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Fターム[2F065AA65]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定内容 (27,691) | 変形 (515)

Fターム[2F065AA65]に分類される特許

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【課題】1本の伝送路で複数本の光ファイバを使用する状況においても、光スイッチを用いることなく、複数本の光ファイバのFBGセンサを計測可能なFBGセンサの多点計測方法および装置を提供する。
【解決手段】FBGセンサの多点計測装置において、コアに回折格子を形成した光ファイバ4と、広帯域波長光源9と、この光源からの光のうち、光ファイバ4に入射する光の時間を制御する光源側光変調器10と、この光変調器からの出射光を入射して、光ファイバ4の回折格子からの反射光を透過する時間を制御する検出側光変調器12と、この光変調器からの反射光を検出して得られた信号を処理して光ファイバ4からの信号を分離する波長移動量算出器14と、この算出器の結果から被測定物の変形量を算出する温度・歪み算出器15と、この被測定物の変形量に関する情報を表示する表示部16とを有する。 (もっと読む)


【課題】ゴム試験片の接触面形状を得るとともに接触面内の歪み分布を算出することで、ゴム試験片の摩擦摩耗特性を適切に評価できるゴム摩擦試験方法及びゴム摩擦試験装置を提供する。
【解決手段】本発明のゴム摩擦試験方法は、ドーナツ状のゴム試験片1の外周面11に画像解析用パターン13を形成するパターン形成工程と、ゴム試験片1の外周面11を、円筒部21が透明材料で形成された回転式ドラム2に接触させつつ、ゴム試験片1及び回転式ドラム2を回転させる摩擦試験工程と、摩擦試験工程と同時に、外周面11を円筒部21を通して撮影して外周面画像11Pを取得する画像取得工程と、取得した外周面画像11Pからゴム試験片1の接触面形状を得るとともに、外周面画像11Pに含まれる画像解析用パターン13に基いてゴム試験片1の接触面内の歪み分布を算出することにより、ゴム試験片1の摩擦摩耗特性を評価する評価工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】光干渉信号出力をセンサ信号とするセンサには、構成が簡単で、センサ部分の無電源化が可能なホモダイン干渉方式があるが、安定な動作を得るには、使用部品に対し厳しい工作精度と熱膨張対策が必要であると共に、センサ信号として変動できる位相範囲は±90度以内に限られていた。
【解決手段】干渉計の入力を周期性光パルスとし、参照光パルスの前半と後半で位相を90度(直交位相)異なる位相とし、計測光パルスと干渉させることにより、90度異なる2つの干渉出力値i1、i2を得て、その参照光と計測光の値r、sとから、参照光と計測光の位相差をθとして、2つの余弦値cosθ1、cosθ2を算出して余弦曲線上に位置を定め、その角度θ1、θ2を求めることによって、干渉光の強度変動、位相動作点変動の影響を除外するとともに、1周期前との角度の差分を積算して、センサ出力とすることにより、センサ信号として変動できる位相範囲が、±90度(半波長)を超えることを許容する光ファイバセンサを提供する。 (もっと読む)


【課題】下水圧送管路内に走行させて堆積物等を除去する洗浄用ピグの走行位置を検出する場合、管路途中でピグが停止した場合は、その位置を正確に検出することが出来なかった。
【解決手段】下水圧送管路1の内壁面に、管路内を走行する洗浄用ピグ7が接触するようにセンサ用光ファイバ2を配設し、光学式温度センサ本体3からセンサ用光ファイバ2にパルス光を入射させ、センサ用光ファイバから出射される後方散乱光を測定系に導いてセンサ用光ファイバの長手方向の温度を測定し、ディスプレイ装置5に測定した温度情報を監視画面6として表示する。走行する洗浄用ピグ7がセンサ用光ファイバ2に接触して生じる摩擦により発生した熱の温度を光学式温度センサ本体で測定することにより、洗浄用ピグ7の走行位置を監視する。 (もっと読む)


