機能を備えた基板処理システムにおいて、基板処理の歩留まりを向上させる。
【解決手段】露光装置で露光処理を行う前に、露光装置における基板のフォーカスの状態を検査する検査ユニット100であって、ウェハWを、露光装置で露光処理される際と同じ条件で裏面から吸着保持するウェハ保持台141と、ウェハ保持台141に吸着保持されたウェハWにおける厚み方向の高さを測定する高さ測定機構150と、を有している。 (もっと読む)


【課題】解体対象を固定している固定部材の位置の検出精度を高めること。
【解決手段】解体対象を撮像した撮像画像から、前記解体対象を固定している固定部材の画像として予め決められている固定部材画像を検出する固定部材画像検出部と、前記固定部材画像検出部により検出された前記固定部材画像の位置を示す位置情報を算出する位置情報取得部と、前記解体対象を固定している複数の前記固定部材の予め決められた位置関係を示す配置パターンと前記位置情報とに基づき、前記固定部材画像検出部によって検出された前記固定部材画像が前記配置パターンに含まれる前記複数の固定部材に対応するか否かを判定する配置パターン対応確認部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】樹脂製保持器に対して高精度に欠陥等を検出することができる樹脂製保持器の欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】転動体7が保持されるポケット8を周方向に沿って複数個有する樹脂製保持器1の欠陥を検査する。樹脂製保持器1をその軸心廻りに回転駆動させつつ、樹脂製保持器1のアキシャル方向及び/又はラジアル方向の変位を検出し、この変位量に基づいて良品判定を行う。 (もっと読む)


【課題】毛髪表面の断面形状(表面輪郭形状)、毛髪表面の段差を高精度に測定できる形状測定装置の実現。
【解決手段】測定すべき毛髪に向けて走査ビームを投射する対物レンズ13を含み、毛髪からの反射光を受光して毛髪表面の共焦点画像を撮像する共焦撮像装置と、複数の毛髪を、その長手軸線方向であるX軸方向に支持すると共にX軸と直交するY軸方向そって所定の間隔で整列支持する毛髪支持手段15と、X軸方向及びY軸方向に移動可能で、前記毛髪支持手段を支持するステージ14とその駆動手段と、対物レンズとステージとの間の相対距離を変化させる手段16と、共焦点撮像装置から出力される画像信号に基づき、毛髪表面の断面画像情報及び/又は毛髪表面に存在する段差の大きさを示す段差情報を出力する信号処理装置10とを有する。ステージは、測定される毛髪の本数及び測定点の座標情報に基づき、ジグザグ状に設定された移動経路に沿って移動する。 (もっと読む)


【課題】従来の標高計算は局所領域のミスマッチングによる誤差が生じ、精度の高い標高情報が得られず、多大な処理時間がかかるという問題点がある。
【解決手段】カラーフィルタ基板上の局所領域の標高をステレオ方式で算出し欠陥判定をする欠陥検査方法において、ステレオ画像の一方の撮像画像である基本画像から局所領域を検出する工程、ステレオ画像の他方の撮像画像であって局所領域を含む参照画像を取得する工程、局所領域を含むマッチング領域をステレオ画像から選定する工程、マッチング領域から基準マークとなる部位を選定する工程、局所領域を鮮明化する工程、鮮明化された局所領域の中心座標を求め、基準マークからの距離を算出する工程、基本画像と参照画像における局所領域間の視差を求める工程、局所領域の標高を算出する工程、とを含むことを特徴とするカラーフィルタ基板の欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】被接合部材の目違いが生じたとしても、接合不良の発生を防止可能な摩擦撹拌接合装置を提供する。
【解決手段】被接合部材W1同士を接合する摩擦撹拌接合装置1であって、被接合部材W1同士の接合を行なう工具11を保持する工具保持部12と、工具11による接合方向の前方に設けられ、被接合部材W1の接合箇所の表面を押圧する押圧手段13と、押圧手段13と工具11との間における被接合部材W1同士の目違いを検出する目違い検出手段17とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】レーザー走査装置により三次元測定対象物の形態を正しく測量し、調査する。
【解決手段】三次元測定対象物の形態調査方法であって、レーザー走査装置が調査範囲にレーザーを照射したとき、該レーザーの多数の反射点の各点を、三次元座標化された点として取得し、前記調査範囲の水平面上に多数のグリッドを派生させ、各グリッドの中にある点群の鉛直座標分布から標高値の最も低い低位点を抽出し、各グリッドで抽出された低位点を用いて調査範囲の地形モデルを作成する。 (もっと読む)


【課題】インラインで連続的に正確な検出が行え、また非接触にもかかわらずコストの増加の少ないケーブルの片撚り検出方法を提供する。
【解決手段】一対のコア10a,10bを移動させながら対撚りしてケーブル11を作製する際にインラインで連続的に片撚りを検出するケーブルの片撚り検出方法であって、ケーブル11における対撚りの山12の高さを光透過型光電センサ13a,13bで非接触にて検出することにより対撚り周期を求め、その対撚り周期の変化に基づいて片撚りの発生を検出するものである。 (もっと読む)


【課題】コヒーレンス走査干渉計及びこのコヒーレンス走査干渉計を用いた物体の高さ形状測定するための方法に対して、測定精度や測定特性の再現性に関する改良を行なうことである。
【解決手段】光源2と、干渉計と、経路長変更ユニットと、検出面を有するカメラ3とが備えられている。経路長変更ユニットは、測定ビームと基準ビームの光路長を変更するように構成されている。経路長変更ユニットは、経路目盛11と経路検出器12とを有しており、経路目盛11と経路検出器12とは、経路長変更ユニットによる測定ビームの光路長変更または基準ビームの光路長変更あるいはその両方の光路長変更の際に、経路検出器12の同期的な動きが経路目盛11に対して相対的に行なわれるように構成されている。 (もっと読む)


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