【課題】所望位置へ簡単に配置でき安価に実施できるうえ、コンクリート構造物の歪や温度等を簡単に且つ正確に測定できるようにする。
【解決手段】光ファイバセンサ(1)は、光ファイバ(2)と、その周囲に配置された連続繊維(3)と、連続繊維(3)に含浸された結合剤とを備える。光ファイバ(2)は、長さ方向の中間部が、連続繊維(3)で製紐された紐体(5)により被覆してある。光ファイバ(2)には、紐体(5)で覆われた部位に1又は複数のFBG(9)が形成してある。光ファイバ(2)の端部をコンクリート構造物(14)の表面に取り出した状態で、コンクリート構造物(14)の内部に、光ファイバセンサ(1)の中間部を一体的に埋設する。取り出された光ファイバ(2)の端部に測定器(15)を接続して、コンクリート構造物(14)の歪や温度を測定する。 (もっと読む)


【課題】保持部材の第1の方向のたわみを検出する。
【解決手段】第1のイメージセンサは、中間転写ベルトの裏面に形成されたラダーパターンチャートの濃度を測定する。記憶部は、第1のイメージセンサと中間転写ベルトの裏面との間の距離と、この第1のイメージセンサの測定に係るラダーパターンチャートのコントラストとの対応関係を示す第1の関数を記憶する。制御部は、第1のイメージセンサにより測定されたラダーパターンチャートの濃度を用いて、ラダーパターンチャートにおいて隣り合う白領域と黒領域とのコントラストを算出する。制御部は、記憶部に記憶された第1の関数を用いて、算出されたコントラストに対応する距離を特定し、特定した距離を上述した白領域及び黒領域と中間転写ベルトの裏面との間の距離として用いて、中間転写ベルトの幅方向のたわみを検出する。 (もっと読む)


【課題】複数の検出用導光部材に光を好適に分配し得る光学式センサを提供する。
【解決手段】光学式センサは、光源10と、光源10に光学的に結合された光ファイバー20と、光ファイバー束40と、光ファイバー20から光ファイバー束40に光を分配する光分配部30と、光ファイバー束40によって導光された光を分離して検出する光分離検出器50を有している。光ファイバー束40は、複数の光ファイバー41A,41B,41C,41D,41E,41Fを有している。光ファイバー41A〜41Fは、それぞれ、物理化学状態に応じて光学特性が変化する特性検出部42A,42B,42C,42D,42E,42Fを有している。 (もっと読む)


【課題】所望位置へ簡単に配設でき安価に実施できるうえ、配管など被測定物の歪や温度等を長期にわたって正確に測定できるようにする。
【解決手段】光ファイバセンサ(1)は、光ファイバ(2)と、その周囲に配置された連続繊維(3)と、連続繊維(3)に含浸された結合剤とを備える。光ファイバ(2)は、中間部を連続繊維(3)で製紐された筒状の紐体(5)内に収容してある。紐体(5)の内周長は光ファイバ(2)の外周長よりも長く、一部が光ファイバ(2)の外周面に当接され、残部が紐体(5)の内周面同士で互いに当接してある。紐体(5)の外周面に、紐体(5)の長さ方向に延びた着座面(16)が形成してある。着座面(16)を被測定物(14)の表面へ当接した状態で、固定部材(17)で光ファイバセンサ(1)を被測定物(14)側へ押圧して固定する。光ファイバ(2)の端部に測定器(15)を接続して、被測定物(14)の歪や温度を測定する。 (もっと読む)


【課題】樹脂硬化に伴う樹脂の収縮は、接着部材のずれ、ゆがみ、片方の外れ、接着不良等の不具合が発生する場合がある。精密部品や光学部品の固定には小さな収縮率でも、光軸のずれなどが起りトラブルの原因となっている。
【解決手段】接着用樹脂を硬化させながら、その収縮を測定することにより樹脂の収縮率を把握する。収縮率が把握できると、あらかじめ樹脂収縮を加味して部品配置の設計が可能となる。また、原因を推察する上での基礎資料となり、トラブル解消が短縮される。 (もっと読む)


【課題】鏡面性を持つ試料の各位置の高さを正確に求めることができる技術を提供する。
【解決手段】撮像部2は、例えば所定のフレームレートで、試料Sの画像である試料画像を撮像する。輝線抽出部は、撮像部2により順次に撮像された試料画像から輝線を抽出し、所定の基準高さ及び基準傾きを示す基準輝線に対する各輝線のずれw(x)を求める。高さ算出部は、w(x)=2L・(d/dx)・d(x)+2sinθ・d(x)に、輝線抽出部により抽出された輝線のずれw(x)を代入することで、基準高さからの試料Sの高さd(x)を順次に算出する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の寿命に影響する熱歪(拘束歪)を容易に測定する。
【解決手段】歪測定装置は、コンピュータ1と、測定対象物の第1ステレオ画像PS1を生成する第1ステレオカメラ2と、第1ステレオカメラ2と離間した位置に配設され、測定対象物5の第2ステレオ画像PS2を生成する第2ステレオカメラ3と、測定対象物の温度分布を検出するサーモビュア4と、を備える。また、コンピュータ1は、第1ステレオ画像PS1及び第2ステレオ画像PS2から測定対象物の三次元形状を求めて、実歪εc(i,j)を求める実歪算出部12と、サーモビュア4によって検出された温度分布から熱自由歪εt(i,j)を求める熱自由歪算出部17と、実歪εc(i,j)から熱自由歪εt(i,j)を減じた差を、拘束歪εr(i,j)として求める拘束歪算出部18と、を備える。 (もっと読む)


【課題】ウェハエッジ部の幅広い位置変化にも追従することができる光学式検査装置及びエッジ検査装置を提供する。
【解決手段】ウェハ100の表面の欠陥を検査する表面検査装置300と、この表面検査装置300に対するウェハ100の搬送路に設けたウェハステージ210と、このウェハステージ210上のウェハ100のエッジ部を検査するエッジ検査部530と、このエッジ検査部530を当該エッジ検査部530の光軸に沿って移動させる移動装置650とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィ装置における改良型測定システムを提供する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付放射ビームを形成できるパターニングデバイスを支持する支持体と、基板を支持する基板テーブルと、パターン付放射ビームを基板のターゲット部分上に投影する投影システムと、測定システムであって、測定放射ビームを提供する測定放射システムと、リフレクタ間で測定ビームの一部分を反射する少なくとも2つのリフレクタと、リフレクタの1つを通して伝送される測定ビームの少なくとも一部分の波長を検出するディテクタとを備える測定システムと、を含む。 (もっと読む)


【課題】低コストで広い温度範囲に対応させることを実現したFBGひずみセンサを提供することを目的とする。
【解決手段】ひずみ量計測システム10は、計測用FBG21が設けられた第1の光ファイバ11と基準波長反射用FBG22が設けられた第2の光ファイバ12とを備えており、第1の光ファイバ11と第2の光ファイバ12とは、被計測部Waに固定された計測用FBG21の反射光を、固定用治具部材Wbに固定された基準波長反射用FBG22に入射可能となるように接続されている。計測用FBG21と基準波長反射用FBG22とは同様の格子間隔に加工されており、被計測部Waと固定用治具部材Wbとは、同じ材料から形成されている。また、光源13は広帯域の光を計測用FBG21に入射し、計測機15は、基準波長反射用FBG22の反射光の総光量に基づいて被計測部Waのひずみ量を計測する。 (もっと読む)


【課題】基板上にソルダーペーストを印刷するスキージのスキージング中における撓り状態を、精度良く検証することの可能な技術を提供する。
【解決手段】透明な平板材と、平板材の上面に接するようにスキージを保持し、スキージを平板材の上面に沿ってスキージングさせるスキージ駆動手段と、平板材の下方に配置されており、スキージング中のスキージを、平板材を透して撮像する撮像手段と、を備える。スキージのうち、スキージング中の進行方向側に面するスキージ面には、スキージの撓りに応じて変形する所定の模様が設けられている。 (もっと読む)


【課題】FBGファイバを用いて、物体上の温度と歪の連続的な分布を分離して同時に得ること。
【解決手段】本発明は、擬似ランダム符号で変調された出射光を、FBGファイバに送出する光源部と、FBGファイバから入射する応答光を、透過波形と反射波形とに分離する傾斜フィルタとダミーファイバとからなる光分離手段と、光分離手段にて分離した透過波形と反射波形を電気信号に変換する変換手段と、擬似ランダム符号と前記応答光との相関処理により、温度分布計測情報乃至歪分布計測情報を出力する解析手段とを備えたインタロゲータを用いた温度及び歪分布計測システムであって、FBGセンサは、全長に亘って一定ピッチのFBGが連続的、もしくは、所要の距離分解能を得るに十分な間隔で断続的に形成されたロングゲージFBGファイバとし、ダミーファイバの長さLdは、ロングゲージFBGファイバの長さLの2倍以上の長さに設定され、FBGセンサに沿った温度及び歪分布を計測するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】複合構造物の健全性を監視するシステム及び方法を提供する。
【解決手段】複合構造物10は、複合材料及び複合材料内に配置された光ファイバー16を含む。光ファイバー16は、光ファイバー16の非線形光学特性を高める複数の量子ドット18を含む。量子ドット18はコア内、金属被覆内、及び/又は光ファイバー16の表面上に配置することができる。光ファイバー16は、信号の伝播を支援し、複合材料内の欠陥を検出するように構成されている。量子ドット18は、複合材料内の欠陥に応じて、二次効果などの非線形効果を引き起こす。量子ドット18によってもたらされる非線形効果を含む信号の検出及び解析に基づいて、複合材料内の欠陥が検出されうる。 (もっと読む)


【課題】広帯域光源またはレーザ光でひずみ信号及びAE信号を計測し得るFBGセンサの計測方法及び計測装置を提供する。
【解決手段】FBGセンサ11に光を入力する広帯域光源13及び光ファイバアンプ14と、FBGセンサ11からの光を切替可能にする第一の光スイッチ16と、一方の光を光ファイバアンプ14に戻すアンプ側の光カプラ17と、第一の光スイッチ16の光とアンプ側の光カプラ17の光とを選択的に入射させる第二の光スイッチ18と、第二の光スイッチ18からの光を分割する計測側の光カプラ20と、計測側の光カプラ20で分割した一方の光を計測するブラッグ波長計測手段21と、計測側の光カプラ20で分割した他方の光を計測するAE計測用の光電変換器22とを備え、広帯域光源13と、光ファイバアンプ14のファイバリングレーザを選択可能にする。 (もっと読む)


【目的】本発明は、ひずみセンサの構築に際して、FBGの多重化に時間多重化方式を用いたFBG光ファイバセンシング技術を使用して構築し、FBG光ファイバ型ひずみセンサを高密度に配置することが出来るセンサとなし、もって高密度のひずみ分布を詳細に、正確に計測できるひずみセンサを提供することを目的とする。
【構成】複数のFBGにつき所定間隔をあけて1本の光ファイバ上に配置した1本のセンサ本線を複数本用意し、複数本のセンサ本線を長手方向に向かい平行に並べると共に、いずれかのセンサ本線に配置されたFBGと、該FBGに隣り合う他のいずれかのセンサ本線に配置されたFBGとの間隔を任意の間隔で密になしえ、密な間隔で配置されたFBGについてそれぞれひずみ計測を可能とした、ことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】トンネルをはじめとした構造物の内空変位を計測し、該構造物の変状を監視する技術を提供すること。とくに工事中のトンネルや地下鉱山のトンネルのように粉塵が浮遊している空間に対しても、広範囲にわたって内空変位を計測しモニタリングできる方法を提供すること。

【解決手段】計測対象となる構造物の内側に内空変位センサである梁の一端を固定し、当該梁の表面にひずみ計測が可能な装置を設置し、当該装置により計測されたひずみから、当該構造物の鉛直方向および水平方向の変位を算出する構造物内空変位計測方法
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